DE10123816A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Entfaltung von Abbildungsdaten - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Entfaltung von AbbildungsdatenInfo
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Abstract
Es ist ein Verfahren zur Entfaltung von Abbildungsdaten beschrieben, die in Schnitten unter Verwendung eines Abbildungssystems (10) erhalten werden. Das Verfahren umfasst die Auswahl eines Zielschnittempfindlichkeitsprofils und die Bestimmung eines Entfaltungskerns unter Verwendung des Zielschnittempfindlichkeitsprofils. Das Verfahren ermöglicht einem Abbildungssystembenutzer die Verwendung einer Singulärwertzerlegung zum Erreichen eines gewünschten Schnittempfindlichkeitsprofils durch eine Abbildungsdatenentfaltung. So werden Schnittdicken von unter 1 mm und eine verbesserte Bildauflösung ohne die Ausführung von Hardwaremodifikationen bei existierenden Abbildungssystemen erreicht.
Description
Die Erfindung betrifft allgemein die Tomographieabbildung
und insbesondere ein Verfahren und eine Vorrichtung zur
Entfaltung von Tomographie-Abbildungsdaten.
Bei zumindest einem bekannten Computertomographie-(CT-)
Abbildungssystemaufbau projiziert eine Röntgenquelle einen
fächerförmigen Strahl, der kollimiert ist, dass er in einer
X-Y-Ebene eines kartesischen Koordinatensystems liegt, die
allgemein als "Abbildungsebene" bezeichnet wird. Der
Röntgenstrahl fällt durch das abgebildete Objekt, wie einen
Patienten. Nachdem der Strahl durch das Objekt gedämpft
wurde, trifft er auf ein Array von
Strahlungserfassungseinrichtungen. Die Intensität der an
dem Erfassungsarray empfangenen gedämpften Strahlung hängt
von der Dämpfung des Röntgenstrahls durch das Objekt ab.
Jedes Erfassungselement des Arrays erzeugt ein separates
elektrisches Signal, das ein Maß der Strahldämpfung am
Erfassungsort ist. Die Dämpfungsmaße von allen
Erfassungseinrichtungen werden separat zur Erzeugung eines
Übertragungsprofils erfasst.
Bei bekannten CT-Systemen der dritten Generation drehen
sich die Röntgenquelle und das Erfassungsarray mit einem
Fasslager in der Abbildungsebene und um das abzubildende
Objekt, so dass sich der Winkel, an dem der Röntgenstrahl
das Objekt schneidet, konstant ändert. Eine Gruppe von
Röntgendämpfungsmaßen, d. h. Projektionsdaten, von dem
Erfassungsarray bei einem Fasslagerwinkel wird als
"Ansicht" bezeichnet. Eine "Abtastung" des Objekts umfasst
einen Satz von Ansichten bei verschiedenen Fasslagerwinkeln
oder Ansichtwinkeln während eine Umdrehung der
Röntgenquelle und der Erfassungseinrichtung. Bei einer
axialen Abtastung werden die Projektionsdaten zur
Ausbildung eines Bildes verarbeitet, das einem
zweidimensionalen Schnitt durch das Objekt entspricht. Ein
Verfahren zur Rekonstruktion eines Bildes aus einem Satz
von Projektionsdaten wird im Stand der Technik als
gefiltertes Rückprojektionsverfahren bezeichnet. Bei diesem
Verfahren werden die Dämpfungsmaße von einer Abtastung in
ganze Zahlen, sogenannte "CT-Zahlen" oder "Hounsfield-
Einheiten" umgewandelt, die zur Steuerung der Helligkeit
eines entsprechenden Bildelements auf einer
Kathodenstrahlröhrenanzeigeeinrichtung verwendet werden.
Bei bekannten CT-Systemen wird der Röntgenstrahl von der
Röntgenquelle durch einen Vorpatientenkollimator
projiziert, der das Röntgenstrahlprofil in der
Patientenachse bzw. Z-Achse definiert. Der Kollimator
beinhaltet typischer Weise Röntgenstrahlen-absorbierendes
Material mit einer Apertur darin zur Begrenzung des
Röntgenstrahls.
CT-Abbildungssysteme liefern typischerweise eine
Bildauflösung innerhalb Grenzen, die durch Faktoren wie die
Kollimatoraperaturgröße und die Schnittdicke gegeben sind.
Die minimale Schnittdicke für zumindest ein CT-System
beträgt 1,25 mm, was primär durch die
Erfassungselementabstandgröße bestimmt ist. Zur
Verbesserung der Bildauflösung sollte die Schnittdicke auf
weniger als 1 mm verringert werden, und diese Verringerung
sollte mit minimaler Auswirkung auf die
Abbildungssystemhardware erreicht werden.
Die Verringerung der Schnittdicke durch die Entfaltung von
Tomographieabbildungsdaten bspw. Projektionsdaten oder
Bilddaten zur Verringerung des Halbhöhenspitzenbreiten-
(FWHM-)Intervalls eines rekonstruierten Schnittprofils ist
bekannt. Es ist auch bekannt, dass die
Singulärwertzerlegung (SVD) ein
Matrixtransformationsverfahren ist, und zum Erhalten einer
Pseudoinversen zur Durchführung einer Datenentfaltung
verwendet werden kann. Die SVD ist wie folgt beschrieben.
Eine n × 1-Matrix P stelle ein CT-System-
Schnittempfindlichkeitsprofil (SSP) dar. Die Matrix A
stelle eine n × n-Zirkulär-Verschiebungsmatrix dar und wird
aus P unter Verwendung folgender Beziehung hergeleitet:
wobei ai,j Elemente von A und pk Elemente von P sind. Es ist
bekannt, dass durch die SVD die Matrix A in ein Produkt aus
einer orthogonalen n × n-Spaltenmatrix U, einer diagonalen
n × n-Matrix W und der Transponierten einer orthogonalen
n × n-Matrix V transformiert wird, d. h. unter Verwendung
folgender Beziehung:
A = UWVT
Hier wird eine n × n-Matrix zur Darstellung von A
verwendet. Allgemein könnte A eine n × m-Matrix, U eine n ×
l-Matrix, V eine m × l-Matrix und W eine l × l-Matrix sein.
Zur Erleichterung der Darstellung wird hier eine n × n-
Matrix verwendet.
Eine n × n-Entfaltungskern-Matrix D wird unter Verwendung
folgender Beziehung erhalten:
D = VW' UT
wobei W' aus W unter Verwendung folgender Beziehung
bestimmt wird:
wobei α ein Regulierungsparameter und t ein Schwellenwert
ist. Ein Entfaltungskern wird aus der Matrix D erhalten.
Der Kern ist die Mittenspalte von D und hat somit die
Dimension (n, 1). Der Kern wird bei der
Abbildungsdatenentfaltung zur Reduzierung des FWHM des
Abbildungssystem-Schnittempfindlichkeitsprofils angewendet.
Hier wird lediglich die Mittenspalte für eine effektive
Berechnung verwendet. Allgemein kann die gesamte Matrix zur
Entfaltung verwendet werden.
Der vorstehend beschriebene Ansatz beinhaltet allerdings
die Annahme, dass das Schnittempfindlichkeitsprofil SSP,
eine verteilte Punktfunktion, als δ-(Impuls-)Funktion zu
rekonstruieren ist. Die unflexible Matrixinvertierung lässt
wenn überhaupt wenig Raum zur Korrektur dieser Annahme, die
bei vielen Abbildungsanwendungen zu einer suboptimalen
Abbildung führt. Es ist erwünscht, SVD-Ergebnisse und somit
die Bildqualität zu verbessern. Die SVD sollte auch bei der
Abbildungsdatenentfaltung allgemeiner angewendet werden
können.
Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist ein Verfahren zur
Entfaltung von Abbildungsdaten ausgestaltet, die in
Schnitten unter Verwendung eines Abbildungssystems erhalten
werden, wobei das Verfahren die Auswahl eines
Zielschnittempfindlichkeitsprofils und die Bestimmung eines
Entfaltungskerns unter Verwendung des
Zielschnittempfindlichkeitsprofils umfasst. Das Verfahren
ermöglicht einem Abbildungssystembenutzer die Anwendung der
Singulärwertzerlegung zum Erreichen eines gewünschten
Schnittempfindlichkeitsprofils über die
Abbildungsdatenentfaltung. So werden eine Schnittdicke von
unter lmm und eine verbesserte Bildauflösung ohne
Modifizierung der Hardware in vorhandenen
Abbildungssystemen erreicht.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines
Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme auf die Zeichnung
näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 eine bildliche Darstellung eines CT-
Abbildungssystems und
Fig. 2 ein schematisches Blockschaltbild des in Fig. 1
dargestellten Systems.
In den Fig. 1 und 2 ist ein
Computertomographie-(CT-)Abbildungssystem 10 gezeigt, das
ein Fasslager 12 enthält, das eine CT-Abtasteinrichtung der
dritten Generation darstellt. Das Fasslager 12 weist eine
Röntgenquelle 14 auf, die Röntgenstrahlen 16 in Richtung
eines Erfassungsarrays 18 auf der gegenüberliegenden Seite
des Fasslagers 12 projiziert. Das Erfassungsarray 18 wird
durch Erfassungselemente 20 gebildet, die zusammen die
projizierten Röntgenstrahlen erfassen, die durch ein Objekt
22, bspw. einen medizinischen Patienten, hindurchfallen.
Das Erfassungsarray 18 kann in einem Einfachschnitt- oder
Mehrfachschnittaufbau hergestellt sein. Jedes
Erfassungselement 20 erzeugt ein elektrisches Signal, das
die Intensität eines auftreffenden Röntgenstrahls und somit
die Dämpfung des Strahls darstellt, wenn er durch den
Patienten 22 hindurchfällt. Während einer Abtastung zur
Erfassung der Röntgenprojektionsdaten drehen sich das
Fasslager 12 und die daran angebrachten Komponenten um
einen Drehmittelpunkt 24.
Die Drehung des Fasslagers 12 und der Betrieb der
Röntgenquelle 14 werden durch eine Steuereinrichtung 26 des
CT-Systems 10 gesteuert. Die Steuereinrichtung 26 enthält
eine Röntgensteuereinrichtung 28, die die Röntgenquelle 14
mit Energie- und Zeitsignalen versorgt, und eine
Fasslagermotorsteuereinrichtung 30, die die
Drehgeschwindigkeit und Position des Fasslagers 12 steuert.
Ein Datenerfassungssystem (DAS) 32 in der Steuereinrichtung
26 tastet analoge Daten von den Erfassungselementen 20 ab
und wandelt die Daten in digitale Signale zur nachfolgenden
Verarbeitung um. Eine Blidrekonstruktionseinrichtung 34
empfängt abgetastete und digitalisierte Röntgendaten vom
DAS 32 und führt eine Bildrekonstruktion hoher
Geschwindigkeit durch. Das rekonstruierte Bild wird einem
Computer 36 als Eingangssignal zugeführt, der das Bild in
einer Massenspeichereinrichtung 38 speichert.
Der Computer 36 empfängt auch Befehle und Abtastparameter
von einem Bediener über eine Konsole 40, die eine Tastatur
aufweist. Eine zugehörige
Kathodenstrahlröhrenanzeigeeinrichtung 42 ermöglicht dem
Bediener die Überwachung des rekonstruierten Bildes und
anderer Daten vom Computer 36. Die vom Bediener zugeführten
Befehle und Parameter werden vom Computer 36 zur Ausbildung
von Steuersignalen und Informationen für das DAS 32, die
Röntgensteuereinrichtung 28 und die
Fasslagermotorsteuereinrichtung 30 verwendet. Außerdem
bedient der Computer 36 eine Tischmotorsteuereinrichtung
44, die einen motorisierten Tisch 46 zur Positionierung des
Patienten 22 im Fasslager 12 steuert. Insbesondere bewegt
der Tisch 46 Abschnitte des Patienten 22 durch eine
Fasslageröffnung 48.
Gemäß einem Ausführungsbeispiel werden Abbildungsdaten,
bspw. Projektionsdaten, in Schnitten aus der Abtastung
eines Objekts 22 durch das Abbildungssystem 10 erhalten.
Ein Ausführungsbeispiel des Verfahrens zur Entfaltung von
Abbildungsdaten des Objekts 22 beinhaltet die Auswahl eines
gewünschten bzw. Zielschnittempfindlichkeitsprofils, bspw.
einer Gauß-Funktion mit einem gewünschten
Halbhöhenspitzenbreitenintervall. Dann wird ein
Entfaltungskern unter Verwendung des
Zielschnittempfindlichkeitsprofils bestimmt.
Insbesondere wird eine n × 1-Matrix Q zur Darstellung des
Zielschnittempfindlichkeitsprofils ausgewählt. P sei eine n
× 1-Matrix, die das Schnittempfindlichkeitsprofil SSP des
CT-Systems 10 darstellt. Die Matrix A stellt eine n × n-
Zirkulär-Verschiebungsmatrix dar und wird aus P unter
Verwendung folgender Beziehung hergeleitet:
wobei ai,j Elemente von A und pk Elemente von P sind. Es ist
bekannt, dass durch die Singulärwertzerlegung (SVD) die
Matrix A in ein Produkt aus einer orthogonalen n × n-
Spaltenmatrix U, einer diagonalen n × n-Matrix W und der
Transponierten einer orthogonalen n × n-Matrix V, d. h.
unter Verwendung folgender Beziehung, transformiert wird:
A = VWVT
Gemäß einem Ausführungsbeispiel wird ein Entfaltungskern R
unter Verwendung folgender Beziehung bestimmt:
R = VW' UTQ
wobei Q die n × 1-Matrix ist, die das
Zielschnittempfindlichkeitsprofil darstellt, und U, V und
W' die über die Singulärwertzerlegung wie vorstehend
beschrieben auf die Matrix A bezogenen Matrizen sind. Der
Kern R ist eine n × 1-Matrix. Gemäß einem anderen
Ausführungsbeispiel wird R zur Bewahrung der CT-Zahl-
Genauigkeit normalisiert, um bspw. eine Matrix RN unter
Verwendung folgender Beziehung zu erhalten:
wobei Ri Elemente von R sind. Die Abbildungsdaten werden
dann unter Verwendung des Entfaltungskerns, bspw. des
normalisierten Entfaltungskerns RN entfaltet.
Die vorstehend beschriebenen Berechnungen sind gemäß einem
Ausführungsbeispiel im Computer 36 implementiert. Bei einem
anderen Ausführungsbeispiel wird ein (nicht gezeigter)
anderer Computer zur Durchführung dieser Berechnungen
verwendet. Das vorstehend beschriebene Verfahren ist zur
Entfaltung von Projektionsdaten implementiert, und wird bei
einem anderen Ausführungsbeispiel zur Entfaltung von
Bilddaten, bspw. von gefilterten und rückprojizierten Daten
verwendet. Des Weiteren kann die Erfindung neben CT-
Abbildungssystemen auch bei anderen Abbildungssystemen
angewendet werden.
Die Anwendung des vorstehend beschriebenen Verfahrens
verbessert die Leistung und Flexibilität der
Eigenwertzerlegung, wenn sie mit der
Abbildungsdatenentfaltung angewendet wird. Das vorstehend
beschriebene Verfahren ermöglicht dem
Abbildungssystembenutzer den Erhalt eines gewünschten
rekonstruierten Schnittempfindlichkeitsprofils. Somit wird
die Schnittdicke auf unter lmm verringert, und die
Bildauflösung wird ohne Erhöhung der Hardwarekosten
verbessert.
Obwohl bestimmte Ausführungsbeispiele der Erfindung
beschrieben wurden, ist klar ersichtlich, dass dies
lediglich der Veranschaulichung dient und nicht als
Einschränkung verstanden werden kann. Außerdem ist das hier
beschriebene CT-System ein System der dritten Generation,
bei dem sich sowohl die Röntgenquelle als auch die
Erfassungseinrichtung mit dem Fasslager drehen. Viele
andere CT-Systeme, einschließlich Mehrfachschnittsysteme
und Systeme der vierten Generation können verwendet werden,
bei denen die Erfassungseinrichtung eine stationäre
Vollringerfassungseinrichtung ist und sich lediglich die
Röntgenquelle mit dem Fasslager dreht.
Vorstehend ist ein Verfahren zur Entfaltung von
Abbildungsdaten beschrieben, die in Schnitten unter
Verwendung eines Abbildungssystems erhalten werden. Das
Verfahren umfasst die Auswahl eines
Zielschnittempfindlichkeitsprofils und die Bestimmung eines
Entfaltungskerns unter Verwendung des
Zielschnittempfindlichkeitsprofils. Das Verfahren
ermöglicht einem Abbildungssystembenutzer die Verwendung
einer Singulärwertzerlegung zum Erreichen eines gewünschten
Schnittempfindlichkeitsprofils durch eine
Abbildungsdatenentfaltung. So werden Schnittdicken von
unter lmm und eine verbesserte Bildauflösung ohne die
Ausführung von Hardwaremodifikationen bei existierenden
Abbildungssystemen erreicht.
Claims (20)
1. Verfahren zur Entfaltung von Abbildungsdaten, die in
Schnitten unter Verwendung eines Abbildungssystems (10)
erhalten werden, mit den Schritten
Auswählen eines Zielschnittempfindlichkeitsprofils und
Bestimmen eines Entfaltungskerns unter Verwendung des Zielschnittempfindlichkeitsprofils.
Auswählen eines Zielschnittempfindlichkeitsprofils und
Bestimmen eines Entfaltungskerns unter Verwendung des Zielschnittempfindlichkeitsprofils.
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Auswahl des
Zielschnittempfindlichkeitsprofils den Schritt der Auswahl
einer Gaußfunktion mit einem gewünschten
Halbhöhenspitzenbreitenintervall umfasst.
3. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Bestimmung des
Entfaltungskerns unter Verwendung des
Zielschnittsempfindlichkeitsprofils den Schritt der
Bestimmung eines Entfaltungskerns unter Verwendung eines
Systemschnittempfindlichkeitsprofils und einer
Singulärwertzerlegung umfasst.
4. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Bestimmung des
Entfaltungskerns unter Verwendung des
Zielschnittsempfindlichkeitsprofils den Schritt der
Bestimmung eines Entfaltungskerns R unter Verwendung
folgender Beziehung umfasst:
R = VW' UTQ
wobei U, V und W aus einem Schnittempfindlichkeitsprofil unter Verwendung einer Singulärwertzerlegung bestimmte Matrizen sind, V eine orthogonale n × n-Matrix, W' eine diagonale n × n-Matrix, U eine orthogonale n × n- Spaltenmatrix, und Q eine n × 1-Matrix ist, die das Zielschnittempfindlichkeitsprofil darstellt.
R = VW' UTQ
wobei U, V und W aus einem Schnittempfindlichkeitsprofil unter Verwendung einer Singulärwertzerlegung bestimmte Matrizen sind, V eine orthogonale n × n-Matrix, W' eine diagonale n × n-Matrix, U eine orthogonale n × n- Spaltenmatrix, und Q eine n × 1-Matrix ist, die das Zielschnittempfindlichkeitsprofil darstellt.
5. Verfahren nach Anspruch 4, wobei U, V und W' folgende
Beziehung haben:
A = UWVT
wobei A eine zirkuläre Verschiebungsmatrix ist, die aus einem Schnittempfindlichkeitsprofil hergeleitet ist, und
A = UWVT
wobei A eine zirkuläre Verschiebungsmatrix ist, die aus einem Schnittempfindlichkeitsprofil hergeleitet ist, und
6. Verfahren nach Anspruch 5, ferner mit dem Schritt der
Bestimmung von A unter Verwendung folgender Beziehung:
wobei ai,j Elemente von A und pk Elemente einer Matrix sind, die ein Systemschnittempfindlichkeitsprofil darstellt.
wobei ai,j Elemente von A und pk Elemente einer Matrix sind, die ein Systemschnittempfindlichkeitsprofil darstellt.
7. Verfahren nach Anspruch 4, wobei R eine n × 1-Matrix
ist, und das Verfahren den weiteren Schritt der
Normalisierung von R zum Erhalten einer normalisierten
Matrix RN unter Verwendung folgender Beziehung umfasst:
wobei Ri Elemente von R sind.
wobei Ri Elemente von R sind.
8. Verfahren nach Anspruch 7, ferner mit dem Schritt der
Entfaltung der Abbildungsdaten unter Verwendung der
normalisierten Matrix RN als Entfaltungskern.
9. Abbildungssystem (10), das dazu eingerichtet ist
Schnitte von Abbildungsdaten eines Objekts (22) zu erhalten,
einen Entfaltungskern unter Verwendung eines Zielschnittempfindlichkeitsprofils zu bestimmen und
die Abbildungsdaten unter Verwendung des Entfaltungskerns zu entfalten.
Schnitte von Abbildungsdaten eines Objekts (22) zu erhalten,
einen Entfaltungskern unter Verwendung eines Zielschnittempfindlichkeitsprofils zu bestimmen und
die Abbildungsdaten unter Verwendung des Entfaltungskerns zu entfalten.
10. System (10) nach Anspruch 9, das zur Bestimmung des
Entfaltungskerns unter Verwendung des
Zielschnittempfindlichkeitsprofils zur Verwendung einer
Gaußfunktion mit einem gewünschten
Halbhöhenspitzenbreitenintervall als
Zielschnittempfindlichkeitsprofil eingerichtet ist.
11. System (10) nach Anspruch 9, das zur Bestimmung des
Entfaltungskerns unter Verwendung des
Zielschnittempfindlichkeitsprofils zur Bestimmung eines
Entfaltungskerns unter Verwendung eines
Systemschnittempfindlichkeitsprofils und einer
Singulärwertzerlegung eingerichtet ist.
12. System (10) nach Anspruch 9, das zur Bestimmung des
Entfaltungskerns unter Verwendung des
Zielschnittempfindlichkeitsprofils zur Bestimmung eines
Entfaltungskerns R unter Verwendung folgender Beziehung
eingerichtet ist:
R = VW' UTQ
wobei U, V und W Matrizen sind, die aus einem Schnittempfindlichkeitsprofil unter Verwendung einer Singulärwertzerlegung bestimmt sind, V eine orthogonale n × n-Matrix, W' eine diagonale n × n-Matrix, U eine orthogonale n × n-Spaltenmatrix und Q eine n × 1-Matrix ist, die das Zielschnittempfindlichkeitsprofil darstellt.
R = VW' UTQ
wobei U, V und W Matrizen sind, die aus einem Schnittempfindlichkeitsprofil unter Verwendung einer Singulärwertzerlegung bestimmt sind, V eine orthogonale n × n-Matrix, W' eine diagonale n × n-Matrix, U eine orthogonale n × n-Spaltenmatrix und Q eine n × 1-Matrix ist, die das Zielschnittempfindlichkeitsprofil darstellt.
13. System (10) nach Anspruch 12, wobei U, V und W'
folgende Beziehung haben:
A = UWVT
wobei A eine zirkuläre Verschiebungsmatrix ist, die aus einem Schnittempfindlichkeitsprofil hergeleitet ist, und
A = UWVT
wobei A eine zirkuläre Verschiebungsmatrix ist, die aus einem Schnittempfindlichkeitsprofil hergeleitet ist, und
14. System (10) nach Anspruch 13, das ferner zur Bestimmung
von A unter Verwendung folgender Beziehung eingerichtet
ist:
wobei ai,j Elemente von A und pk Elemente einer Matrix sind, die ein Systemschnittempfindlichkeitsprofil darstellt.
wobei ai,j Elemente von A und pk Elemente einer Matrix sind, die ein Systemschnittempfindlichkeitsprofil darstellt.
15. System (10) nach Anspruch 12, wobei R eine n × 1-Matrix
ist, und das System ferner zur Normalisierung von R zum
Erhalten einer normalisierten Matrix RN unter Verwendung
folgender Beziehung eingerichtet ist:
wobei Ri Elemente von R sind.
wobei Ri Elemente von R sind.
16. System (10) nach Anspruch 15, das ferner zur Entfaltung
der Abbildungsdaten unter Verwendung der normalisierten
Matrix RN als Entfaltungskern eingerichtet ist.
17. Verfahren zur Erzeugung von Abbildungsdaten eines
Objekts (22), das durch ein Abbildungssystem (10) zum
Erhalten von Abbildungsdaten in Schnitten abgetastet wird,
mit den Schritten
Erhalten von Schnitten von Abbildungsdaten,
Bestimmen einer zirkulären Verschiebungsmatrix A unter Verwendung des Abbildungssystem- Schnittempfindlichkeitsprofils,
Anwenden einer Singulärwertzerlegung zur Transformation der zirkulären Verschiebungsmatrix A in ein Matrixprodukt UWVT aus einer orthogonalen Spaltenmatrix U, einer diagonalen Matrix W und der Transponierten einer orthogonalen Matrix V,
Bestimmen eines Matrixprodukts VW'UT unter Verwendung der Transponierten der orthogonalen Spaltenmatrix U,
Verwenden des Matrixprodukts VW'UT und eines Zielschnittempfindlichkeitsprofils zur Bestimmung eines Entfaltungskerns und
Entfalten der Abbildungsdaten unter Verwendung des Entfaltungskerns.
Erhalten von Schnitten von Abbildungsdaten,
Bestimmen einer zirkulären Verschiebungsmatrix A unter Verwendung des Abbildungssystem- Schnittempfindlichkeitsprofils,
Anwenden einer Singulärwertzerlegung zur Transformation der zirkulären Verschiebungsmatrix A in ein Matrixprodukt UWVT aus einer orthogonalen Spaltenmatrix U, einer diagonalen Matrix W und der Transponierten einer orthogonalen Matrix V,
Bestimmen eines Matrixprodukts VW'UT unter Verwendung der Transponierten der orthogonalen Spaltenmatrix U,
Verwenden des Matrixprodukts VW'UT und eines Zielschnittempfindlichkeitsprofils zur Bestimmung eines Entfaltungskerns und
Entfalten der Abbildungsdaten unter Verwendung des Entfaltungskerns.
18. Verfahren nach Anspruch 17, wobei der Schritt der
Verwendung des Matrixprodukts VW'UT und des
Zielschnittsempfindlichkeitsprofils zur Bestimmung des
Entfaltungskerns die Bestimmung eines Entfaltungskerns
unter Verwendung folgender Beziehung umfasst:
R = VW' UTQ
wobei Q das Zielschnittempfindlichkeitsprofil ist.
R = VW' UTQ
wobei Q das Zielschnittempfindlichkeitsprofil ist.
19. Verfahren nach Anspruch 17, wobei der Schritt der
Entfaltung der Abbildungsdaten unter Verwendung des
Entfaltungskerns die Entfaltung von Projektionsdaten
umfasst.
20. Verfahren nach Anspruch 17, wobei der Schritt der
Entfaltung der Abbildungsdaten unter Verwendung des
Entfaltungskerns die Entfaltung von Bilddaten umfasst.
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US6798860B1 (en) | 2004-09-28 |
JP4832662B2 (ja) | 2011-12-07 |
IL143073A0 (en) | 2002-04-21 |
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