Beschreibung
des einschlägigen
Standes der Technik
Off-Chip-Treiber
sind zur Erfüllung
verschiedener Aufgaben bekannt. Zum Beispiel werden Off-Chip-Treiber
dort eingesetzt, wo ein Signal, das innerhalb eines Chips, d. h.
innerhalb einer integrierten Halbleiterschaltung (auch Baustein
genannt), erzeugt worden ist, vor seiner Übertragung an eine dem Chip
externe Schaltung verstärkt
werden soll. Somit lässt
sich die Signalleistung oder der Signalpegel des auf dem Chip erzeugten
Signals an die Anforderungen der externen Schaltung anpassen, ohne dass
die Gesamtheit der integrierten Halbleiterschaltung in der Lage
sein muss, eine derartige Signalleistung oder Signalpegel zu liefern.
Ebenfalls
kann ein Off-Chip-Treiber dazu dienen, die von einer externen Schaltung
zum Chip führende
Leitungen zu terminieren, d. h. den externen Leitungen eine Abschlussimpedanz
zu präsentieren,
deren Impedanzwert einen möglichst
sauberen Signalverlauf über
die Leitungen gewährleistet.
Da
ein Off-Chip-Treiber eine sinnvolle, nahezu unentbehrliche Schnittstelle
zwischen einer integrierten Halbleiterschaltung und einer externen Schaltung
bildet, wird er üblicherweise
auf dem Chip, d. h. als Teil der integrierten Halbleiterschaltung,
ausgebildet. Seine Bezeichnung verdankt der Off-Chip-Treiber der
Tatsache, dass ein Off-Chip-Treiber üblicherweise dazu dient, ein
nach außen
(außerhalb
des Chips) gerichtetes Signal zu treiben.
1 zeigt eine schematische
Darstellung einer üblichen
Anwendungskonfiguration eines Off-Chip-Treibers. Gezeigt wird eine
integrierte Halbleiterschaltung 100, die beispielsweise
eine Logikschaltung 10, eine Treiberschaltungsanordnung 20, die
als Off-Chip-Treiber fungiert, und eine Treiberkalibrierschaltungsanordnung 40 umfasst.
Eine derartige integrierte Halbleiterschaltung 100 wird üblicherweise
in einem luftdichten Gehäuse
verkapselt. Eine elektrische Verbindung zu außerhalb dem Gehäuse liegenden
Schaltungen erfolgt über
Anschlusspins 101, die aus dem Gehäuse heraus ragen. Die dargestellte
integrierte Halbleiterschaltung 100 weist 11 exemplarische
Anschlusspins 101 auf. Diese sind die stromversorgende
Anschlusspins Vdd und Masse, die signalleitenden
Anschlusspins S1-S8 sowie
der Anschlusspin ZQ, der zum Anschluss an eine Referenzimpedanz
Zref vorgesehen ist. Selbstverständlich wird eine
solche Referenzimpedanz ggf. auch gehäuseintern, beispielsweise als
teil der integrierten Halbleiterschaltung 100 realisiert.
Dies
ist z. B. dann sinnvoll, wenn die durch die Referenzimpedanz abzubildende
Impedanz schon zur Zeit des Entwurfs der integrierten Halbleiterschaltung 100 bekannt
ist.
Obwohl
dies in der Figur nicht explizit gezeigt wird, ist dem Fachmann
klar, dass jede der Anschlusspins an mindestens eine entsprechende
Leitung der integrierten Halbleiterschaltung 100 angeschlossen
ist. Gezeigt wird zum Beispiel, dass sowohl die Logikschaltung 10 als
auch die Treiberschaltungsanordnung 20 und die Treiberkalibrierschaltungsanordnung 30 an
Vdd und Masse angeschlossen sind.
In
der dargestellten integrierten Halbleiterschaltung 100 stellt
die Logikschaltung 10 den Kern der Halbleiterschaltung 100 dar.
Hier werden Daten beispielsweise verarbeitet, gespeichert oder erzeugt. Der
Datenfluss zu und von der Logikschaltung 10 erfolgt über Signalleitungen 11,
die an der Treiberschaltungsanordnung 20 angeschlossen
sind. Die Treiberschaltungsanordnung 20 fungiert als Schnittstelle zwischen
den dargestellten 8 Signalleitungen 11 und den 8 Signalleitungen 23,
die individuell S1-S8 bezeichnet
sind und zu entsprechenden Anschlusspins 101 der Halbleiterschaltung 100 führen. Über die
Anschlusspins 101 werden die Signalleitungen S1-S8 mit entsprechenden Signalleitungen 41 einer
externen Schaltung 40 verbunden, die beispielsweise eine
die Logikschaltung 10 verwendende Schaltung darstellt. Zum
Beispiel könnte
die integrierte Halbleiterschaltung 100 mit Logikschaltung 10 ein
Speicherchip und die externe Schaltung 40 eine Computer-Hauptplatine
sein.
Das
Betriebsverhalten der Treiberschaltungsanordnung 20 lässt sich über die
Treiberkalibrierschaltungsanordnung 30. beeinflussen, die über beispielsweise
5 Signalleitungen 24 mit der Treiberschaltungsanordnung 20 verbunden
ist. Die Wirkungsweise einer Treiberkalibrierschaltungsanordnung
sowie ihren Einfluss auf einen Off-Chip-Treiber wird nachfolgend
im allgemeinen, d. h. ohne Bezug auf die Figuren, beschrieben.
Hoch
qualitative Off-Chip-Treiber müssen mit
einer bestimmten und stabilen Treiberimpedanz betrieben werden können. Dies
wird häufig
mittels digitaler Kompensationsalgorithmen erreicht, die die Leistung
des Off-Chip-Treibers digital verändern, um die Treiberleistung
einem Zielwert anzugleichen.
Da
integrierte Halbleiterschaltungen üblicherweise als Einzelkomponente
ohne Kenntnis der Signal- und/oder Impedanzanforderungen einer etwaigen
externen Schaltung entworfen, hergestellt und verkauft werden, sind
Mechanismen sinnvoll, die eine Anpassung des Off-Chip-Treibers an
die Signal- und/oder Impedanzanforderungen einer externen Schaltung
ermöglichen,
nachdem der Chip und die externe Schaltung zusammengeschaltet worden sind.
Eine
solche Anpassung eines Off-Chip-Treibers erfolgt üblicherweise
auf der Basis dreier Parameter, d. h. auf der Basis eines ersten
Versorgungspotentials, eines zweiten Versorgungspotentials sowie
einer Referenzimpedanz, die in bestimmter Konfiguration an bestimmte
Anschlusspins des Chips anzulegen bzw. anzuschließen sind.
Anhand dieser Parameter wird eine Impedanz des Off-Chip-Treibers entsprechend
geändert.
Gemäß dem Stande
der Technik kann die Anpassung des Off-Chip-Treibers über einen (digitalen) Suchalgorithmus
erfolgen, bei dem eine veränderbare
Impedanz des Off-Chip-Treibers einen Spannungsteiler zwischen den
beiden Versorgungsspannungen über
eine serielle Schaltung mit der Referenzimpedanz bildet, und eine
resultierende Ausgangsspannung des Spannungsteilers mit einer intern
erzeugten Referenzspannung vergleicht, die dem Mittelwert der beiden
Versorgungspotentiale gleicht. Die veränderbare Impedanz des Off-Chip-Treibers
wird entsprechend dem Suchalgorithmus solange geändert, bis die Ausgangsspannung
des Spannungsteilers und die Referenzspannung mit ausreichender
Genauigkeit identisch sind. Besteht der Spannungsteiler lediglich
aus einer seriellen Schaltung der veränderbaren Impedanz des Off-Chip-Treibers
und der Referenzimpedanz, wird die veränderbare Impedanz somit am
Ende des Suchalgorithmus der Referenzimpedanz mit bestimmter Genauigkeit
gleichen.
Eine
derartige Anpassung des Off-Chip-Treibers hat sich bei vielen Anwendungen,
unter anderem als Schnittstelle zwischen DDR-Speicherbausteinen
(DDR = "double-data-rate", zu Deutsch: doppelte
Datenrate) und entsprechenden externen Schaltungen, als nachteilig
erwiesen. Insbesondere weist ein derartig angepasster Off-Chip-Treiber
in derartiger Schaltungskombination unerwünschte Verzerrungen des Slew-Rates und somit des
Arbeitszyklus auf.
In
Anbetracht dieses Nachteils des Standes der Technik liegt der Erfindung
die Aufgabe zugrunde, ein Treibersystem, eine Treiberkalibrierschaltungsanordnung
zur Kalibrierung einer Impedanz einer Treiberschaltungsanordnung
sowie ein Verfahren zur Kalibrierung einer Impedanz einer Treiberschaltungsanordnung
bereitzustellen, das bzw. die ein verbessertes Treiberverhalten
insbesondere in Hinblick auf das oben genannte, bisher problematische
Anwendungsgebiet aufweist bzw. gewährleistet.
Näheres zum
Stand der Technik enthält
die US 2003/0025535 A1, die einen Ausgangstreiber für einen
integrierten Schaltkreis beschreibt, der einen Treiber umfaßt, der
einen mit dem integrierten Schaltkreis verbundenen Dateneingang,
einen mit einer zu einem externen Schaltkreis führenden Übertragungsleitung verbundenen
Datenausgang sowie Impedanzanpassungsmittel zur Anpassung der Ausgangsimpedanz
der Treiberschaltung gemäß bestimmbaren
Impedanzanpassungsdaten aufweist.
ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
Erfindungsgemäß wird die
oben genannte Aufgabe gemäß einer
der folgenden zwei Möglichkeiten
gelöst:
- 1) Weicht der Mittelpunkt eines bevorzugten
Betriebsbereichs einer Treiberschaltungsanordnung vom Mittelpunkt
einer Versorgungsspannung der Treiberschaltungsanordnung ab, dann
wird als Bezugspotential für
eine Kalibrierung der Treiberschaltungsanordnung ein Potential verwendet, das
im bevorzugten Betriebsbereich, vorzugsweise am Mittelpunkt des
bevorzugten Betriebsbereichs, liegt. In diesem Fall kann das Bezugspotential
mit dem Mittelpunkt der Versorgungsspannung der Treiberschaltungsanordnung übereinstimmen,
vorzugsweise ist dies jedoch nicht der Fall.
- 2) Stimmt der Mittelpunkt eines bevorzugten Betriebsbereichs
einer Treiberschaltungsanordnung mit dem Mittelpunkt einer Versorgungsspannung der
Treiberschaltungsanordnung überein,
dann wird als Bezugspotential für
eine Kalibrierung der Treiberschaltungsanordnung ein Potential verwendet,
das vom Mittelpunkt der Vorsorgungsspannung abweicht. Vorzugsweise
liegt das Bezugspotential im bevorzugten Betriebsbereich.
Im
Folgenden werden schwerpunktmäßig erfindungsgemäße Ausführungsbeispiele
beschrieben, bei der das Bezugspotential eines Kalibrierungsvorgangs
bzw. einer Kalibrierungsanordnung vom Mittelpunkt der Vorsorgungsspannung
einer zu kalibrierenden Treiberschaltungsanordnung abweicht. Mit Kenntnis
der hierin beschriebenen Lehre wird es dem Fachmann jedoch keine
Schwierigkeiten bereiten, auch nicht detailliert beschriebene Ausführungsformen
der Erfindung, insbesondere die Ausführungsformen der Erfindung
gemäß dem obigen
Punkt 1), bei der ein Potential als Referenzspannung verwendet wird,
das sich vom Mittelpunkt zwischen den beiden Versorgungsspannungen
nicht unterscheidet, zu realisieren.
Erfindungsgemäß wird die
oben genannte Aufgabe dadurch gelöst, dass ein Potential als
Referenzspannung verwendet wird, das sich vom Mittelpunkt zwischen
den beiden Versorgungsspannungen unterscheidet.
Erfindungsgemäß wird diese
Aufgabe ebenfalls dadurch gelöst,
dass eine veränderbare
Impedanz einer Kalibrierschaltung gegenüber einer Referenzimpedanz
derart kalibriert wird, dass ihre Impedanzen in einem vorbestimmten
Verhältnis
voneinander abweichen.
Gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung wird die oben genannte Aufgabe dadurch gelöst, dass
die Impedanz einer Treiberschaltungsanordnung veränderbarer
Impedanz sequentiell verändert
wird, bis das Potential an einem Verbindungspunkt zwischen einer
Referenzimpedanz und der Treiberschaltungsanordnung veränderbarer
Impedanz einem Mittelpunkt eines vorgegebenen bevorzugten Betriebsbereichs
auf ±10%,
vorzugsweise auf ±3%,
einer Differenz zwischen einem ersten und einem zweiten Versorgungspotential
gleicht, wobei der Mittelpunkt des vorgegebenen bevorzugten Betriebsbereichs
sich vom Mittelpunkt zwischen dem ersten und dem zweiten Versorgungspotential
unterscheidet.
Gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung wird die oben genannte Aufgabe dadurch gelöst, dass
der Impedanzwert einer veränderbaren Impedanz
eines Treiberteils derart eingestellt wird, dass sich ein mittels
der veränderbaren
Impedanz in Bezug auf ein erstes und ein zweites Versorgungspotential
bestimmter Betriebspunkt des Treiberteils von einem Mittelpunkt
des ersten und des zweiten Potentials unterscheidet.
Den
erfindungsgemäßen Lösungen liegt
unter anderem das Erkenntnis zugrunde, dass Anwendungen existieren,
die ungleiche Anforderungen an einen Pull-Up- und einen Pull-Down-Zweig eines Off-Chip-Treibers
stellen, d.h. bei denen ein symmetrisches Verhalten beispielsweise
zwischen einem Pull-Up- und einem Pull-Down-Zweig einer Treiberschaltungsanordnung
nachteilig sein kann.
Als
zugrundeliegender Lösungsansatz
dieses Problems wird in verschiedenen Ausführungsformen vorgeschlagen,
dass sich ein Betriebspunkt der Treiberschaltungsanordnung vom Mittelpunkt
der Versorgungspotentiale unterscheiden soll. Diesem Lösungsansatz
liegt auch das Erkenntnis zugrunde, dass Treiber, insbesondere Off-Chip-Treiber,
zu einem nichtlinearen Verhalten tendieren, bei dem die Treiberimpedanz
in verschiedenen Betriebsbereichen (d. h. beispielsweise bei verschiedenen Drain-Source-Spannungen
eines als Treiberelement fugierenden Transistors) ebenfalls verschieden
ist. Folglich weist ein Treiber, der an einem Betriebspunkt kalibriert
worden ist, der sich vom Betriebspunkt unterscheidet, bei dem der
Treiber betrieben wird, die durch die Kalibrierung beabsichtige
Impedanz nicht auf.
Als
gleichwertiger Lösungsansatz
des obigen Problems wird in verschiedenen Ausführungsformen vorgeschlagen,
dass eine veränderbare
Impedanz einer Treiberkalibrierschaltungsanordnung derart geändert wird,
dass ihr Impedanzwert einem vorbestimmten Prozentsatz des Impedanzwertes
einer Referenzimpedanz gleicht, der von 100% abweicht.
Im
Sinne der Erfindung ist ein Treiberteil respektive eine Treiberschaltungsanordnung
eine mindestens ein verstärkendes
Element aufweisende Schaltungsanordnung. Somit kann ein Treiberteil bzw.
eine Treiberschaltungsanordnung beispielsweise ein Pull-Up- oder
ein Pull-Down-Zweig eines Inverters sein.
Vorzugsweise
wird ein erfindungsgemäßer Treiberteil
bzw. eine erfindungsgemäße Treiberschaltungsanordnung
einstückig
mit einer integrierten Halbleiterschaltung, vorzugsweise in Form
eines DDR-Speicherbausteins, insbesondere eines GDDR3-Speicherchips, als
Off-Chip-Treiber realisiert.
Die
Versorgung eines Treiberteils sowie die Speisung einer Treiberschaltungsanordnung
mit einem ersten und einem zweiten Potential kann sowohl direkt
als auch indirekt über
andere Schaltungsanordnungen erfolgen. Ist ein Treiberteil zum Beispiel ein
Pull-Up-Zweig einer Treiberschaltungsanordnung, so könnte die
Versorgung bzw. die Speisung über
einen Pull-Down-Zweig
der Treiberschaltungsanordnung erfolgen. Beispielsweise könnten der Pull-Up-Zweig
und der Pull-Down-Zweig
eine Serienschaltung bilden, die zwischen der ersten und der zweiten
Potential geschaltet ist. Selbstverständlich sind auch unzählige alternativen
Konfigurationen dem Fachmann bekannt, die eine direkte oder indirekte
Versorgung eines Treiberteils bzw. Speisung einer Treiberschaltungsanordnung
gewährleisten.
Im
Sinne der Erfindung umfasst der Begriff "veränderbare
Impedanz" jegliches
Element, dessen Impedanz sich in kontrollierter Weise verändern lässt. Dem
Fachmann sind eine Vielzahl von solchen Elementen bekannt. Eine
besonders vorteilhafte Ausführungsform
einer veränderbaren
Impedanz stellt eine Parallelschaltung mehrerer Treiberelemente
dar, bei der jedes Treiberelement eine Serienschaltung eines Transistors
und eines ohmschen Widerstands umfasst. Durch Ein- bzw. Ausschalten
jeweiliger Transistoren lässt
sich die Impedanz der Parallelschaltung kontrolliert beeinflussen.
Die
erfindungsgemäße Kontrolleinrichtung lässt sich
beispielsweise als programmierbare oder fest verdrahtete Logikschaltung
realisieren. Etwaige von der Kontrolleinrichtung vorgenommene Kontrollschritte
verlaufen nach einer etwaigen Initialisierung, die intern oder extern
ausgelöst
werden könnte,
vorzugsweise automatisch und zügig
ab.
Vorzugsweise ändert die
Kontrolleinrichtung den Impedanzwert einer veränderbarer Impedanz sequentiell
in einer Art und Weise, die einem Suchalgorithmus entspricht. Ein
bevorzugter Suchalgorithmus, der die Suchzeit gegenüber linearen
Suchverfahren erheblich verkürzt,
und der bei entsprechender Wahl der Sollspannung hier ohne weiteres
anwenden lässt,
beschreibt die noch nicht veröffentlichte
deutsche Patentanmeldung
DE
10338077.9 des gleichen Anmelders mit dem Titel "Verfahren und Schaltungsanordnung
zum schrittweisen Abgleich der Treiberimpedanz in integrierte Halbleiterschaltungschips", die am 19. August
2003 eingereicht wurde.
Ist
die von der Kontrolleinrichtung während des Suchalgorithmus geänderte,
veränderbare
Impedanz lediglich eine Bezugsimpedanz, deren Impedanzwert keinen
direkten Einfluss auf das Verhalten einer Treiberschaltungsanordnung
ausübt,
so sieht die Erfindung vorzugsweise vor, dass die Kontrolleinrichtung
die Impedanz einer Treiberschaltungsanordnung bzw. eines Treiberteils
entsprechend der den erwünschten
Impedanzwert aufweisende Konfiguration der Bezugsimpedanz einstellt.
Ist die von der Kontrolleinrichtung während des Suchalgorithmus geänderte,
veränderbare
Impedanz die Impedanz einer Treiberschaltungsanordnung, so ist keine
weitere Einstellung der Impedanz nach Abschluss des Suchalgorithmus
notwendig. In diesem Fall stellt der Suchalgorithmus den Kalibrierungsvorgang
dar.
Erfindungsgemäß liegt
der Betriebspunkt eines Treiberteils bzw. einer Treiberschaltungsanordnung
vorzugsweise am Mittelpunkt seines bzw. ihres Betriebsbereichs.
Der Betriebsbereich lässt
sich über den
erwünschten
Spannungshub des Ausgangssignals des Treiberteils bzw. der Treiberschaltungsanordnung
und das Bezugspotential definieren. Beträgt der Signalhub des Ausgangssignals
einer Treiberschaltungsanordnung z.B. 0,6 mal der Versorgungsspannung
(Vsupply) und bezieht sich der Pegel des Ausgangssignals
auf Erde (0V), so ergibt sich ein Betriebsbereich von 0V bis 0,6·Vsupply. Demgemäß läge der bevorzugte Betriebspunkt
bei 0,3·Vsupply.
Der
Betriebspunkt, der sich unter externer Last einstellen wird, entspricht
dem Potential, das sich an einem Verbindungspunkt zwischen der die externe
Last simulierende Referenzimpedanz und einer die Treiberimpedanz
nachahmende Schaltungsanordnung veränderbarer Impedanz einstellt.
Vorzugsweise ist die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung veränderbarer
Impedanz derart, dass sie das Verhalten der Treiberimpedanz in eindeutiger Weise
nachahmt. Wird dann der Impedanzwert der Schaltungsanordnung veränderbarer
Impedanz so geändert,
dass sich der erwünschte
Betriebspunkt einstellt, so kann aus der aktuellen Konfiguration
der Schaltungsanordnung veränderbarer
Impedanz auf die richtige Einstellung der Treiberimpedanz geschlossen
werden, um den Betriebspunkt auch im Treiberbetrieb zu erhalten.
Erfindungsgemäß kann ein
Treibersystem mehrere Treiberteile umfassen, die jeweils mindestens
eine veränderbare
Impedanz aufweisen. Gleichfalls kann eine erfindungsgemäße Treiberschaltungsanordnung
mehrere verstärkende
Elemente aufweisen, die jeweils einen vorgegebenen bevorzugten Betriebspunkt
sowie mindestens eine veränderbare Impedanz
aufweisen. Auch eine Treiberkalibrierschaltungsanordnung kann mehrere
Schaltungsanordnungen veränderbarer
Impedanz aufweisen. Das während
bzw. nach dem Suchalgorithmus vorzunehmende Verändern des Impedanzwertes der
jeweiligen veränderbaren
Impedanzen kann von einer einzigen oder von mehreren Kontrolleinrichtungen
vorgenommen werden. Eine einzige Schaltungsanordnungen veränderbarer
Impedanz kann der Kalibrierung mehrerer oder auch nur einer einzigen,
zugeordneten Treiberschaltungsanordnung dienen.
Da
die Erfindung eine individuelle Kalibrierung des Impedanzwertes
jedes verstärkenden
Elements und somit eine verbessezte Linearisierung der verstärkenden
Elemente über
deren jeweiligen gesamten Betriebsbereich erlaubt, wird diese Kalibrierung
als pseudo-dynamische Kalibrierung bezeichnet.
Es
wurde eingangs erläutert,
dass eine Kalibrierung bezogen auf eine Referenzspannung respektive
einen Betriebspunkt, die bzw. der dem Mittelwert der Versorgungsspannungen
entspricht, sich bei vielen Anwendungen als nachteilig erwiesen
hat.
In
ihrer deutlichen Abkehr von dieser bisherigen Vorgehensweise sieht
die Erfindung vorzugsweise vor, dass der jeweilige Betriebspunkt
sich vom Mittelwert der Versorgungsspannungen um mindestens 15%
der Differenz zwischen den Versorgungsspannungen unterscheidet.
Im Falle von zwei verstärkenden
Elementen, die jeweils über
bzw. unter dem Mittelwert der Versorgungsspannungen kalibriert werden,
so unterscheiden sich ihre Betriebspunkte um mindestens 30% der
Differenz zwischen den Versorgungsspannungen, was eine enorme Individualität dessen
Betriebsverhalten verspricht.
Eine
sinnvolle Einschränkung
der Individualität
der Kalibrierung sowie ein gutes Betriebsverhalten der verstärkenden
Elemente in einem bis hin zum Mittelwert der Versorgungsspannungen
reichenden Betriebsbereich hat sich erwiesen, wenn sich der jeweilige
Betriebspunkt vom Mittelwert der Versorgungsspannungen um höchstens
35% der Differenz zwischen den Versorgungsspannungen unterscheidet.
In
einer binär
operierenden Konfiguration wie beispielsweise einem Inverter mit
Pull-Up- und Pull-Down-Zweig hat sich ein jeweiliger Betriebspunkt,
der sich um 20% vom Mittelwert der Versorgungsspannungen unterscheidet,
als äußerst günstig erwiesen.
Um
keine zu hohen Anforderungen an den Suchalgorithmus zu stellen,
wird der Betriebspunkt vorzugsweise mit einer Genauigkeit von lediglich 10%
der Differenz zwischen den Versorgungsspannungen bestimmt. Wo der
Aufwand dies erlaubt, wird der Betriebspunkt jedoch vorzugsweise
mit einer Genauigkeit von 3% der Differenz zwischen den Versorgungsspannungen
bestimmt, was ungefähr
der Genauigkeit eines wie in der oben genannten
DE 10338077.9 beschriebenen, fünfstufigen
bisektionalen Suchalgorithmus entspricht.
Selbstverständlich sind
alle angegebenen Genauigkeitswerte und andere Zahlenwerte lediglich als
bevorzugte Ausführungsbeispiele
zu verstehen. Es liegt im Sinne der Erfindung auch andere Genauigkeiten
und Zahlenwerte bei Bedarf zu wählen.
Bei der Wahl einer passenden Genauigkeit wird der Fachmann zwischen
den negativen Auswirkungen einer zu hohen Genauigkeit beispielsweise
auf den Suchaufwand und den positiven Auswirkungen einer hohen Genauigkeit
beispielsweise auf das Verhalten der Treiberschaltungsanordnung
abwägen.
Analog wird der Fachmann beispielsweise bei der Wahl eines passenden
Betriebspunkts zwischen den möglichen
positiven und negativen schaltungstechnischen Auswirkungen seiner
Wahl abwägen.
Im
Falle von zwei zu bestimmenden Betriebspunkten eines Treibersystems
bzw. einer Treiberschaltungsanordnung werden diese vorzugsweise betragsgleich
aber entgegengesetzt vom Mittelwert der Versorgungsspannungen platziert,
um ein symmetrisches Gesamtverhalten des Treibersystems bzw. der
Treiberschaltungsanordnung zu erzielen.
Neben
einer Kalibrierung über
einen erwünschten
Betriebspunkt lässt
sich das vorteilhafte erfindungsgemäße asymmetrische Treiberverhalten in
analoger Weise auch dadurch einstellen, dass eine veränderbare
Impedanz einer Treiberkalibrierschaltungsanordnung derart geändert wird,
dass ihr Impedanzwert einem vorbestimmten Prozentsatz des Impedanzwertes
einer Referenzimpedanz gleicht, der von 100% abweicht.
Die
erfindungsgemäßen Merkmalskombinationen
finden vorzugsweise in oder in Zusammenhang mit DDR-Speicherbausteinen,
insbesondere mit DDR2-, DDR3- und GDDR3-Speicherbausteinen, Verwendung.