DE60035441T2

DE60035441T2 - Vorrichtung und Verfahren zur Aufnahme / Wiedergabe einer Herstellerinformation eines Aufnahme/Wiedergabe-Gerätes auf eine / von einer optischen Platte

Info

Publication number: DE60035441T2
Application number: DE60035441T
Authority: DE
Inventors: Yasuhiro Sagamihara-shi Kangawa-ken Ueki
Original assignee: Victor Company of Japan Ltd
Current assignee: Victor Company of Japan Ltd
Priority date: 1999-11-16
Filing date: 2000-11-02
Publication date: 2008-03-06
Anticipated expiration: 2020-11-03
Also published as: US8179757B2; EP1102247B1; US20030072234A1; US7593298B2; US20060067185A1; DE60017684T2; DE60035441D1; US20020122365A1; US20090303846A1; US6768711B2; US20040165500A1; EP1489603A2; EP1811510A2; EP1102247A2; DE60017684D1; EP1811510A3; EP1489603B1; US7545715B2; EP1102247A3; US7924670B2

Description

ALLGEMEINER STAND DER TECHNIK
Diese Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Informationsaufzeichnung und -wiedergabe (genauer: -wiederherstellung) auf und von einer optischen Platte. Zusätzlich bezieht sich diese Erfindung auf ein Verfahren zur Informationsaufzeichnung und -wiederherstellung auf und von einer optischen Platte. Darüber hinaus bezieht sich diese Erfindung auf eine optischen Platte.
Optischen Platten enthalten eine Minidiskette. Minidiskette-Abspielgeräte enthalten stoßfeste Speicher mit einer Speicherkapazität von 4 MB (Megabyte), die einer Wiedergabezeit von etwa 10 Sekunden entspricht. Während des Wiedergabebetriebs des Minidiskette-Abspielgeräts greift ein Tonarm sequentiell auf Sektoren auf einer Minidiskette zu, und Daten werden hiervon wiederhergestellt. Beim Minidiskette-Abspielgerät werden die wiederhergestellten Daten im stoßfesten Speicher zwischengespeichert, und sie werden von hier ausgelesen, wodurch die Inhaltsdaten wiedergegeben werden. Springt der Tonarm von einem zum nächsten Sektor, stellt der Tonarm nicht jedes auf der Minidiskette abgespeicherte Datum wieder her. Folglich wird im Wiedergabebetrieb des Minidiskette-Abspielgeräts die Datenwiederherstellung von der Minidiskette durch den Tonarm manchmal für kurze Zeit unterbrochen. Der stoßfeste Speicher fängt solch eine Unterbrechung der Datenwiederherstellung von der Minidiskette auf, wobei kontinuierliche Wiedergabe der Inhaltsdaten bereitgestellt wird. Insbesondere bleiben Daten vom stoßfesten Speicher ausgelesen, und die Wiedergabe der Inhaltsdaten fährt selbst über einen Zeitraum fort, wobei der Tonarm über die Aufzeichnungsspuren auf der Minidiskette springt und auf das Rotieren der Platte wartet, um den nächsten Sektor anzutreffen.
Während des Aufzeichnungsbetriebs des Minidiskette-Abspielgeräts greift der Tonarm sequentiell auf Sektoren der Minidiskette zu, und er zeichnet auf ihr Daten auf. Im Minidiskette-Abspielgerät werden komprimierte, aufzuzeichnende Daten im stoßfesten Speicher zwischengespeichert. Die komprimierten Daten werden zeitweise vom Speicher ausgelesen, bevor sie dem Tonarm zugeführt werden, und sie werden hierbei auf der Minidiskette aufgezeichnet. Folglich wird während dem Aufzeichnungsbetrieb des Minidiskette-Abspielgeräts die Datenzufuhr zum Tonarm zeitweise ausgeführt. Die Abwesenheit der Datenzufuhr zum Tonarm wird durch Springen des Tonarms von einem zum nächsten Sektor synchronisiert. Entsprechend springt der Tonarm während der Abwesenheit der Datenzufuhr von einem zum nächsten Sektor, wobei der Tonarm über die Aufzeichnungsspuren auf der Minidiskette springt und auf das Rotieren der Platte wartet, um den nächsten Sektor anzutreffen.
Optische Platten enthalten eine DVD (Digital Versatile Disc, digitale vielfach verwendbare Platte). DVD-Abspielgeräte enthalten stoßfeste Speicher, die der Funktion der Minidiskette-Abspielgeräte ähnlich sind. Typische stoßfeste Speicher in DVD-Abspielgeräten verfügen über eine Speicherkapazität von 16 MB, die einer Wiedergabezeit von etwa zwei Sekunden entspricht. Neuere stoßfeste Speicher in den DVD-Abspielgeräten verfügen über eine Speicherkapazität von größer 16 MB, die einer Wiedergabezeit größer zwei Sekunden entspricht.
Optische Platten sind vom Nur-Lesetyp (einem Nur-Wiedergabetyp), vom Aufzeichnungstyp (ein Typ zum Einmalbeschreiben und vielfachem Auslesen) und einem wiederbeschreibbaren Typ. Eine CD (Compact Disc, Kompaktplatte), eine VCD (Video CD) und eine DVD sind optische Platten vom Nur-Lesetyp. Eine CD-R (R für Read, Lesen) und eine DVD-R sind optische Platten vom Aufzeichnungstyp. Eine CD-RW (Read Write), ein DVD-RAM (Random Access Memory) und ein DVD-RW sind optische Platten vom wiederbeschreibbaren Typ.
Optische Platten vom wiederbeschreibbaren Typ verfügen über dünne Aufzeichnungsschichten, die reversibel zwischen zwei oder mehreren unterschiedlichen Zuständen entsprechend mit den Bedingungen der hierbei angewendeten Laserstrahlen wechseln. Als wiederbeschreibbare optische Platten sind magnetooptische Platten und Phasenwechselplatten bekannt.
Im Fall einer optischen Phasenwechselplatte ändert sich die Aufzeichnungsschicht, wobei eine Aufzeichnungsschicht von einem Laserstrahl abgetastet wird, reversibel zwischen einem amorphen und einem kristallinen Aggregatzustand, indem sich die Laserstrahlbedingungen als Antwort auf ein aufzuzeichnendes Signal ändern. Auf diese Weise wird das Signal auf der Aufzeichnungsschicht als ein Muster von amorphen und von kristallinen Teilen der Aufzeichnungsschicht aufgezeichnet. Das Signal wird von der optischen Phasenwechselplatte folgendermaßen wiederhergestellt. Die Oberfläche eines amorphen Teils der Platte und die Oberfläche des kristallinen Teils der Platte sind unterschiedlich im Reflexionsvermögen bezüglich eines Laserstrahls. Während die optische Phasenwechselplatte vom Laserstrahl abgetastet wird, wird eine Veränderung im Reflexionsvermögen der Plattenoberfläche bezüglich des Laserstrahls optische erfaßt, wodurch das Signal von der Platte wiederhergestellt wird.
Die optische Phasenwechselplatte ähnelt einer optischen Nur-Leseplatte und einer optischen Aufzeichnungsplatte dahingehend, daß die Signalwiederherstellung ausgeführt wird, indem eine Veränderung bei dem Plattenoberflächenreflexionsvermögen bezüglich eines Laserstrahls erfaßt wird. Signalüberschreibung auf der optischen Phasenwechselplatte kann durch Verwendung nur eines Laserstrahls durchgeführt wird, wenn die Laserleistung zwischen einem Löschpegel Pe und einem Aufzeichnungspegel Pw moduliert wird. Daher kann der Aufbau einer Ansteuervorrichtung für eine optische Phasenwechselplatte einfach sein.
Es ist denkbar, eine Pulsweitenmodulationssystem zur Aufzeichnung einer optischen Phasenwechselplatte bei einer hohen Dichte zu verwenden. Entsprechend dem Pulsweitenmodulationssystem entsprechen die Stellungen der Vorder- und der Rückflanke jeder Aufzeichnungsmarkierung auf der Platte einem logischen "1"-Signal.
Bei einem Pulsweitenmodulationssystem stellt die Breite jeder Aufzeichnungsmarkierung Information dar. Daher ist eine bestimmte Form der Aufzeichnungsmarkierung verzerrungsfrei. Insbesondere sollten die Formen der Vorder- und der Hinterhälften der Aufzeichnungsmarkierung symmetrisch zueinander sein. Während der Aufzeichnung eines Signals auf der Platte auf der Grundlage der Pulsweitenmodulation wird die Platte mit einem Laserstrahl belichtet, wobei sie sich relativ hierzu dreht und bewegt. Zusätzlich wird die Laserstrahlintensität zwischen starken und schwachen Niveaus entsprechend dem aufzuzeichnenden Signal verändert. Die Aufzeichnungsmarkierungen werden auf Abschnitten der Platte gebildet, die vom stärkeren Laserstrahl beleuchtet werden. Beim Betrachten jeder Aufzeichnungsmarkierung bewirkt der Wärmeaufheizeffekt des stärkeren Strahlanwendungsendpunkts auf der Platte eine höhere Temperatur als der stärkere Strahlanwendungsanfangspunkt auf der Platte aufweist. Als Folge ist das rückwärtige Ende der Aufzeichnungsmarkierung breiter als das entsprechende vordere Ende. Als Folge ist die Form der Aufzeichnungsmarkierung verzerrt.
Die Japanische Offenlegungsschrift 3-185628 beschreibt ein Verfahren zur Verringerung der Verzerrung bei der Form des Aufzeichnungszeichens. Das Verfahren bei der japanischen Offenlegungsschrift 3-185628 ist ein Überschreibungsverfahren, bei dem ein Aufzeichnungszeichen durch eine Folge kurzer Impulse (nahe nebeneinanderliegender Impulse) eines Laserstrahls an eine Platte gebildet wird.
Die Japanische Offenlegungsschrift 6-12674 beschreibt ein Verfahren der Korrektur der Wellenform einer Folge von elektrischen Impulsen, die einer Laserstrahlquelle zugeführt wird. Entsprechend dem Verfahren in der Japanischen Offenlegungsschrift 6-12674 wechselt ein Eingangssignal zwischen einem H-Pegel- und einem L-Pegelzustand. Ein Eingangssignal, das sich kontinuierlich im H-Pegelzustand befindet, gehört zu einem Aufzeichnungszeichen. Das Eingangssignal, das sich kontinuierlich im H-Zustand befindet, wird in eine Folge kurzer elektrischer Impulse (elektrisch nahe nebeneinanderliegende Impulse) umgesetzt. Der erste Impuls bei der Folge ist breiter als die nachfolgenden Impulse. Die Anzahl der Impulse bei einer Folge wird durch eine vorgegebene Länge des Aufzeichnungszeichens bestimmt. Die elektrische Impulsfolge wird einer Laserstrahlquelle zugeführt. Die elektrische Impulsfolge wird durch die Laserstrahlquelle in eine entsprechende Folge kurzer Impulse (nahe nebeneinanderliegende Impulse) eines Laserstrahls umgesetzt. Die Laserstrahlimpulsfolge wird auf eine Platte angewendet. Ein Aufzeichnungszeichen wird auf der Platte als Antwort auf die Laserstrahlimpulsfolge gebildet. Da der erste Impuls bei der Folge relativ breit ist, steigt die Temperatur der auf der Platte schnell an. Da andererseits der zweite Impuls und nachfolgende Impulse bei der Folge relativ nahe nebeneinanderliegend sind, wird der übermäßigen Erhöhung der Temperatur des Strahlfolgeanwendungsendpunkts auf der Platte vorgebeugt. Daher wird es möglich, den Wärmeanhäufungseffekt, der Verzerrung des Aufzeichnungszeichens verursachen könnte, kompensiert.
Die Verminderung der Formverzerrungstechnik bei der Japanischen Offenlegungsschrift 6-12674 ist weniger wirksam, wenn sich die Lineargeschwindigkeit, die im Zusammenhang mit der Abtasten der Platte steht, erhöht. Beim Verfahren der Japanischen Offenlegung 6-12674 wird eine Folge kurzer Impulse (nahe nebeneinanderliegende Impulse) des Laserstrahl auf die Aufzeichnungsschicht einer Platte angewendet, um darauf ein Aufzeichnungszeichen zu bilden. Der impulsaktive Laserstrahl resultiert in abnehmender Energie, die auf die Aufzeichnungsschicht der Platte angewendet wird. Entsprechend ist eine erforderliche momentane Laserstrahlleistung relativ hoch. Hinzu kommt, daß sich eine erforderliche momentane Laserstrahlleistung erhöht, wenn sich die Lineargeschwindigkeit, die in Zusammenhang mit dem Abtasten der Platte steht, erhöht. Eine Hochleistungslaserstrahlquelle ist teuer.
Beim Verfahren der Japanischen Offenlegungsschrift 6-12674 wird das Eingangssignal, das sich ständig im H-Zustand befindet, in eine Folge kurzer elektrischer Impulse umgesetzt. Es ist erforderlich, ein Taktsignal bei der Umsetzung des H-Pegel-Eingangssignals in die elektrische Impulsfolge zu verwenden. Die Schwingungsdauer des Taktsignals ist gleich der Schwingungsdauer des Eingangssignals, das durch eine vorgegebene ganze Zahl unterteilt wird. Wenn sich die Frequenz des Eingangssignals erhöht, erhöht sich die erforderliche Frequenz des Taktsignals. Eine übermäßig hohe Frequenz des Taktsignals bewirkt Schwierigkeiten beim Schaltungsentwurf. Modulation der Laserleistung bei einer höheren Frequenz bewirkt größere Verzerrung bei der Laserstrahlwellenform.
Bei einem Plattensteuerungssystem mit konstanter Winkelgeschwindigkeit (CAV, Constant Angular Velocity), dreht sich eine Platte mit einer konstanten Winkelgeschwindigkeit. In diesem Fall ist die Lineargeschwindigkeit bezüglich des Abtastens eines äußeren Teils der Platte höher als beim inneren Teil der Platte. Nach einem vorgeschlagenen Verfahren wird die Länge eines Aufzeichnungszeichens auf dem inneren Teil der Platte und die Länge des Aufzeichnungszeichens auf dem äußeren Teil der Platte auf das entsprechende Ansteigen der Aufzeichnungsdichte eingestellt. Bei dem vorgeschlagenen Verfahren nimmt die Aufzeichnungsfrequenz an einer Stelle auf der Platte zu, wenn sich die Stelle näher an der äußeren Kante der Platte befindet.
Bei einem Plattensteuerungssystem mit konstanter Lineargeschwindigkeit (CLV, Constant Linear Velocity) dreht sich eine Platte mit einer konstanten Lineargeschwindigkeit. Eine denkbare Aufzeichnungsvorrichtung mit konstanter Lineargeschwindigkeit ist in der Lage, Signale auf der Platte von unterschiedlichem Typ aufzuzeichnen. Die denkbare Auszeichnungsvorrichtung mit konstanter Lineargeschwindigkeit wird erforderlich, um die Lineargeschwindigkeit und die Aufzeichnungsfrequenz in Abhängigkeit des Plattentyps zu ändern.
Optimale Aufzeichnungsbedingungen einer Platte mit einer hohen Aufzeichnungsdichte variieren von Platte zu Platte. Zusätzlich hängen die optimalen Aufzeichnungsbedingungen beispielsweise von der Anzahl der Signalaufzeichnungen auf der Platte und von der Umgebungstemperatur ab. Entsprechend einem denkbaren Verfahren des Erfassens optimaler Auszeichnungsbedingungen einer Platte wird die Signalaufzeichnung auf der Platte unterbrochen und ein Aufzeichnungskopf wird auf einen Testbereich der Platte bewegt. Dann wird das Testsignal auf den Testbereich aufgezeichnet, und das Testsignal wird von hier wieder hergestellt. Die Qualität des wiederhergestellten Testsignals wird gemessen. Optimale Aufzeichnungsbedingungen der Platte werden auf der Grundlage der Meßergebnisse erfaßt. Nachdem die optimalen Aufzeichnungsbedingungen erfaßt sind, beginnt die Aufzeichnung eines Hauptinformationssignals auf der Platte. Die Aufzeichnung eines Hauptinformationssignals wird unter optimalen Aufzeichnungsbedingungen ausgeführt.
Bei dem denkbaren Verfahren dauert das Erfassen der optimalen Aufzeichnungsbedingungen lange. Folglich tritt eine lange Wartezeit auf, bis die Aufzeichnung des Hauptinformationssignals auf der Platte gestartet wird.
Die Laserstrahlleistung hängt von der Umgebungstemperatur und der Alterung einer Laserstrahlquelle ab. Um genaue Signalaufzeichnung auf einer Platte zu erhalten, ist es erforderlich, eine derartige Veränderung bei der Laserstrahlleistung zu kompensieren. Bei einem denkbaren Verfahren wird die Signalaufzeichnung auf der Platte unterbrochen, und es wird die Leistung einer Laserstrahlquelle gemessen. Optimale Steuerungsbedingungen einer Laserstrahlquelle werden aufgrund der Meßergebnisse entschieden. Bei dem denkbaren Verfahren nimmt die Entscheidung der optimalen Steuerungsbedingungen der Laserstrahlquelle lange Zeit in Anspruch.
Ein Verfahren nach dem Stand der Technik beim Erfassen der optimalen Aufzeichnungsbedingungen einer CD-R beinhaltet einen Schritt, die Asymmetrie des wiederhergestellten Signals zu messen. Eine DVD-R, eine DVD-RW, weitere aufzeichnenbare optische Platten mit organischen Farbstoffen, weitere wiederbeschreibbare optische Platten nach dem Phasenwechselverfahren und weitere aufzeichenenbare und wiederbeschreibbare optische Platten mit hohen Aufzeichnungsdichten werden durch Auswahl verschiedener Materialien mit unterschiedlichen Fertigungsverfahren hergestellt.
Wenn daher das Verfahren nach dem Stand der Technik auf eine solche Platte mit hoher Aufzeichnungsdichte angewendet wird, sind die Ergebnisse des Erfassens der optimalen Aufzeichnungsbedingungen unzuverlässig.
Eine optischen Platte mit Phasenwechseltechnik weist folgendes Problem auf. Wenn das gleiche Signal wiederholt an der gleichen Stelle der Platte mit einer gleichen Taktsteuerung aufgezeichnet wird, verschlechtert sich die jitterbezogene Qualität eines hierbei wiederhergestellten Signals.
Dokument D1, d.h. US-A-5 790 491 offenbart einen Rekorder mit optischer Platte einer einmal-Schreiben-und- oft-Lesen-Art, welcher automatisch seinen Laser kalibriert, um einen Laserstrahl eines gewünschten Energiepegels auszusenden. Daten bezüglich einer Laserkalibrierung können auf einer optischen Platte aufgezeichnet sein. Die Daten können eine gewünschte ausgesendete Laserschreibimpulsdauer, DAC-Kalibrierungsdaten, eine Kennzeichnung des Rekorders und Ähnliches umfasssen.
Erste Aufgabe dieser Erfindung ist es, eine verbesserte Vorrichtung zur Informationsaufzeichnung und -wiederherstellung auf und von optischen Platten bereitzustellen.
Zweite Aufgabe dieser Erfindung ist es, ein verbessertes Verfahren der Informationsaufzeichnung und -wiederherstellung auf und von optischen Platten bereitzustellen.
Diese Aufgaben werden durch eine Vorrichtung und ein Verfahren erzielt, die in den anhängenden Patentansprüchen aufgeführt sind.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
1 zeigt ein Zeitbereichsdiagramm einer Wellenform eines Eingangssignals und Aufzeichnungswellenformen eines Laserstrahls;
2 zeigt eine Schnittdarstellung eines Teils einer optischen Platte;
3 zeigt ein Zeitbereichsdiagramm einer Wellenform eines Eingangssignals und Aufzeichnungswellenformen eines Laserstrahls;
4 zeigt eine graphische Darstellung einer Beziehung zwischen einem Abtasten einer Platte mit Lineargeschwindigkeit und einer Phasensicherheit;
5 zeigt eine graphische Darstellung einer Beziehung zwischen einem Abtasten einer Platte mit Lineargeschwindigkeit, einer Phasensicherheit und einer Temperatur;
6 zeigt eine graphische Darstellung einer Beziehung zwischen einem Abtasten einer Platte mit Lineargeschwindigkeit und einer Aufzeichnungsleistung;
7 zeigt eine graphische Darstellung einer Aufzeichnungswellenform eines Laserstrahls;
8 zeigt eine graphische Darstellung einer Aufzeichnungswellenform eines Laserstrahls;
9 zeigt ein Blockdiagramm eine Vorrichtung zur Informationssignalaufzeichnung und -wiederherstellung eines ersten erläuternden Beispiels;
10 zeigt eine graphische Schnittdarstellung einer optischen Platte;
11 zeigt ein Blockdiagramm einer Verstärkereinheit in 9;
12 zeigt eine graphische Darstellung von Adressen auf einer optischen Platte und von auf der Platte aufgezeichneten Daten;
13 zeigt ein Zeitbereichsdiagramm des Grades der Belegung eines Speichers in 9;
14 zeigt ein Flußdiagramm eines Abschnitt eines Programms für eine Systemsteuereinheit in 9;
15 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks in 14;
16 zeigt ein Blockdiagramm einer asymmetrischen Erfassungsschaltung in 11;
17 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem zweiten erläuternden Beispiel;
18 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem dritten erläuternden Beispiel;
19 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem vierten erläuternden Beispiel;
20 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem fünften erläuternden Beispiel;
21 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem sechsten erläuternden Beispiel;
22 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem siebten erläuternden Beispiel;
23 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem fünfzehnten erläuternden Beispiel;
24 zeigt eine graphische Darstellung einer Aufzeichnungswellenform eines Laserstrahls;
25 zeigt eine graphische Darstellung einer Aufzeichnungswellenform eines Laserstrahls;
26 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem fünfundzwanzigsten erläuternden Beispiel;
27 zeigt ein Flußdiagramm eines Blocks eines Programmabschnitts bei einem siebenundzwanzigsten erläuternden Beispiel;
28 zeigt ein Zeitbereichsdiagramm eines Wobbelsignals, eines Aufzeichnungstaktsignals, eines LPP-Signals und eines Taktsignals; und
29 zeigt ein Blockdiagramm einer Wellenformkorrekturschaltung in 11.
Erstes erläuterndes Beispiel
Ein erstes erläuterndes Beispiel ist gedacht, einen Aufzeichnungslaserstrahl in eine optimale Wellenform entsprechend dem Typ einer optischen Platte und einer Abweichung der Lineargeschwindigkeit bezüglich des Abtastens der Platte zu korrigieren.
Wie in 1 gezeigt, wechselt ein Eingangssignal (beispielsweise ein sich aus einer Modulation ergebendes 8-16-Signal) periodisch zwischen einem logischen H-Zustand und einem logischen L-Zustand. Im Fall, bei dem die Lineargeschwindigkeit bezüglich dem Abtasten der Platte kleiner als eine voreingestellte Geschwindigkeit ist, wird der Laserstrahl in eine Aufzeichnungswellenform WA0 mit Folgen von kurzen Impulsen (nahe beieinaderliegenden Impulsen) moduliert. Die Laserstrahlleistung wechselt zwischen einem Löschpegel Pe und einem Aufzeichnungspegel Pw. Jede Laserstrahlimpulsfolge bei der Aufzeichnungswellenform WA0 gehört zum Eingangssignal, das sich kontinuierlich im logischen H-Zustand befindet. Der erste Impuls in der Folge ist breiter als der zweite Impuls und die nachfolgenden Impulse. Die Anzahl der Impulse in der Folge erhöht sich, wenn das Zeitintervall, für das sich das Eingangssignal kontinuierlich im logischen H-Zustand befindet, erhöht.
Im Fall, bei dem die Lineargeschwindigkeit bezüglich dem Abtasten der Platte gleich oder größer einer voreingestellten Geschwindigkeit ist, wird der Laserstrahl in eine Aufzeichnungswellenform WB0 mit breiten Impulsen moduliert, wie in 1 gezeigt. Die Laserstrahlleistung wechselt zwischen einem Löschpegel Pe und einem Aufzeichnungspegel Pw. Jeder Laserstrahlimpuls bei der Aufzeichnungswellenform WB0 gehört zum Eingangssignal, das sich kontinuierlich im logischen H-Zustand befindet. Die Dauer des Laserstrahlimpulses ist etwas kürzer als das entsprechende Zeitintervall, für das sich das Eingangssignal kontinuierlich im logischen H-Zustand befindet.
Es wurden Experimente durchgeführt, um die Beziehung zwischen der Lineargeschwindigkeit bezüglich des Abtastens einer optischen Platte im Phasenwechselbetrieb und der Wellenformverzerrung eines von der Platte wiederhergestellten Signals zu bestimmen. Während der Experimente wurden Signalaufzeichnung und Signalwiederherstellung auf beziehungsweise von der Platte ausgeführt, wobei die Lineargeschwindigkeit und die Aufzeichnungswellenform geändert wurden.
Wie in 2 gezeigt, beinhaltete die verwendete optischen Platte im Phasenwechselbetrieb ein aus Polycarbonat hergestelltes Substrat 1. Der Durchmesser der Platte betrug 120 mm. Die Platte wurde mit einer Signalaufzeichnungsspur gebildet. Eine dielektrische Schicht 3, eine Aufzeichnungsschicht 2, eine dielektrische Schicht 4 und eine reflektierende Schicht 5 wurden nacheinander in der genannten Reihenfolge auf dem Substrat 1 geschichtet. Die Aufzeichnungsschicht 2 wurde aus Germanium-Antimon-Tellur hergestellt. Sie hatte eine Schichtdicke von 20 nm. Die dielektrischen Schichten 3 und 4 wurden aus Zinksulfid hergestellt. Die dielektrische Schicht 3 hatte eine Schichtdicke von 150 nm. Die dielektrisch Schicht 4 hatte eine Schichtdicke von 15 nm. Die reflektierende Schicht 5 wurde aus Gold hergestellt. Sie hatte eine Schichtdicke von 50 nm.
Nachdem die gesamte Oberfläche der Aufzeichnungsschicht 2 der Platte kristallisiert war (das heißt, nachdem ein Signal vollständig von der gesamten Oberfläche der Aufzeichnungsschicht 3 der Platte gelöscht war), wurde die Platte von einem auf ein Eingangssignal ansprechender Laserstrahl abgetastet. Besonders während sich die Platte drehte, wurde der auf das Eingangssignal ansprechende Laserstrahl mit einem Aufzeichnungsleistungspegel zeitweise auf die Oberfläche der Aufzeichnungsschicht 2 angewendet. Abschnitte der Oberfläche der Aufzeichnungsschicht 2, die dem Aufzeichnungsleistungspegel-Laserstrahl ausgesetzt waren, änderten sich in einen amorphen Zustand Als Folge wurde das Eingangssignal auf der Aufzeichnungsschicht 2 als Aufzeichnungszeichen, das durch die entsprechenden amorphen Abschnitte der Oberfläche der Aufzeichnungsschicht 2 gebildet wurde, aufgezeichnet. Die Lineargeschwindigkeit bezüglich des Abtastens der Platte wurde zwischen 1,5 m/s, 3 m/s, 6 m/s und 9 m/s verändert. Das Eingangssignal war ein sich aus einer Modulation ergebendes 8-16-Signal. Der Laserstrahl wurde von einem Halbleiterlaser ausgesendet. Das Eingangssignal wurde auf der Platte aufgezeichnet, indem eine Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WA auf der Grundlage der Aufzeichnungswellenform WA0 verwendet wurde (siehe 1). Zusätzlich wurde das Eingangssignal auf der Platte aufgezeichnet, indem eine Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WB, entsprechend der Aufzeichnungswellenform WB0 (siehe 1), verwendet wurde.
Wie in 3 gezeigt, wurde das sich aus einer Modulation ergebende 8-16-Signal (das Eingangssignal) periodisch zwischen einem logischen H-Zustand und einem logischen L-Zustand geändert. Ein Taktsignal (ein Bit-Taktsignal) bezüglich des sich aus einer Modulation ergebenden 8-16-Signals hatte eine Periodendauer T. Die Periodendauer T wird auch mit T bezeichnet. Wie in 3 gezeigt, wurde die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WA als Antwort auf das sich aus einer Modulation ergebende 8-16-Signal (das Eingangssignal) erzeugt. Entsprechend der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WA änderte sich die Laserstrahlleistung (oder die Laserstrahlintensität) zwischen einem Löschpegel Pb und einem Aufzeichnungspegel Pp. Es sei angemerkt, daß der Löschpegel Pb und der Löschpegel Pp veränderbar sein können. Die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WA hatte Folgen von kurzen Impulsen (nahe beieinanderliegenden Impulsen). Jede Laserstrahlimpulsfolge bei der Aufzeichnungswellenform WA entsprach dem sich aus einer Modulation ergebenden 8-16- Signal, das sich kontinuierlich im logischen H-Zustand befand. Beim Auftreten der ansteigenden Flanke des ersten Impulses bei der Folge folgt das Auftreten der ansteigenden Flanke beim sich aus einer Modulation ergebenden 8-16-Signal durch ein Zeitintervall Ta, das auf T gesetzt wird. Der erste Impuls in der Folge hatte eine Breite oder eine Zeitdauer Tb, die auf 1,5 T eingestellt wurde. Der zweite Impuls und die nachfolgenden Impulse der Folge hatte eine Breite oder eine Zeitdauer Td, die auf 0,5T eingestellt wurde. Es sei angemerkt, daß die Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td veränderbar sein können. Ein zur Erzeugung der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WA verwendetes Taktsignal hatte doppelt so hohe Frequenz wie die Frequenz des Taktsignals bezüglich des sich aus einer Modulation ergebenden 8-16-Signals.
Wie in 3 gezeigt, wurde die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WB als Antwort auf das sich aus einer Modulation ergebende 8-16-Signal (das Eingangssignal) erzeugt. Entsprechend der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WB wechselte die Laserstrahlleistung (oder die Laserstrahlintensität) zwischen einem Löschpegel Pb und einem Aufzeichnungspegel Pp. Die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WB hatte breite Impulse. Jeder Laserstrahlimpuls bei der Aufzeichnungswellenform WB gehörte zu einem sich aus einer Modulation ergebenden 8-16-Signal, das sich kontinuierlich im logischen H-Zustand befand. Die Zeitdauer des Laserstrahlimpulses ist kürzer als das entsprechende Zeitintervall, für das sich das Eingangssignal kontinuierlich im logischen H-Zustand befindet, dessen Wert auf T eingestellt wird. Beim Auftreten der ansteigenden Flanke des Laserstrahlimpulses folgt das Auftreten der ansteigenden Flanke beim sich aus einer Modulation ergebenden 8-16-Signal mit einem Zeitintervall, das auf T eingestellt ist.
Die Frequenz des auf das sich aus einer Modulation ergebende 8-16-Signal bezogene Taktsignal wurde als Antwort auf die plattenabtastende Lineargeschwindigkeit verändert, wodurch die Längen der Aufzeichnungszeichen auf der Platte, unabhängig von der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit, konstant blieben. Insbesondere betrug die Taktfrequenz 4,3 MHz, wenn die Lineargeschwindigkeit 1,5 m/s betrug. Die Taktfrequenz betrug 8,6 MHz, wenn die Lineargeschwindigkeit 3 m/s betrug. Die Taktfrequenz betrug 17,2 MHz, wenn die Lineargeschwindigkeit 6 m/s betrug. Die Taktfrequenz betrug 25,8 MHz, wenn die Lineargeschwindigkeit 9 m/s betrug.
Nachdem das Signal auf der Platte aufgezeichnet war, wurde das Signal von dort wiederhergestellt. Die Wellenformverzerrung des wiederhergestellten Signals wurde quantitativ bewertet. Insbesondere wurde das wiederhergestellte Signals in ein Binärsignal (eine zweiwertiges Signal) umgesetzt. Das Binärsignal wurde einer Zeitintervallanalyse-Vorrichtung zugeführt, wodurch der Jitterbetrag des Binärsignals als eine Phasensicherheit erfaßt wurde. Die Fehler der Stellungen der ansteigenden und der abfallen Flanken der Aufzeichnungszeichen nahmen ab, und folglich nahmen die Verzerrungen der Aufzeichnungszeichen ab, wenn die Phasensicherheit zunahm.
Während der Experimente wurde die Phasensicherheit für jede optischen Platte der verschiedenen Typen gemessen. 4 zeigt die durch die Experimente erhaltene Beziehung zwischen der Veränderung in der Phasensicherheit und der Lineargeschwindigkeit bezüglich des Abtastens der Platten. Die Aufzeichnungswellenform WA wurde bei der Lineargeschwindigkeit 1,5 m/s beziehungsweise 3,0 m/s beziehungsweise 6,0 m/s verwendet. Die Aufzeichnungswellenform WB wurde bei der Lineargeschwindigkeit 9,0 m/s verwendet. Unter Bezugnahme auf 4 erhöhte sich die Phasensicherheit, wenn sich die Lineargeschwindigkeit erhöhte. Wie in 5 gezeigt, hängt die Beziehung zwischen der Phasensicherheit und der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit von der Umgebungstemperatur der Platte ab. Insbesondere erhöhte sich die Phasensicherheit, wenn sich die Temperatur der Platte erhöhte. Wie in 6 gezeigt, wurde der Aufzeichnungsleistungspegel Pp des Laserstrahls auf der Platte und mit der Wellenform WA entsprechend mit steigender plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit erhöht. Der Löschleistungspegel Pb des Laserstrahls auf der Platte blieb unabhängig von Typ der aufzuzeichnenden Wellenform konstant und unabhängig von der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit.
Wie auf 4 hervorgeht, ist die Aufzeichnungswellenform WA dahingehend gut, daß die Phasensicherheit ansteigt, wenn die plattenabtastende Lineargeschwindigkeit ansteigt. Im Fall der Aufzeichnungswellenform WA variiert die Phasensicherheit von Platte zu Platte. Es wird in 5 gezeigt, daß die Phasensicherheit von der Umgebungstemperatur der Platte abhängt. Die Ursache für die Abhängigkeit der Phasensicherheit von der Umgebungstemperatur der Platte ist folgende: Signalüberschreiben wird auf der Platte durch die Temperatur bestimmt, auf die die Aufzeichnungsschicht der Platte aufgeheizt wird. Die Temperatur, auf die die Aufzeichnungsschicht der Platte aufgeheizt wird, weicht vom optimalen Wert aufgrund einer Schwankung bei der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit, einer Änderung bei der Umgebungstemperatur der Platte und einer Änderung von Platte zu Platte bei diesen Bedingungen ab. Wie in 65 gezeigt, wird der Aufzeichnungsleistungspegel Pp des Laserstrahls relativ groß eingestellt, da die Aufzeichnungswellenform WA pulsierende Energie der Aufzeichnungsschicht der Platte zuführt. Folglich wird ein Hochleistungshalbleiterlaser zur Ansteuerung der Platte bei hoher Lineargeschwindigkeit verwendet.
7 zeigt eine Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WC, die die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WA ersetzen kann (siehe 3). Die Aufzeichnungswellenform WC ähnelt der Aufzeichnungswellenform WA, außer in folgenden Punkten: Bei der Aufzeichnungswellenform WC in 7 ist während eines begrenzten Zeitintervalls, das unmittelbar jeder Impulsfolge vorangeht, die Laserstrahlleistung niedriger als der Löschpegel Pb. Im Fall, bei dem die Intervalle zwischen den Aufzeichnungszeichen relativ eng sind, tritt Wärmestörung dahingehend auf, daß die Wärme der Bildung eines Aufzeichnungszeichens rückwärtig in einen Plattenabschnitt diffundiert, um von einem Aufzeichnungsleistungslaserstrahl als nächstes belichtet zu werden, und als Folge ist ein Aufzeichnungszeichen eine größer in der Abmessung. Die Aufzeichnungswellenform WC vermindert den Effekt der Wärmestörung. Als Folge ist die Aufzeichnungswellenform WC vorteilhaft, beim Erhöhen der Phasensicherheit. Im Fall, bei dem das begrenzte Zeitintervall, für das die Laserstrahlleistung niedriger als der Löschpegel Pb ist, sehr lang ist, erreicht die Aufzeichnungsschicht der Platte die Kristallisationstemperatur nicht, und als Folge wird das aufgezeichnete Signal nicht gelöscht. Um einem solchen Problem vorzubeugen, ist es sinnvoll, daß das begrenzte Zeitintervall "τ", für das die Laserstrahlleistung niedriger als der Löschpegel Pb ist, folgende Beziehung der Laserstrahlwellenlänge "λ" und der Relativgeschwindigkeit "V" zwischen dem Laserstrahlpunkt und der Platte aufweist: τ ≤ λ/V. (1)
So lang die Beziehung (1) gilt, wird die Aufzeichnungsschicht bei einem Plattenabschnitt, der einem Aufzeichnungszeichen zugewiesen ist, mit Sicherheit auf die Kristallisationstemperatur durch Anwendung des Aufzeichnungsleistungslaserstrahls aufgeheizt und auch die Anwendung des Löschleistungslaserstrahl auf eine vorangegangen Plattenabschnitt.
Die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WC läßt sich wie folgt modifizieren: Entsprechend einer ersten Modifikation der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WC ist nur während des begrenzten Zeitintervalls unmittelbar vor jeder Impulsfolge die Laserstrahlleistung niedriger als der Löschpegel Pb. Entsprechend einer zweiten Modifikation der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WC ist nur während des begrenzten Zeitintervalls, das sich unmittelbar jeder Impulsfolge anschließt, die Laserstrahlleistung niedriger als er Löschpegel Pb.
Bei der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WC kann der niedrige Laserstrahlleistungspegel, der während jedem begrenzten Zeitintervalls auftritt, gleich einem wiederherstellbaren Leistungspegel oder einem Null-Leistungspegel sein. In diesem Fall kann der Aufbau des Plattenlaufwerks einfach sein.
Die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WB (siehe 3) läßt sich wie folgt modifizieren: Entsprechend einer ersten Modifikation der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WB ist nur während des begrenzten Zeitintervalls unmittelbar vor jeder Impulsfolge die Laserstrahlleistung niedriger als der Löschpegel Pb. Entsprechend einer zweiten Modifikation der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WB ist die Laserstrahlleistung nur während des begrenzten Zeitintervalls, das jedem Impuls vorangeht, niedriger als der Löschpegel Pb. Entsprechend einer dritten Modifikation der Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WB ist die Laserstrahlleistung nur während des begrenzten Zeitintervalls, das sich unmittelbar jedem Impuls anschließt, niedriger als der Löschpegel Pb.
8 zeigt die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WD, die die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WC (siehe 7) oder die Laserstrahl-Aufzeichnungswellenform WA (siehe 3) ersetzen kann. Die Aufzeichnungswellenform WD ähnelt der Aufzeichnungswellenform WC außer in folgendem Punkt: Entsprechend der Aufzeichnungswellenform WD in 8 wechselt die Leistung bei jeder Impulsfolge zwischen dem Aufzeichnungspegel Pp und dem Wiederherstellungspegel (oder einem Null-Pegel). Die Aufzeichnungswellenform WD bewirkt bei jeder Stellung bei einem Aufzeichnungszeichen eine schnelle Abkühlung nach der Schmelze. Folglich ist es möglich ein Aufzeichnungszeichen stabil zu bilden. Zusätzlich zeigt sich die Aufzeichnungswellenform WD vorteilhaft bei dem Erhöhen der Phasensicherheit.
9 zeigt eine Informationssignalaufzeichnungs- und Informationswiederherstellungsvorrichtung entsprechend dem ersten erläuternden Beispiel. Die Vorrichtung in 9 arbeitet mit einer wiederbeschreibbaren optischen Platte wie eine DVD-RW. Die DVD-RW wird auf der Grundlage einer konstanten Lineargeschwindigkeit angetrieben. Die Sektoren der DVD-RW verlaufen längs einer spiralförmigen Aufzeichnungsspur. Ein Sektor besteht aus 16 Bytes, denen eine Adresse zugeordnet ist, und 2048 Bytes sind Daten zugewiesen. Beim Betrachten der DVD-RW ist ein fehlerkorrigierender Codeblock (ECC-Block, Error Correcting Code) mit 16 Sektoren die Minimalgröße für eine Fehlerkorrektur. Auch ist ein fehlerkorrigierender Codeblock die Minimalgröße für die Signalwiederherstellung vom oder die Signalaufzeichnung auf die DVD-RW.
Wie in 10 gezeigt ist die DVD-RW in einen inneren Bereich EA und in einen äußeren Bereich EB unterteilt. Wird der innere Rand des Bereichs EA von einem Laserstrahl abgetastet, beträgt die Umdrehungsdauer der Platte etwa 40 ms. Wird die der äußere Rand des Bereichs EB vom Laserstrahl abgetastet, beträgt die Umdrehungsdauer der Platte etwa 80 ms.
Die DVD-RW in 10 kann wie folgt ausgelegt sei: Beim inneren Bereich EA bilden zwei fehlerkorrigierendes Codeblöcke mit jeweils 16 Sektoren einen allgemeinen zugehörigen Einheitsblock. Beim äußeren Bereich EB bilden vier fehlerkorrigierende Codeblöcke einen allgemeinen zugehörigen Einheitsblock (eine allgemeine Wiederherstellungs- und Aufzeichnungseinheit).
Die Vorrichtung von 9 setzt sich zusammen: aus einer Tastatureingabeeinheit 10, einer Systemsteuereinheit 12, einem Signalprozessor 14, einem Servoprozessor 16, einer Antriebseinheit 18, einem Spindelmotor 20, einem optischen Kopf 24 (optischer Schreib-/Lesekopf), einer Verstärkereinheit 26, einem Speicher 28, einer Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 (in Zeichnung AV für Audio/Video) einem Speicher 32, einem Ein-/Ausgangsanschluß 34 und einem Temperatursensor 36.
Der Spindelmotor 20 dient dazu, eine wiederbeschreibbare optische Platte 22, wie beispielsweise eine DVD-RW, in Drehung zu versetzen. Während der Spindel-Motor 20 die optischen Platte 22 in Drehung versetzt, schreibt der optische Kopf 24 Informationen auf die Platte oder liest Informationen von der Platte aus. Der optische Kopf 24 ist mit der Verstärkereinheit 26 und der Antriebseinheit 18 verbunden. Die Verstärkereinheit 26 ist mit dem Servoprozessor 16 und dem Signalprozessor 14 verbunden. Die Antriebseinheit 18 ist mit dem Servoprozessor 16 verbunden. Der Signalprozessor 14 ist mit dem Speicher 28 und der Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 verbunden. Die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 ist mit dem Speicher 32 und dem Ein-/Ausgangsanschluß 34 verbunden. Die Systemsteuereinheit 12 ist mit der Tastatureingabeeinheit 10, dem Signalprozessor 14, dem Servoprozessor 16, der Verstärkereinheit 26 und der Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 verbunden. Der Temperatursensor 36 befindet sich in der Nähe der optischen Platte 22, die innerhalb der Vorrichtung angebracht ist. Der Temperatursensor 36 erfaßt eine Umgebungstemperatur der optischen Platte 22. Der Temperatursensor 36 ist mit der Verstärkereinheit 26 verbunden.
Der Spindelmotor 20 wird von der Antriebseinheit 18 angesteuert und geregelt. Der Spindelmotor 20 versetzt die optischen Platte 22 in Drehung. Der Spindelmotor 20 ist mit einem FG-Generator und einer drehbaren Lagenmeßvorrichtung (einer Drehlagenmeßeinrichtung) ausgerüstet. Die drehbaren Lagenmeßvorrichtung enthält beispielsweise ein Hall-Element. Der FG-Generator gibt ein FG-Signal (Drehzahlsignal) aus. Das Hall-Element gibt ein Drehlagensignal aus. Das FG-Signal und das Drehlagensignal werden der Antriebseinheit 18 rückgeführt.
Der optische Kopf 24 steht der optischen Platte 22, der innerhalb des Vorrichtung angeordnet ist, gegenüber. Der Vorschubmotor (hier nicht gezeigt) bewegt den optischen Kopf 24 radial bezüglich der optischen Platte 22. Der Vorschubmotor wird durch die Ansteuereinheit 18 angesteuert. Der optische Kopf 24 besteht aus einem Halbleiterlaser, einer Kollimatorlinse, und einer Objektlinse. Der Halbleiterlaser dient als eine Quelle, um einen Lichtstrahl (einen Laserstrahl) auszusenden. Der ausgesendete Laserstrahl wird als Laserfleck auf der optischen Platte 22 durch die Kollimator- und die Objektivlinse gebündelt. Der optische Kopf 24 enthält einen zweiachsigen Drehzahlregler zur Ansteuerung der Objektivlinse, um die Fokussierung und den Gleichlauf des Laserfleck bezogen auf die optischen Platte 22 auszuführen. Der Halbleiterlaser wird durch eine Laseransteuerschaltung in der Verstärkereinheit 26 angesteuert. Im Fall, bei dem ein Informationssignal wie ein akustisches Signal oder ein Audio-Video-Signal aufgezeichnet wird, wird das Informationssignal einer Wellenformkorrekturschaltung in der Verstärkereinheit 26 unterzogen, bevor es der Laseransteuerschaltung zugeführt wird. Der zweiachsige Drehzahlregler wird von der Antriebseinheit 18 angesteuert.
Die Tasteneingabeeinheit 10 enthält eine Vielzahl von Tasten, die vom Anwender bedient werden können. Die Tasteneingabeeinheit 10 erzeugt Befehlssignale entsprechend ihrer Bedienung durch den Anwender. Die Befehlssignale werden von der Tasteneingabeeinheit 10 an die Systemsteuereinheit 12 übertragen. Die Befehlssignale enthalten ein Befehlssignal zum Starten eines Aufzeichnungsbetriebs des Verarbeitungsvorgangs der Vorrichtung, und ein Befehlssignal zum Starten eines Wiedergabebetriebs des Verarbeitungsvorgangs der Vorrichtung. Die Tasteneingabeeinheit 10 erzeugt Steuerdaten entsprechend der Bedienung durch den Anwender. Die Steuerdaten werden von der Tasteneingabeeinheit 10 an den Systemsteuereinheit 12 übertragen.
Die Systemsteuereinheit 12 enthält beispielsweise einen Mikrocomputer oder eine ähnliche Einheit, die mit einem Programm arbeitet, das im internen ROM (Read-only Memory) abgespeichert ist. Die Systemsteuereinheit 12 steuert den Signalprozessor 14, den Servoprozessor 16 die Verstärkerschaltung 26 und die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 als Antwort auf die Befehlssignale an, die von der Tasteneingabeeinheit 10 zugeführt werden.
Die Steuerdaten können dem Systemsteuereinheit 12 über einen Eingangsanschluß (hier nicht gezeigt) zugeführt werden. Die der Systemsteuereinheit 12 über den Eingangsanschluß zugeführten Steuerdaten und die der Systemsteuereinheit 12 von der Tasteneingabeeinheit 10 zugeführten Steuerdaten enthalten ein Signal zur Justierung der Bildauflösung, dargestellt durch die aufzuzeichnende Inhaltsinformation, ein Signal zum Trennen schnellablaufender Vorgänge wie Autorennen, dargestellt durch die Inhaltsinformation, und ein Signal, um einer Aufzeichnungszeit Priorität einzuräumen. Die Systemsteuereinheit 12 ändert eine aktuelle Aufzeichnungszeit entsprechend den Steuerdaten. Die Änderung der aktuellen Aufzeichnungszeit wird vorgenommen, indem beispielsweise eine vom Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 verwendete Datenkomprimierungsgeschwindigkeit geändert wird. Die Systemsteuereinheit 12 ermöglicht, daß die aktuellen Aufzeichnungszeit durch den Anwender eingestellt wird.
Wird die Vorrichtung aufgefordert, den Wiedergabebetrieb zu starten, wird die Tasteneingabeeinheit 10 aktiviert, um das Wiedergabestartbefehlssignal zu erzeugen. Das Wiedergabestartbefehlssignal wird von der Tasteneingabeeinheit 10 an die Systemsteuereinheit 12 übertragen. Die Systemsteuereinheit 12 steuert als Antwort auf das Wiedergabestartbefehlssignal den Servoprozessor 16 und die Verstärkereinheit 26 an, wobei der Wiedergabebetrieb der Vorrichtung gestartet wird. Die Steuerung des Servoprozessors 16 enthält Schritte zur Ansteuerung der Antriebseinheit 18. Als erstes startet die Systemsteuereinheit 12 die Rotation der optischen Platte 22, und die Einwirkung eines Laserflecks hierauf durch die Ansteuerung der Antriebseinheit 18. Der optische Kopf 24 wird durch die Antriebseinheit 18 angesteuert, wobei die Adreßinformation von der optischen Platte 22 ausgelesen wird. Die ausgelesene Adreßinformation wird vom optischen Kopf 24 an die Systemsteuereinheit 12 durch die Verstärkereinheit 26 übertragen. Die Systemsteuereinheit 12 findet oder bestimmt einen Zielsektor (einen Zielspurabschnitt), dessen Inhalt durch Bezugnahme auf die Adreßinformation wiedergegeben werden soll. Die Systemsteuereinheit 12 steuert den optischen Kopf 24 über den Servoprozessor 16, die Antriebseinheit 18 und den Vorschubmotor an, wobei der optische Kopf 24 radial bezüglich der optischen Platte 22 bewegt wird, und folglich den Laserfleck zum Zielsektor auf der optischen Platte 22 bewegt. Ist die Bewegung des Laserflecks auf den Zielsektor beendet, beginnt die Systemsteuereinheit 12 mit dem Start der Wiederherstellung eines Signals vom Zielsektor auf der optischen Platte 22. Auf diese Weise wird der Wiedergabebetrieb der Vorrichtung gestartet. Während des Wiedergabebetriebs der Vorrichtung wird der Zielsektor laufend von einem zum anderen Sektor geändert.
Während des Wiedergabebetriebs der Vorrichtung tastet der optische Kopf 24 die optischen Platte 22 ab, und er erzeugt ein wiederhergestelltes Hochfrequenzsignal, das die von der optischen Platte 22 ausgelesene Information enthält. Der optische Kopf 24 führt das Hochfrequenzsignal der Verstärkereinheit 26 zu. Die Verstärkereinheit 26 verstärkt das vom optische Kopf 24 gelieferte Signal. Die Verstärkereinheit 26 erzeugt ein Hauptwiederherstellungssignal aus dem verstärkten Hochfrequenzsignal. Zusätzlich erzeugt die Verstärkereinheit 26 ein Servofehlersignal (Verfolgungs- und Fokussierungsservofehlersignale) vom Ausgangssignal des optischen Kopfs 24. Die Verstärkereinheit 26 enthält eine Entzerrerschaltung zur Optimierung der Frequenzerscheinung des Hauptwiederherstellungssignals. Die Verstärkereinheit 26 enthält auch eine PLL-Schaltung (Phase Locked Loop, Phasenregelkreis), um ein Bittaktsignal vom entzerrten Hauptwiederherstellungssignal zu bilden, und um ein Geschwindigkeitsservosignal vom entzerrten Hauptwiederherstellungssignal zu erzeugen. Darüber hinaus enthält die Verstärkereinheit 26 einen Jittergenerator zum Vergleichen der Zeitbasis des Bittaktsignals und des entzerrten Hauptwiederherstellungssignals und zum Erfassen von Jitteranteilen aus dem Ergebnis des Zeitbasisvergleichs. Eine Signal des erfaßten Jitteranteils wird von der Verstärkereinheit 26 an den Systemsteuereinheit 12 übertragen. Die Verfolgungs- und Fokussierungsservosignale und das Geschwindigkeitsservosignal werden von der Verstärkereinheit 26 an den Servoprozessor 16 übertragen. Das entzerrte Hauptwiederherstellungssignal wird von der Verstärkereinheit 26 an den Signalprozessor 14 übertragen.
Der Servoprozessor 16 empfängt das Geschwindigkeitsservosignal und die Verfolgungs- und Fokussierungsservosignale von der Verstärkereinheit 26. Der Servoprozessor 16 empfängt das Rotationsservosignal vom Spindelmotor 20 über die Antriebseinheit 18. Als Antwort auf diese Servosignale führt der Servoprozessor 16 entsprechende Servosteuerungsvorgänge aus.
Insbesondere erzeugt der Servoprozessor 16 ein Rotationssteuerungssignal auf der Grundlage des Geschwindigkeitsservosignals und des Rotationsservosignals. Das Rotationssteuerungssignal wird vom Servoprozessor 16 an den Spindelmotor 20 über die Antriebseinheit 18 übertragen. Der Spindelmotor 20 dreht mit einer Geschwindigkeit in Abhängigkeit vom Rotationssteuerungssignal. Das Rotationssteuerungssignal ist ausgelegt, die optischen Platte 22 bei einer bestimmten konstanten Lineargeschwindigkeit oder bei einer vorgegebenen konstanten Lineargeschwindigkeit zu drehen.
Zusätzlich erzeugt der Servoprozessor 16 Servosteuersignale auf der Grundlage der Fokussierungs- und Verfolgungsservosignale. Die Servosteuersignale werden vom Servoprozessor 16 an den zweiachsigen Drehzahlregler im optische Kopf 24 über die Antriebseinheit 18 übertragen. Der zweiachsige Drehzahlregler steuert den Laserfleck auf der optischen Platte 22 als Antwort auf die Servosteuersignale, und hierbei wird die Fokussierung und die Verfolgung des Laserflecks bezüglich der optischen Platte 22 ausgeführt.
Während des Wiederherstellungsbetriebs der Vorrichtung empfängt der Signalprozessor 14 das Hauptwiederherstellungssignal von der Verstärkereinheit 26. Der Signalprozessor 14 wird vom Systemsteuereinheit 12 angesteuert, wobei das Hauptwiederherstellungssignal in ein entsprechendes digitales Wiederherstellungssignal umgesetzt wird. Der Signalprozessor 14 erfaßt ein Synchronsignal vom digitales Wiederherstellungssignal. Der Signalprozessor 14 decodiert ein sich aus einer Modulation ergebendes 8-16-Signal aus dem digitalen Wiederherstellungssignal in ein Ohne-Rückkehr-nach-Null-Datum. Der Signalprozessor 14 unterzieht das Ohne-Rückkehr-nach-Null-Datum einem Fehlerkorrekturvorgang für jeden Korrekturblock (jeden fehlerkorrigierenden Codeblock), wobei ein Sektoradreßsignal und erste sowie zweite Informationssignale erzeugt werden. Das Sektoradreßsignal stellt die Adresse dar, auf deren Sektor auf der optischen Platte 22 derzeit zugegriffen wird. Das Synchronisierungssignal und das Sektoradreßsignal werden vom Signalprozessor 14 der Systemsteuereinheit 12 zugeführt.
Während des Wiederherstellungsbetriebs der Vorrichtung speichert der Signalprozessor 14 das erste und das zweite Informationssignal im Speicher 28 zwischen. Das heißt, der Signalprozessor 14 schreibt das erste und das zweite Informationssignal in den Speicher 28 ein, und er liest das erste und das zweite Informationssignal aus dem Speicher aus. Das Einschreiben beziehungsweise das Auslesen des ersten und des zweiten Informationssignals in beziehungsweise aus dem Speicher 28 wird gesteuert, um eine Zeitbereichsänderung bei der Übertragungsgeschwindigkeit des ersten und des zweiten Informationssignals zu aufzufangen. Der Speicher 28 enthält beispielsweise ein D-RAM (Dynamic Random Access Memory) mit einer Speicherkapazität von 64 MB. Der Signalprozessor 14 gibt das Auslesesignal (das erste und das zweite vom Speicher 28 ausgelesene Informationssignal) an die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 aus.
Im Fall, bei dem die vom Speicher 28 über den Signalprozessor 14 gelieferte ersten und die zweiten Informationssignale komprimierte Daten sind (beispielsweise MPEG2-Daten; Moving Pictures Expert Group), bei denen die Audiodaten und die Videodaten gebündelt sind, trennt die Audio-/Video-Codierungs- /Decodierungseinheit 30 die ersten und die zweiten Informationssignale in komprimierte Audio- beziehungsweise Videodaten auf. Die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 dekomprimiert und decodiert die komprimierten Audio-Daten in nicht komprimierte Audio-Daten. Zusätzlich dekomprimiert und decodiert die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 die komprimierten Video-Daten in nicht komprimierte Video-Daten. Während des dekomprimierenden Decodiervorgangs speichert die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 Signale und Daten im Speicher 32 zwischen. Der Speicher 32 enthält beispielsweise ein D-RAM mit einer Speicherkapazität von 64 M. Die Audio/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 setzt die nichtkomprimierten Audiodaten mit Hilfe einer Digital-/Analog-Umsetzung in ein entsprechendes analoges Audiosignal um. Auch setzt die Audio/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 die nichtkomprimierten Videodaten mit Hilfe einer Digital-/Analog-Umsetzung in ein entsprechendes analoges Videosignal um. Die Audio/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 führt das analoge Audiosignal und das analoge Videosignal dem Ein-/Ausgangsanschluß 34 zu. Das analoge Audiosignal und das analoge Videosignal werden über den Ein-/Ausgangsanschluß 34 nach Außen geführt.
Die Datengeschwindigkeit des Dekomprimierungsdecodierungsvorgangs durch die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30, das heißt die Datenübertragungsgeschwindigkeit beim Dekomprimierungsdecodierungsvorgang wird einer Dekomprimierungsdatengeschwindigkeit gleichgesetzt, die entsprechend dem Typ des entsprechenden Aufzeichnungsbetriebs der Vorrichtung eingestellt wird. Insbesondere kann die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 den Dekomprimierungsdecodierungsvorgang mit einer Dekomprimierungsdatengeschwindigkeit ausgeführt werden, die unter den vielen unterschiedlichen Dekomprimierungsdatengeschwindigkeiten geändert werden kann. Die Audio/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 wählt eine aus den vielen unterschiedlichen Dekomprimierungsdatengeschwindigkeiten als eine bestimmte Dekomprimierungsdatengeschwindigkeit entsprechend dem Typ des bezüglichen Aufzeichnungsbetriebs der Vorrichtung aus. Die Audio/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 führt den Dekomprimierungscodierungsvorgang mit der bestimmten Dekomprimierungsdatengeschwindigkeit aus. Die Information des Typs des Aufzeichnungsbetrieb der Vorrichtung wird auf der optischen Platte 22 als Steuerdaten aufgezeichnet. Während der Anfangsstufe der Wiedergabe der optischen Platte 22 werden die Steuerdaten der optischen Platte ausgelesen, bevor sie zur Systemsteuereinheit 12 übertragen werden. Die Systemsteuereinheit 12 stellt die Dekomprimierungsdatengeschwindigkeit bei der Audio/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 entsprechend den Steuerdaten ein.
Wird die Vorrichtung aufgefordert, damit zu beginnen, im Aufzeichnungsbetrieb zu arbeiten, wird die Tasteneingabeeinheit 10 betätigt, um das Startbefehlssignal der Aufzeichnung zu erzeugen. Das Startbefehlssignal der Aufzeichnung wird von der Tasteneingabeeinheit 10 an die Systemsteuereinheit 12 übertragen. Die Systemsteuereinheit 12 steuert den Servoprozessor 16 und die Verstärkereinheit 26 Antwort auf das Startbefehlssignal der Aufzeichnung an, wobei der Aufzeichnungszeichnungsbetrieb der Vorrichtung gestartet wird. Die Steuerung des Servoprozessors 16 enthält Schritte der Ansteuerung der Antriebseinheit 18. Als erstes startet die Systemsteuereinheit 12 das Drehen der optischen Platte 22 und das Anwenden des Laserflecks hierauf über die Ansteuerung der Antriebseinheit 18. Der optische Kopf 24 wird von der Antriebseinheit 18 angesteuert, wobei die Adreßinformation der optischen Platte 22 ausgelesen wird. Die ausgelesene Adreßinformation wird vom optische Kopf 24 über die Verstärkereinheit 26 an die Systemsteuereinheit 12 übertragen. Die Systemsteuereinheit 12 findet, oder sie bestimmt einen Zielsektor (einen Zielspurenabschnitt), auf dem sich ein aufzuzeichnendes Signal befindet, indem sie auf die Adreßinformation zurückgreift. Die Systemsteuereinheit 12 steuert den optische Kopf 24 über den Servoprozessor 16 und die Antriebseinheit 18 an, wobei der Laserfleck zum Zielsektor auf der optischen Platte 22 bewegt wird. Während des Aufzeichnungszeichnungsbetriebs der Vorrichtung wird der Zielsektor periodisch von einem zum anderen Sektor geändert.
Während des Aufzeichnungszeichnungsbetriebs der Vorrichtung werden ein aufzuzeichnendes Audiosignal und ein aufzuzeichnendes Videosignal über den Ein-/Ausgangsanschluß 34 der Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 zugeführt. Die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 Setzt das Audiosignal in entsprechende Audiodaten durch Analog-/Digital-Umsetzung um. Darüber hinaus setzt die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 das Videosignal in entsprechende Videodaten durch Analog-/Digital-Umsetzung um. Die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 codiert die Audiodaten und die Videodaten in komprimierte Audiodaten und in komprimierte Videodaten (beispielsweise in MPEG2-Audiodaten und in MPEG2-Videodaten) mit einer Geschwindigkeit, die vom Typ des Aufzeichnungsbetriebs abhängt. Die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 bündelt die komprimierten Audiodaten und die komprimierten Videodaten, um gebündelte Speicherdaten zu bilden. Die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 gibt die gebündelten gebündelte Speicherdaten an den Signalprozessor 14 aus. Die Datengeschwindigkeit des Codierungsvorgangs durch die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30, das heißt, die Datenübertragungsgeschwindigkeit beim Komprimierungscodierungsvorgang wird der Komprimierungsdatengeschwindigkeit gleichgesetzt, die unter verschiedenen Geschwindigkeiten entsprechend dem Typ des Aufzeichnungszeichnungsbetriebs der Vorrichtung ausgewählt wird. Während des Codierungsvorgangs speichert die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 Daten im Speicher 32 zwischen.
Während des Aufzeichnungszeichnungsbetriebs der Vorrichtung addiert der Signalprozessor 14 fehlerkorrigierende Codesignale (ECC-Signale oder PI- und PO-Signale) zu den gebündelten Speicherdaten hinzu. Der Signalprozessor 12 unterzieht die ECC-addierten Daten Ohne-Rückkehr-nach-Null- und 8-16-Modulations-Codiervorgängen. Der Signalprozessor 14 addiert ein Synchronisierungssignal zu den sich aus der Codierung ergebenden Speicherdaten, um ein mit einem Synchronisierungssignal versehene Speicherdaten zu bilden. Das Synchronisierungssignal wird von der Systemsteuereinheit 12 zugeführt. Die mit einem Synchronisierungssignal versehenen Speicherdaten werden im Speicher 28 zwischengespeichert. Die mit einem Synchronisierungssignal versehene Speicherdaten werden aus dem Speicher 28 mit einer Datengeschwindigkeit entsprechend einer Datengeschwindigkeit der Signalaufzeichnung der optischen Platte 22 ausgelesen. Der Signalprozessor 14 unterzieht die auszulesenden gebündelte Speicherdaten einer vorgegebenen Modulation zur Aufzeichnung. Der Signalprozessor 14 gibt das sich durch die Modulation ergebende Signal an die Verstärkereinheit 26 aus. Das Ausgangssignal des Signalprozessor 14 ist ein sich aus einer Modulation ergebendes 8-16-Signal. Die Verstärkereinheit 26 korrigiert die Wellenform des vom Signalprozessor 14 ausgegebenen Signals. Die Verstärkereinheit 26 erzeugt ein Laseransteuerungssignal als Antwort auf das sich ergebende Wellenformkorrektursignal. Die Verstärkereinheit 26 gibt das Laseransteuerungssignal an den optische Kopf 24 aus. Der optische Kopf 24 zeichnet das Ausgangssignal der Verstärkereinheit 26 auf dem Zielsektor (dem Zielspurabschnitt) auf der optischen Platte 22 auf.
Wie in 11 gezeigt, enthält die Verstärkereinheit 26 eine Servofehlersignalerzeugungsschaltung 49, einen Hochfrequenzverstärker 50, eine Entzerrerschaltung 52, eine PLL-Schaltung 54, eine Jittersignalerzeugungsschaltung 56, eine Laseransteuerschaltung 58, eine Wellenformkorrekturschaltung 60, ein Schalter 62, eine Testmustererzeugungsschaltung 64, eine Temperaturerfassungsschaltung 66, eine Asymmetrieerfassungsschaltung 70, eine PLL-Schaltung 71, eine Wobbelerfassungsschaltung 72, eine Adreßerfassungsschaltung 73 und eine Taktsignalerzeugungsschaltung 74.
Die Servofehlersignalerzeugungsschaltung 49 ist mit dem optische Kopf 24, dem Servoprozessor 16, der Wobbelerfassungsschaltung 72, und der Adreßerfassungsschaltung 73 verbunden. Die Wobbelerfassungsschaltung 72 ist mit der PLL-Schaltung 71 verbunden. Die PLL-Schaltung 71 ist mit der Taktsignalerzeugungsschaltung 74 und dem Signalprozessor 14 verbunden. Die Adreßerfassungsschaltung 73 ist mit der Taktsignalerzeugungsschaltung 74, der Systemsteuereinheit 12 und dem Signalprozessor 14 verbunden. Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 ist mit der Jittersignalerzeugungsschaltung 56, der Asymmetrieerfassungsschaltung 70, der Testmustererzeugungsschaltung 64, der Systemsteuereinheit 12 und dem Signalprozessor 14 verbunden.
Der Hochfrequenzverstärker 50 ist mit dem optische Kopf 24, der Entzerrerschaltung 52 und der Asymmetrieerfassungsschaltung 70 verbunden. Die Entzerrerschaltung 52 ist mit der PLL-Schaltung 54 verbunden. Die PLL-Schaltung ist mit der Jittersignalerzeugungsschaltung 56 und dem Signalprozessor 14 verbunden Die Jittersignalerzeugungsschaltung 56 ist mit der Systemsteuereinheit 12 verbunden. Die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 ist mit der Systemsteuereinheit 12 verbunden.
Der Schalter 62 ist mit der Wellenformkorrekturschaltung 60, der Testmustererzeugungsschaltung 64, der Systemsteuereinheit 12 und dem Signalprozessor 14 verbunden. Die Testmustererzeugungsschaltung 64 ist mit der Systemsteuereinheit 12 verbunden. Die Wellenformkorrekturschaltung 60 ist mit der Laseransteuerschaltung 58 und der Systemsteuereinheit 12 verbunden. Die Laseransteuerschaltung 58 ist mit dem optische Kopf 24 und der Systemsteuereinheit 12 verbunden. Die Temperaturerfassungsschaltung 66 ist mit dem Temperatursensor 36 und mit der Systemsteuereinheit 12 verbunden Die Temperaturerfassungsschaltung 66 ist eine Schnittstelle zwischen dem Temperatursensor 36 und dem Systemsteuereinheit 12. Ein Signalvertreter der Umgebungstemperatur der optischen Platte 22 wird vom Temperatursensor 36 an die Systemsteuereinheit 12 über die Temperaturerfassungsschaltung 66 übertragen. Der Temperatursensor 36 kann durch einen temperaturempfindlichen Halbleiter wie eine temperaturempfindliche Diode, die in der Verstärkereinheit 26 bereitgestellt wird, ersetzt werden. In diesem Fall empfängt die Temperaturerfassungsschaltung 66 ein Signal, das durch den temperaturempfindlichen Halbleiter erzeugt wurde.
Die Verstärkereinheit 26 arbeitet folgendermaßen:
Die Servofehlersignalerzeugungsschaltung 49 in der Verstärkereinheit 26 erzeugt ein Servofehlersignal vom Ausgangssignal des optischen Kopfes 24. Die Servofehlersignalerzeugungsschaltung 49 gibt das Servofehlersignal an den Servoprozessor 16 aus. Während des Wiederherstellungsbetriebs der Vorrichtung verstärkt der Hochfrequenzverstärker 50 das Ausgangssignal des optischen Kopfes 24. Der Hochfrequenzverstärker 50 gibt das verstärkte Signal an die Entzerrerschaltung 52 und die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 aus. Die Entzerrerschaltung 52 optimiert das Frequenzverhältnis des verstärkten Signals. Die Entzerrerschaltung 52 gibt das sich ergebende Signal an die PLL-Schaltung 54 aus. Die PLL-Schaltung 54 unterzieht das Ausgangssignal der Entzerrerschaltung 52 der PLL-Steuerung, wobei wiederhergestellte Daten (Auslesedaten), ein Bit-Taktsignal und ein Geschwindigkeitsservosignal (ein Signal, das die Umdrehungsgeschwindigkeit der optischen Platte 22 wiedergibt) erzeugt werden. Die PLL-Schaltung 54 gibt die wiederhergestellten Daten (die ausgelesenen Daten) an die Jittersignalerzeugungsschaltung 56 und den Signalprozessor 14 aus. Die PLL-Schaltung 54 gibt das Bit-Taktsignal an die Jittersignalerzeugungsschaltung 56 aus. Die PLL-Schaltung 54 gibt das Geschwindigkeitsservosignal an den Servoprozessor 16 aus. Die Jittersignalerzeugungsschaltung 56 vergleicht die Zeitbasis der wiederhergestellten Daten und das Bit-Taktsignal, wobei die Jitterbestandteile erfaßt werden, und ein Signal der erfaßten Jitterbestandteile erzeugt wird. Die Jittersignalerzeugungsschaltung 56 gibt das Signal der Jitterbestandteile an die Systemsteuereinheit 12 aus. Die Taktsteuerung der Jittererfassung durch die Jittersignalerzeugungsschaltung 56 wird durch die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 gesteuert.
Das Ausgangssignal der Hochfrequenzverstärkers 50 enthält während des Wiederherstellungsbetriebs der Vorrichtung ein wiederhergestelltes, sich aus der Modulation ergebendes 8-16-Signal. Die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 bestimmt von dem Ausgangssignal des Hochfrequenzverstärkers 50 die Stellung der Mitte eines Signal "3T" mit der kürzesten Schwingungsdauer relativ zur den Spritzen- und den Grundamplitudenstellungen eines Signals "11T" einer längsten Schwingungsdauer des wiederhergestellten, sich aus der Modulation ergebenden 8-16-Signals. Die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 informiert die Systemsteuereinheit 12 über das Entscheidungsergebnis als einen erfaßten symmetrischen Wert. Die Entscheidung durch die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 gehört zum Erfassen einer Asymmetrie. Die Taktsteuerung der asymmetrischen Erfassens durch die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 wird durch die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 gesteuert. Die Wobbelerfassungsschaltung 72 erzeugt ein Wobbelsignal (ein Frequenzsignal) vom Ausgangssignal der Servofehlersignalerzeugungsschaltung 49. Die Wobbelerfassungsschaltung 72 gibt das Wobbelsignal an die PLL-Schaltung 71 aus. Die PLL-Schaltung 71 erzeugt ein Spindelgeschwindigkeitssignal und ein Aufzeichnungstaktsignal als Antwort auf das Wobbelsignal. Die PLL-Schaltung 71 gibt das Spindelgeschwindigkeitssignal und das Aufzeichnungstaktsignal an die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 und an die Systemsteuereinheit 12 aus. Die Adreßerzeugungsschaltung 73 erzeugt ein Signal einer Adresse auf der optischen Platte 22 und ein Aufzeichnungs-/Wiederherstellungs-Taktsignal (ein Reflexzonen-Vorvertiefungssignal oder ein LPP-Signal) als Antwort auf das Ausgangssignal der Servofehlersignalerzeugungsschaltung 49. Die Adreßerzeugungsschaltung 73 gibt das Aufzeichnungs- /Wiederherstellungs-Taktsignal an die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 aus. Die Adreßerzeugungsschaltung 73 gibt das Adreßsignal und das Aufzeichnungs-/Wiederherstellungs-Taktsignal an die Systemsteuereinheit 12 und an den Signalprozessor 14 aus. Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 erzeugt eine Wiederherstellungstaktsignal als Antwort auf das Ausgangssignal von der PLL-Schaltung 71 und der Adreßerfassungsschaltung 73. Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 gibt das Wiederherstellungstaktsignal an die Jittersignalerzeugungsschaltung 56 und durch die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 aus, wobei die Taktsteuerung der Jittererfassung durch die Jittersignalerzeugungsschaltung 56 und die Taktsteuerung der Asymmetrieerfassung durch die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 gesteuert wird.
Die Laseransteuerschaltung 58 in der Verstärkereinheit 26 erzeugt ein Laseransteuerungssignal. Die Laseransteuerschaltung 58 gibt das Laseransteuerungssignal an den Halbleiterlaser innerhalb des optische Kopfes 24 aus. Der Halbleiterlaser emittiert den Laserstrahl als Antwort auf das Laseransteuerungssignal. Der optische Kopf 24 enthält eine Photodiode, die zu einem Teil vom durch den Halbleiterlaser emittierten Laserstrahl belichtet wird. Die Photodiode überwacht den Laserstrahl. Die Photodiode wird auch als eine Überwachungsdiode bezeichnet. Die Photodiode erzeugt ein Signal das die Laserstrahlintensität (oder die Laserstrahlleistung) darstellt. Die Photodiode führt das Laserintensitätssignal auf die Laseransteuerschaltung 58 in der Verstärkereinheit 26 zurück. Die Laseransteuerschaltung 58 steuert das Laseransteuerungssignal als Antwort auf das Laserintensitätssignal. Der Halbleiterlaser, die Photodiode und die Laseransteuerschaltung 58 bilden eine automatischen Leistungssteuerschaltung zum Regulieren der Laserstrahlleistung auf einen bestimmten Pegel, gesteuert von der Systemsteuereinheit 12. Die automatischen Leistungssteuerschaltung kann durch die Systemsteuereinheit 12 gezielt freigegeben oder gesperrt werden. Beispielsweise wird die automatischen Leistungssteuerschaltung während des Wiederherstellungsbetriebs der Vorrichtung freigegeben, und sie wird während des Aufzeichnungszeichnungsbetriebs der Vorrichtunggesperrt. Die Laseransteuerschaltung 58 überträgt das Laserintensitätssignal an den Analog-/Digital-Umsetzer innerhalb der Systemsteuereinheit 12. Auf diese Weise kann die Laserstrahlintensität durch die Systemsteuereinheit 12 kontrolliert werden.
Während des Aufzeichnungsbetriebs der Vorrichtung erzeugt die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 ein Taktsignal. Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 gibt das Taktsignal an die Testmustererzeugungsschaltung 64, die Systemsteuereinheit 12 und den Signalprozessor 14 aus. Die Testmustererzeugungsschaltung 64 erzeugt ein Signal eines Testmusters als Antwort auf das Ausgangssignal von der Taktsignalerzeugungsschaltung 74, wobei sie von der Systemsteuereinheit 12 gesteuert wird. Die Testmustererzeugungsschaltung 64 gibt das Testmustersignal an den Schalter 62 aus. Der Schalter 62 empfängt das durch die Modulation ergebende 8-16-Signal (das zu erfassende Schreibdatum oder das zu erfassende Inhaltsdatum) vom Signalprozessor 14. Der Schalter 62 wird durch die Systemsteuereinheit 12 gesteuert, indem eins der Testmustersignale und das sich aus der Modulation ergebende 8-16-Signal ausgewählt wird, und indem das ausgewählte Signal an die Wellenformkorrekturschaltung 60 ausgegeben wird.
Die Wellenformkorrekturschaltung 60 setzt die Wellenform des Ausgangssignals des Schalters 62 in eine der Wellenformen um, die im Grunde ähnlich der Aufzeichnungswellenform WA ist, und eine Wellenform, die der Aufzeichnungswellenform WB äquivalent ist. Die Wellenformkorrekturschaltung 60 verwendet Wellenformkorrekturparameter, die den Aufzeichnungsleistungspegel Pp, den Löschleistungspegel Pb und die Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td bei der Aufzeichnungswellenform WA bestimmen. Mindestens einer der von der Wellenformkorrekturschaltung 60 verwendeten Wellenformkorrekturparameter können verändert werden, wodurch die Wellenform des hierbei erzeugten Signals unter denen die ähnlich der Aufzeichnungswellenform WA sind, geändert werden können. Die von der Wellenformkorrekturschaltung 60 verwendeten Wellenformkorrekturparameter können von der Systemsteuereinheit 12 geändert werden. Die Wellenformen, die ähnlich der Aufzeichnungswellenform WA sind, sind einander unterschiedlich. Entsprechend erzeugen diese Wellenformen unterschiedliche Zustände der Laserstrahlleistungsbedingungen (der Laserstrahlintensitätsbedingungen). Einer der unterschiedlichen Zustände der Laserstrahlbedingungen wird durch die Steuerung der Wellenformkorrekturschaltung 60 durch die Systemsteuereinheit 12 ausgewählt.
29 zeigt ein Beispiel der Wellenformkorrekturschaltung 60. Die Wellenformkorrekturschaltung 60 in 29 enthält die Wellenformumsetzer 60A1, 60A2, 60A3, 60A4, 60A5, 60A6, 60A7, 60A8 und 60B sowie einen Schalter 60C. Die Eingangsanschlüsse der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 und 60B werden mit dem Schalter 62 (s.11) verbunden. Die Ausgangsanschlüsse der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 und 60B werden mit dem Schalter 60C verbunden. Der Schalter 60C wird mit der Laseransteuerschaltung 58 (siehe 11) verbunden. Der Schalter 60C verfügt über einen Steueranschluß an die Systemsteuereinheit 12.
Die Wellenformumsetzer 60A1-60A8 bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 ändert die Ausgangssignale des Schalters 62 in Impulsfolgesignale mit Wellenformen, die ähnlich der Aufzeichnungswellenform WA (siehe 3) sind. Die Wellenformumsetzer 60A1-60A8 geben die Impulsfolgesignale an den Schalter 60C aus. Die durch die Wellenformumsetzer 60A1-60A8 erzeugten Impulsfolgesignale sind mindestens in einem der Wellenformkorrekturparameter voneinander unterschiedlich. Die Wellenformkorrekturparameter enthalten einen Parameter, der den Aufzeichnungsleistungspegel Pp des Laserstrahls bestimmt, einen Parameter, der den Löschleistungspegel Pb des Laserstrahls bestimmt, einen Parameter, der das Zeitintervall Ta bestimmt, einen Parameter der das Zeitintervall Tb bestimmt, einen Parameter der das Zeitintervall Tc bestimmt und einen Parameter der das Zeitintervall Td bestimmt (siehe 3) Der Aufzeichnungsleistungspegel Pp, der Löschleistungspegels Pb und die Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td verändern sich, wenn sich die Werte der Wellenformkorrekturparameter ändern. Die Laserstrahlleistungsbedingungen (die Laserstrahlintensitätsbedingungen) hängen vom Aufzeichnungsleistungspegel Pp, dem Löschleistungspegel Pb und den Zeitintervallen Ta, Tb, Tc und Td ab. Entsprechend gehören die Wellenformumsetzern 60A1, 60A2, 60A3, 60A4, 60A5, 60A6, 60A7 und 60A8 zu acht unterschiedlichen Zuständen P1, P2, P3, P4, P5, P6, P7 und P8 der Laserstrahlbedingungen. Wie aus der vorherigen Beschreibung folgt, haben die Wellenformumsetzer 60A1-60A8 entsprechend acht unterschiedliche Einstellungen der Wellenformkorrekturparameter. Jeder der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 können eine bekannte Schaltung verwenden.
Der Wellenformumsetzer 60B in der Wellenformkorrekturschaltung 60 ändert das Ausgangssignal des Schalters 62 in ein Impulssignal mit einem Wellenformäquivalent der Aufzeichnungswellenform WB (siehe 3). Der Wellenformumsetzer 60B enthält ein Verzögerungselement und eine UND-Schaltung. Das Verzögerungselement verzögert das Ausgangssignal des Schalters 62. Die UND-Schaltung führt die logische UND-Funktion zwischen dem Ausgangssignal des Verzögerungselements und dem Ausgangssignal des Schalters 62 aus, wobei das Impulssignal erzeugt wird. Der Wellenformumsetzer 60B gibt das Impulssignal an den Schalter 60C aus.
Der Schalter 60C in der Wellenformkorrekturschaltung 60 wählt ein Signal unter den Ausgangssignalen der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 und 60B als Antwort auf ein Steuerungssignal aus, das von der Systemsteuereinheit 12 zugeführt wird. Der Schalter 60C überträgt das ausgewählte Signal an die Laseransteuerschaltung 58. Die Laseransteuerschaltung 58 setzt das ausgewählte Signal in ein entsprechendes Laseransteuerungssignal um. Wenn der Schalter 60C eines der Ausgangssignale der Wellenformumsetzers 60A1-60A8 auswählt, hat der vom Halbleiterlaser emittierte Laserstrahl eine Wellenform, die im Grund ähnliche der Aufzeichnungswellenform WA ist (siehe 3). Zu diesem Zeitpunkt stimmen die Laserstrahlleistungsbedingungen (die Laserstrahlintensitätsbedingungen) mit einem der acht unterschiedlichen Zuständen P1-P8, die zum, vom Schalter 60C ausgewählten Wellenformumsetzerausgabesignal gehören, überein. Als Folge können die Laserstrahlleistungsbedingungen unter den acht unterschiedlichen Zuständen P1-P8 geändert werden, wenn der Schalter 60C durch die Systemsteuereinheit 12 gesteuert wird, sequentiell eines der Ausgangssignale der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 auszuwählen. Wählt der Schalter 60C das Ausgangssignal des Wellenformumsetzers 60B aus, hat der vom Halbleiterlaser emittierte Laserstrahl die Aufzeichnungswellenform WB (siehe 3).
Wie weiter unten erläutert wird, wählt der Schalter 60C während des Aufzeichnungszeichnungsbetriebs der Vorrichtung, außer für einen kurzen Zeitraum für die Ausführung eines Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs, ein Signal aus den Ausgangssignalen der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 und 60B aus, was durch die Systemsteuereinheit 12 bereitgestellt wird.
Das als Auswahlobjekt bereitgestellte Signal kann durch die Systemsteuereinheit 12 als Antwort auf die Ergebnisse des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs geändert werden. Das neue bereitgestellte Signal aus den Ausgangssignalen der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 und 60B wird durch den Schalter 60C ausgewählt, und es wird während des Aufzeichnungszeichnungsbetriebs der Vorrichtung, der dem Ergebnis der Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs folgt, verwendet.
Bezogen auf 11 wird der Schalter 62 durch die Systemsteuereinheit 12 gesteuert, um eine Zeitbasisänderung bei einer großen Einheit bereitzustellen. Die Wellenformkorrekturschaltung 60 antwortet auf die Zeitbasisänderung. Wie weiter unten verdeutlicht, werden die Wellenformkorrekturparameter, die die Laserleistungspegel Pp und Pb sowie die Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td (siehe 3) bestimmen, und die von der Wellenformkorrekturschaltung 60 verwendet werden, derart eingestellt, daß der Asymmetriewert (oder der Asymmetriewert und der Jitterwert) optimiert wird.
Das durch die Testmustererzeugungsschaltung 64 erzeugte Testmustersignal hat die Wahl zwischen dem Signal mit der niedrigsten Frequenz (das Signal mit der längsten Schwingungsdauer) "11T" und dem Signal mit der höchsten Frequenz (das Signal mit der kürzesten Schwingungsdauer) "3T" des sich aus der Modulation ergebenden 8-16-Signals. Unter Bezug auf 12 wird das Testmustersignal vom Schalter 62 für ein Zeitintervall, das einem ECC-Block entspricht, ausgewählt. Testdaten, die ihren Ursprung im Testmustersignal haben, werden auf einem ECC-Block mit einer Adresse A2 aufgezeichnet. Der ECC-Block besteht aus 16 aufeinanderfolgenden Sektoren. Die in den ECC-Block eingelesenen Testdaten werden auch als Test-ECC-Block bezeichnet. Das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" wird im ersten Sektor aufgezeichnet, das heißt, dem B0-Sektor beim Test-ECC-Blocks. Das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" wird im zweiten Sektor aufgezeichnet, das heißt, der B1-Sektor beim Test-ECC-Block. Das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" wird im dritten Sektor aufgezeichnet, das heißt, dem B2-Sektor beim Test-ECC-Blocks. Das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" wird im vierten Sektor aufgezeichnet, das heißt, der B3-Sektor beim Test-ECC-Block. Ähnlich wird das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" und das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" alternativ im fünften Sektor und im nachfolgenden Sektor beim Test-ECC-Block aufgezeichnet. Als Folge werden acht Gruppen des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" acht Paaren zweier aufeinander folgender Sektoren zugewiesen. Während der Aufzeichnung der Testdaten ändert die Systemsteuereinheit 12 die Stellung des Schalters 60C innerhalb der Wellenformkorrekturschaltung 60, wodurch die Laserstrahlleistungsbedingungen (die Laserstrahlintensitätsbedingungen) unter den acht unterschiedliche Zuständen P1, P2, ..., und P8 geändert werden. Die acht Leistungszustände P1, P2, ..., und P8 werden für die acht Gruppen des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" beziehungsweise des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" verwendet.
Während des Wiederherstellungsbetriebs der Vorrichtung erfaßt der Systemsteuereinheit 12 einen Zugriff auf den Test-ECC-Block. Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 erzeugt die Taktimpulse T0, T1, T2, T3 ... entsprechend der Eingangsseiten der Sektoren beim Test-ECC-Block (siehe 12). Die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 tastet das Ausgangssignal des Hochfrequenzverstärkers 50 ab und hält es als Antwort auf die Taktimpulse T0, T1, T2, T3, ..., die von der Taktsignalerzeugungsschaltung 74 zugeführt wurden. Insbesondere die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 tastet ab und hält ein oberes PDP1 und ein unteres PDB1 des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T", das vom B0-Sektor beim Test-ECC-Block wiederhergestellt wird. Die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 tastet ab und hält einen Mittenpegel PDC1 des Signals mit der höchsten Frequenz "3T", das vom B1-Sektor beim Test-ECC-Block wiederhergestellt wurde. Ähnlich tastet die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 ab und hält obere Werte und untere Werte des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und Mittenwerte des Signals mit der höchsten Frequenz "3T", die von den nachfolgenden Sektoren beim Test-ECC-Block wiederhergestellt werden. Auf diese Weise werden ein oberes PDP1 und ein unteres PDB1 des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und ein Mittenpegel des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" für jede der acht unterschiedlichen Leistungsgruppen des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" erfaßt. Die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 setzt die Abtast- und Halteergebnisse in digitale Daten um, die die erfaßten Asymmetrien für die entsprechenden acht unterschiedlichen Leistungszustandsgruppen des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" darstellt. Die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 gibt die asymmetrischen Daten an die Systemsteuereinheit 12 aus.
Während der Aufzeichnung der Inhaltsinformation auf er optischen Platte 22 stellt die Systemsteuereinheit 12 die plattenabtastende Lineargeschwindigkeit auf eine unter verschiedenen Werten über die Geschwindigkeitssteuerung des Spindelmotors 20 ein. Die unterschiedlichen Geschwindigkeitswerte sind 6 m/s entsprechend einer Aufzeichnungszeit von etwa zwei Stunden und ein hohe Bildqualität von 3 m/s entsprechend einer Aufzeichnungszeit von etwa vier Stunden und einer normalen Bildqualität von 1,5 m/s entsprechend einer Aufzeichnungszeit von etwa acht Stunden und einer schlechten Bildqualität.
Entsprechend einem ersten Beispiel wird einer der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 in der Wellenformkorrekturschaltung 60, die Aufzeichnungswellenformen ähnlich der Aufzeichnungswellenform WA (siehe 3) erstellen, als aktive Wellenformumsetzer für plattenabtastende Lineargeschwindigkeit von 1,5 m/s und 3 m/s ausgewählt. Andererseits wird der Wellenformumsetzer 60B bei der Wellenformkorrekturschaltung 60, der die Aufzeichnungswellenform WB (siehe 3) erstellt, als ein aktiver Wellenformumsetzer zur plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit von 6 m/s ausgewählt.
Entsprechend einem zweiten Beispiel wird einer der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 bei der Wellenformkorrekturschaltung 60, der Aufzeichnungswellenformen ähnlich der Aufzeichnungswellenform WA (siehe 3) bereitstellt, als ein aktiver Wellenformumsetzer für plattenabtastende Lineargeschwindigkeiten von 1,5 m/s, 3 m/s und 6 m/s ausgewählt.
Die Aufzeichnungszeit für Inhaltsinformation kann durch Änderung nicht nur der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit sondern auch durch die Kompressionsdatengeschwindigkeit, die von der Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 verwendet wird, variiert werden. Die Übertragungsgeschwindigkeit des auf der optischen Platte 22 aufgezeichneten Signals wird höher eingestellt als die Übertragungsgeschwindigkeit, die zur höchsten Kompressionsdatengeschwindigkeit gehört. Die Differenz zwischen den Übertragungsgeschwindigkeiten wird im Speicher 28 abgespeichert.
Die CLV-Steuerung der optischen Platte 22 kann durch CAV- oder Zonen-CAV-Steuerung ersetzt werden. Selbst wenn in diesem Fall die innere lineare Umfangsgeschwindigkeit und die lineare äußere Umfangsgeschwindigkeit um etwa 30 Zonen geändert wird, verwaltet die Systemsteuereinheit 12 Adreßstellen auf einer Aufzeichnungsspur, und sie stellt eine aktuelle Lineargeschwindigkeit für jede der Adreßstellen ein. Zusätzlich wird die Periode T des Bit-Taktsignal auf der Grundlage der eingestellten Lineargeschwindigkeit eingestellt.
Unter Bezugnahme auf 13 wechseln die Zeitintervalle "a" mit den Zeitintervallen "b". Während der Zeitintervalle "a" wird ein Signal in den Speicher 28 mit einer ersten Übertragungsgeschwindigkeit eingeschrieben. Während der Zeitintervalle "b" wird das Signal mit einer zweiten Übertragungsgeschwindigkeit, die höher als die erste Übertragungsgeschwindigkeit ist, bevor sie auf der optischen Platte 22 aufgezeichnet wird, aus dem Speicher 28 ausgelesen. Die obere Seite der Besetzung des Speichers 28 ist auf einen Voll-Niveau begrenzt. Die Gesamtstufe wird als Antwort auf die Kompressionsdatengeschwindigkeit oder auf ein externes Signal eingestellt. Nach einer Anfangsstufe wird die untere Seite der Besetzung des Speichers 28 auf ein Leer-Niveau begrenzt.
Die Systemsteuereinheit 12 arbeitet nach einem im internen ROM abgespeicherten Programm. Nach diesem Programm bestimmt die Systemsteuereinheit 12, welcher Aufzeichnungsbetrieb, ein Wiedergabebetrieb oder ein Wartebetrieb der erforderlichen Betriebs der Vorrichtung gleichgesetzt werden soll. Wird der erforderliche Betrieb dem Aufzeichnungsbetrieb gleichgesetzt, bewegt sich das Programm auf einen Abschnitt, der dem Aufzeichnungsbetrieb entspricht. Wird der erforderliche Betrieb dem Wiedergabebetrieb gleichgesetzt, bewegt sich das Programm auf einen Abschnitt, der dem Wiedergabebetrieb entspricht. Wird der erforderliche Betrieb dem Wartebetrieb gleichgesetzt, bewegt sich das Programm zu einem Abschnitt, der dem Wartebetrieb entspricht.
14 zeigt ein Flußdiagramm eines Programmabschnitts, der dem Aufzeichnungsbetrieb entspricht. Unter Bezugnahme auf 14 aktiviert ein erster Schritt SB des Programmabschnitts die Audio-/Video-Codierungs-/Decodierungseinheit 30 und den Signalprozessor 14, um sich aus der Verarbeitung ergebenden Inhaltsdaten (sich aus der Verarbeitung ergebende, aufzuzeichnende Audio- und Videodaten) zu erzeugen. Der erste Schritt SB steuert den Signalprozessor 14 die sich aus der Verarbeitung ergebenden Inhaltsdaten in den Speicher 28 einzuschreiben. Im Anschluß an Schritt SB arbeitet das Programm bei Schritt SC weiter. Bei Schritt SC wird abgefragt, ob der Besetzungsgrad des Speichers 28 das Voll-Niveau erreicht hat. Hat der Besetzungsgrad des Speichers 28 das Voll-Niveau erreicht, fährt das Programm bei Schritt SD fort. Im anderen Fall kehrt das Programm zu Schritt SB zurück.
Der Schritt SD steuert den Signalprozessor 14, die Inhaltsdaten vom Speicher 28 auszulesen. Der Schritt SD steuert die Verstärkereinheit 26, die ausgelesenen Inhaltsdaten vom Speicher 28 an den optische Kopf 24 zu übertragen. Die Inhaltsdaten werden auf der optischen Platte 22 mit Hilfe des optische Kopfs 24 aufgezeichnet.
Dem Schritt SD folgt der Schritt SE, bei dem abgefragt wird, ob der Besetzungsgrad des Speichers 28 das Leer-Niveau erreicht hat. Hat der Besetzungsgrad des Speichers 28 das Leer-Niveau erreicht, fährt das Programm bei Schritt SF fort. Im anderen Fall kehrt das Programm zu Schritt SD zurück.
Der Schritt SF steuert den Signalprozessor 14, um das Auslesen der Inhaltsdaten aus dem Speicher 28 einzustellen. Das Programm fährt dann bei Schritt SG fort.
Bei Schritt SG wird abgefragt, ob ein Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt werden soll. Im Fall, bei dem der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang nach der Plazierung der derzeitigen optischen Platte 22 an der Stelle in der Vorrichtung noch nicht ausgeführt wurde, wird bei Schritt SG bestimmt, daß der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt werden soll. Wurde andererseits der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt, wird bei Schritt SG bestimmt, daß der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang nicht ausgeführt werden soll. Wird bestimmt, daß der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt werden soll, fährt das Programm bei Schritt SH fort. Wird bestimmt, daß der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang nicht ausgeführt werden soll, verzweigt das Programm zu Schritt SC.
Bei Schritt SH wird die Adresse einer Stelle (ein ECC-Block) auf der optischen Platte 22, auf die als nächstes zur Aufzeichnung der Inhaltsdaten zugegriffen werden soll, abgespeichert.
Bei Schritt SI ändert sich der Betrieb der Vorrichtung in einen Testbetrieb, um den Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang auszuführen.
Bei Schritt SJ kehrt der Betrieb der Vorrichtung wieder in den Aufzeichnungsbetrieb zurück. Der Schritt SJ steuert den Servoprozessor 16 als Antwort auf die bei Schritt SH abgespeicherte Adresse, wodurch sich der optische Kopf 24 zu der Stelle auf der optischen Platte 22 bewegt, auf die als nächstes zur Aufzeichnung der Inhaltsdaten zugegriffen werden soll. Im Anschluß an Schritt SJ kehr das Programm zu Schritt SC zurück.
Es sei angemerkt, daß der Schritt SG vom Programmabschnitt in 14 vernachlässigt werden kann. In diesem Fall wird unmittelbar bei Schritt SH fortgefahren.
Wie in 15 gezeigt, wird in einem ersten Schritt SIa im Block SI die Adresse einer Stelle (ein ECC-Block) auf der optischen Platte 22 erfaßt, die unmittelbar der Adresse der auf die letzte zugegriffene Stelle, auf der sich die Inhaltsdaten befinden, folgt. Die ECC-Block-Adresse A2 in 12 entspricht der durch den Schritt SIa erfaßten Adresse, während die ECC-Block-Adresse A1 in 12 der Adresse auf die letzte zugegriffene Stelle, die mit den Inhaltsdaten gespeichert sind, entspricht.
Bei Schritt SIb wird die Verstärkereinheit 26 gesteuert, um das Testmustersignal auf der Plattenstelle (der ECC-Block) zu erfassen, dessen Adresse durch den Schritt SIa erfaßt wird. Das in den ECC-Block eingelesene Testmustersignal wird auch als Test-ECC-Block bezeichnet. Insbesondere wird bei Schritt SIb der Schalter 62 innerhalb der Verstärkereinheit 26 angesteuert, um das von der Testmustererzeugungsschaltung 64 zugeführte Testmustersignal auszuwählen.
Wie oben beschrieben, hat das Testmustersignal die Wahl zwischen dem Signal mit der niedrigsten Frequenz (das Signal mit der längsten Schwingungsdauer) "11T" und dem Signal mit der höchsten Frequenz (das Signal mit der kürzesten Schwingungsdauer) "3T" des sich aus der Modulation ergebenden 8-16-Signals. Wie in 12 gezeigt, wird das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" im ersten Sektor aufgezeichnet, das heißt dem B0-Sektor im Test-ECC-Block. Das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" wird im zweiten Sektor aufgezeichnet, das heißt dem B1-Sektor im Test-ECC-Block. Das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" wird im dritten Sektor aufgezeichnet, das heißt dem B2-Sektor im Test-ECC-Block. Das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" wird im vierten Sektor aufgezeichnet, das heißt dem B3-Sektor im Test-ECC-Block. Ähnlich wird das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" und das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" im fünften beziehungsweise im sechsten Sektor im Test-ECC-Block aufgezeichnet. Auf diese Weise werden acht Sätze des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" acht Paaren von zwei aufeinander folgenden Sektoren zugewiesen.
Bei Schritt SIb wird die Wellenformkorrekturschaltung 60 gesteuert, um die die Laserstrahlleistungsbedingungen (die Laserstrahlintensitätsbedingungen) unter den acht unterschiedlichen Zuständen P1, P2, ... und P8 zu ändern. Insbesondere wird bei Schritt SIb mindestens einer der Wellenformkorrekturparameter bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 unter den acht verschiedenen Werten geändert. Wie in 12 gezeigt, werden die acht Leistungszustände P1, P2, ... und P8 für die acht Sätze des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" verwendet. Die Laserstrahlleistungsbedingungsänderung erfolgt in Übereinstimmung mit einem monoton ansteigenden Muster, eine monoton abnehmenden Muster, einem Muster, bei dem der Leistungspegel zwischen einer positiven und einer negativen Seite eines vorgegebenen Wertes wechselt, einem Muster, bei dem der Leistungspegel entsprechend der erfaßten Temperatur geändert wird, ein Muster, bei dem der Leistungspegel mit der Datensatzstelle geändert wird, vorgegebene unterschiedliche Muster entsprechend der Zeitspanne von der vorherigen Aufzeichnung und unterschiedliche Muster in Abhängigkeit von den Bedingungen der Vorrichtung.
Im anschließenden Schritt SIc wird der Servoprozessor 16 gesteuert, wodurch der optische Kopf 24 auf das vordere Ende des Test-ECC-Blocks auf der optischen Platte 22 zurückgeführt wird. Danach fährt das Programm bei Schritt SId fort.
Bei Schritt SId sich ändert sich der Betrieb der Vorrichtung in den Wiedergabebetrieb. Bei Schritt SId wird der optische Kopf 24 über die Verstärkereinheit 26 gesteuert, um das Testmustersignal vom Test-ECC-Block wiederherzustellen. Bei Schritt SId werden die Daten von der Verstärkereinheit 26 empfangen, die die erfaßten Asymmetrien der entsprechenden acht unterschiedlichen Leistungsbedingungsgruppen des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signal mit der höchsten Frequenz "3T" darstellen. Das empfangene asymmetrische Datum enthält Informationen über die erfaßte obere Grenze und die erfaßte untere Grenze des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und den Mittenpegel des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" für jede der acht unterschiedlichen Leistungszustandspaare des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T".
Beim Schritt SIe wird der Fehler (der Abweichung oder der Differenz) des Mittenpegels des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" von der Mitte zwischen der erfaßten oberen Grenze und der erfaßten untere Grenze des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" für jede der acht unterschiedlichen Leistungszustandspaare des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" berechnet. Bei Schritt SIe wird der berechnete Fehler verglichen und hierbei der kleinste der berechneten Fehler erfaßt. Bei Schritt SIe wird eines der acht unterschiedlichen Leistungszustandspaare des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" ausgewählt, das dem kleinsten Fehler entspricht. Mit anderen Worten wird bei Schritt SIe einer der acht unterschiedlichen Aufzeichnungsleistungszustände, der dem kleinsten Fehler entspricht, ausgewählt. Bei Schritt SIe wird der Wert des Wellenformkorrekturparameters (oder die Werte der Wellenformkorrekturparameter) bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 identifiziert, die einem der ausgewählte acht unterschiedlichen Aufzeichnungsleistungszuständen entspricht. Insbesondere wird bei Schritt SIe einer der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 identifiziert, die einem der acht unterschiedlichen Aufzeichnungsleistungszuständen entspricht.
Bei Schritt SIf wird abgefragt, ob der identifizierte Wert des Wellenformkorrekturparameters (oder die identifizierten Werte des Wellenformkorrekturparameters) gleich dem Parameterwert ist, der derzeit bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 zur Aufzeichnung der Inhaltsdaten ist. Besteht keine Gleichheit des identifizierten Wertes mit dem derzeit eingestellten Parameterwert, fährt das Programm bei Schritt SIg fort. Bei Gleichheit verzweigt das Programm zu Schritt SJ in 14. Insbesondere wird bei Schritt SIf bestimmt, ob der identifizierte Wellenformumsetzer der gleiche ist wie der derzeit auf aktiv gesetzte Wellenformumsetzer zur Aufzeichnung der Inhaltsdaten (der derzeit festgelegte Wellenformumsetzer). Ist der identifizierte Wellenformumsetzer der gleiche wie der derzeit auf aktiv gesetzte Wellenformumsetzer, verzweigt das Programm zu Schritt SJ in 14. Im anderen Fall fährt das Programm bei Schritt SIg fort.
Bei Schritt SIg wird der Wellenformkorrekturparameter oder werden die Wellenformkorrekturparameter bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 auf den identifizierten Wert oder auf die identifizierten Werte aktualisiert beziehungsweise geändert. Insbesondere wird bei Schritt SLg der Schalter 60C bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 gesteuert, um das Ausgangssignal von einem der Wellenformumsetzer 60A1-60A8 auszuwählen, der der gleiche wie der identifizierte Wellenformumsetzer ist. Das ausgewählte Wellenformumsetzerausgangssignal wird für die spätere Aufzeichnung der Inhaltsdaten verwendet. Das Programm fährt bei Schritt SJ in 14 fort.
Wie in 12 gezeigt, werden die Inhaltsdaten auf dem ECC-Block an der Adresse A1 bei Schritt SD aufgezeichnet (siehe 14). Das Testmustersignal wird auf dem ECC-Block an der Adresse A2 bei Schritt SIb aufgezeichnet (siehe 15). Die Adresse A2 folgt unmittelbar der Adresse A1. Die Aufzeichnung der Inhaltsdaten auf dem ECC-Block an der Adresse A1 wird kontinuierlich gefolgt durch die Aufzeichnung des Testmustersignals auf dem nächsten ECC-Block an der Adresse A2. Als Folge hängt eine Wartezeit vom Auftreten zwischen der Aufzeichnung der Inhaltsdaten und der nachfolgenden Aufzeichnung des Testmustersignals ab. Wie oben beschrieben, wird das Testmustersignal vom ECC-Block an der Adresse A2 wiederhergestellt, um den Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang auszuführen.
Anschließend wird der optische Kopf 24 zum Eingangsteil des ECC-Block an der Adresse A2 zurückbewegt. Nachfolgend werden die Inhaltsdaten auf dem ECC-Block an der Adresse A2 aufgezeichnet (siehe 14, Schritt SD). In diesem Fall überschreiben die Inhaltsdaten das Testmustersignal.
Ein Null-Kilobyte-Verbindungsverfahren wird zur Verbindung zwischen den Inhaltsdaten an den benachbarten ECC-Blöcken an den Adressen A1 und A2 angewendet. Als Null-Kilobyte-Verbindungsverfahren kann beispielsweise ein Verfahren angewendet werden, das in der Japanischen Offenlegungsschrift 2000-137952 oder der Japanischen Offenlegungsschrift 2000-137948 beschrieben wurde, deren Offenbarung hierbei als Bezug enthalten ist. Entsprechend dem Null-Kilobyte-Verbindungsverfahren werden die vorherigen Inhaltsdaten und die neuen Inhaltsdaten kontinuierlich ein einer Weise aufgezeichnet, daß die Verbindung zwischen den vorherigen Inhaltsdaten und den neuen Inhaltsdaten an den Grenzen zwischen zwei benachbarten ECC-Blöcken angeordnet sind. Die vorherigen Inhaltsdaten und die neuen Inhaltsdaten können kontinuierlich wiederhergestellt werden. Wie oben beschrieben, überschreiben die neuen Inhaltsdaten das Testmustersignal, Da das Testmustersignal und die neuen Inhaltsdaten nach dem gleichen Aufzeichnungsverfahren aufgezeichnet sind, wird das Testmustersignal durch den Überschreibvorgang vollständig gelöscht.
Unter Bezugnahme auf 11 empfängt die PLL-Schaltung 71 das Wobbelsignal von der Wobbelerfassungsschaltung 72. Das Wobbelsignal hat beispielsweise eine Frequenz von 140 kHz. Das Wobbelsignal hat die in 28 gezeigte Wellenform. Die PLL-Schaltung 71 multipliziert die Frequenz des Wobbelsignals, wobei das Aufzeichnungstaktsignal mit einer Frequenz erzeugt wird, die gleich einem ganzzahligen Vielfachen der Wobbelsignalfrequenz ist (siehe 28). Die Frequenz des Aufzeichnungstaktsignals beträgt beispielsweise 27 MHz. Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 empfängt das Aufzeichnungstaktsignal von der PLL-Schaltung 71. Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 empfängt auch das Aufzeichnungs-/Wiederherstellungs-Taktsignal (das LPP-Signal) von der Adreßerfassungsschaltung 73. Das LPP-Signal hat eine in 28 gezeigte Wellenform. Einem 1-synchronen Rahmen entsprechendes Signal wird auf der optischen Platte 22 synchron mit dem LPP-Signal aufgezeichnet. Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 zählt Impulse beim Aufzeichnungstaktsignal während eine Taktsteuerung durch das LPP-Signal als Bezug verwendet wird. Hierbei erzeugt die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 die Taktimpulse T0, T1, T2, T3, ... entsprechend den Eingangsteilen der Sektoren bei den entsprechenden Test-ECC-Blöcken (siehe 12). Die Taktsignalerzeugungsschaltung 74 gibt die Taktimpulse T0, T1, T2, T3, ... an die Asymmetrieerfassungsschaltung 70 als ein Wiederherstellungstaktsignal aus. Das von der Taktsignalerzeugungsschaltung 74 ausgegebene Taktsignal hat eine in 28 gezeigte Wellenform.
Die in 16 gezeigte Asymmetrieerfassungsschaltung 70 enthält eine obere Grenzwerthalteschaltung 601, eine untere Grenzwerthalteschaltung 602 ein Tiefpaßfilter (LPF) 603, einen Analog-/Digital-Umsetzer 604 und einen Schalter 605. Die obere Grenzwerthalteschaltung 601, die untere Grenzwerthalteschaltung 602 und der Tiefpaßfilter empfangen das Ausgangssignal des Hochfrequenzverstärkers 50. Die obere Grenzwerthalteschaltung 601, die untere Grenzwerthalteschaltung 602 und der Tiefpaßfilter empfangen das Wiederherstellungstaktsignal (den Taktimpuls) von der Taktsignalerzeugungsschaltung 74.
Die obere Grenzwerthalteschaltung 601 und die untere Grenzwerthalteschaltung 602 werden durch Erteilen des Taktimpulses T0 zurückgesetzt (siehe 12). Die obere Grenzwerthalteschaltung 601 hält das obere Niveau des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T", das vom ersten Sektor wiederhergestellt wird, das heißt, dem B0-Sektor beim Test-ECC-Block während des Zeitintervalls zwischen dem Erteilen der Taktimpulse T0 und T1 (siehe 12). Die obere Grenzwerthalteschaltung 601 gibt einen Signalvertreter des oberen Halteniveaus an den Schalter 605 aus. Die untere Grenzwerthalteschaltung 602 hält das untere Grenzniveau der Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T", das vom ersten Sektor beim Test-ECC-Block wiederhergestellt wird. Die untere Grenzwerthalteschaltung 602 gibt einen Signalvertreter des unteren Haltegrenzwertniveaus an den Schalter 605 aus. Der Tiefpaß 603 glättet oder mittelt das Signal mit der höchsten Frequenz "3T", das vom zweiten Sektor wiederhergestellt wird, das heißt, dem B1-Sektor beim Test-ECC-Block während des Zeitintervalls zwischen dem Erteilen der Taktimpulse T1 und T2 (siehe 12). Auf diese Weise erzeugt der Tiefpaß 603 eine Signal, das das Mittenniveau des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" darstellt, wiederhergestellt vom zweiten Sektor des Test-ECC-Blocks. Der Tiefpaß 603 gibt das Mittenniveausignal an den Schalter 605 aus. Während des kurzen Zeitintervalls beim Erteilen des Taktimpulses T2, wählt der Schalter 605 sequentiell aus, und er überträgt das obere Grenzwertniveausignal, das untere Grenzwertniveausignal und das Mittenniveausignal an den Analog-/Digital-Umsetzer 604. Der Analog-/Digital-Umsetzer 604 setzt das obere Grenzwertniveausignal, das untere Grenzwertniveausignal und das Mittenniveausignal in entsprechende Digitaldaten um. Der Analog-/Digital-Umsetzer 604 gibt die Digitaldaten an die Systemsteuereinheit 12 aus. Auf diese Weise werden das obere Grenzwertniveau, das untere Grenzwertniveau und das Mittenniveau erfaßt, und der Systemsteuereinheit 12 für das erste der acht unterschiedlichen Leistungszustandspaare des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" mitgeteilt. In gleicher Weise werden das obere Grenzwertniveau, das untere Grenzwertniveau und das Mittenniveau erfaßt und diese Niveaus werden der Systemsteuereinheit 12 für das zweite und weitere der acht unterschiedlichen Leistungszustandspaare des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" mitgeteilt.
Entsprechend dem ersten erläuternden Beispiel wird während einer ungenutzten Zeit des optische Kopf 24, ausgedrückt durch das Einschreiben der Inhaltsdaten in den Speicher 28, das Testmustersignal, aufgezeichnet auf eine Plattenstelle und wiederhergestellt von einer Plattenstelle, um als nächstes für die Aufzeichnung des Inhaltsdaten Zugriff zu haben. Die Asymmetrie des wiederhergestellten Testmustersignals wird gemessen. Die Wellenformkorrekturparameter, die die Laserstrahlintensität (die Laserstrahlleistung) bestimmen, werden eingestellt, und sie werden justiert, damit die gemessene Asymmetrie optimiert wird. Auf diese Weise werden die optimalen Bedingungen der Signalaufzeichnung an einer Plattenstelle, auf die als nächstes zugegriffen werden soll, auf einer Meßgrundlage erfaßt. In einigen Fällen verändert sich die Aufzeichnungsempfindlichkeit der optischen Platte 22 von Plattenstelle zu Plattenstelle. Bei dem ersten erläuternden Beispiel ist es möglich, die optimalen Auszeichnungsbedingungen bei jeder Veränderung der Plattenstellung zu erfassen. Wie oben erläutert, wird das Testmustersignal gelöscht, da neue Inhaltsdaten das Signal überschreiben. Daher ist es nicht erforderlich, einen besonderen Plattenbereich zum Abspeichern des Testmustersignals bereitzustellen. Darüber hinaus ist es für den optische Kopf 24 nicht erforderlich, um eine Suche nach dem besonderen Plattenbereich zum Abspeichern des Testmustersignals auszuführen. Zusätzlich ist es nicht erforderlich eine besondere Zeit zum Einstellen und zum Justieren der Wellenformkorrekturparameter bereitzustellen.
Zweites erläuterndes Beispiel
Ein zweites erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation des ersten erläuternden Beispiels. Das zweite erläuternde Beispiel verwendet einen Block SGA statt des Schritts SG in 14.
Wie in 17 gezeigt, verfügt der Block SGA über einen ersten Schritt 101, der Schritt SF folgt (siehe 14). Bei Schritt 101 wird abgefragt, ob ein Taktgeberwert kleiner als ein vorgegebener Wert "k" ist. Ist der ein Taktgeberwert nicht kleiner als der vorgegebene Wert "k", das heißt, wenn der Taktgeberwert größer oder gleich dem vorgegebenen Wert "k" ist, wird bei Schritt 102 fortgefahren. Ist der ein Taktgeberwert kleiner als ein vorgegebener Wert "k", wird bei Schritt 103 fortgefahren.
Bei Schritt 102 wird der ein Taktgeberwert zurückgesetzt. Im Anschluß an Schritt 102 wird Schritt SH ausgeführt (siehe 14).
Bei Schritt 103 wird der Inhalt des Taktgebers um den Wert "1" erhöht. Im Anschluß an Schritt 103 kehrt das Programm zu Schritt SC (siehe 14).
Drittes erläuterndes Beispiel
Ein drittes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation des ersten erläuternden Beispiels. Das dritte erläuternde Beispiel verwendet einen Block SGB statt des Schritts SG in 14.
Wie in 18 gezeigt, verfügt der Block SGB über einen ersten Schritt 201, der Schritt SF folgt (siehe 14). Bei Schritt 201 wird abgefragt, ob sich die Adresse eines neuen ECC-Blocks zur Datenaufzeichnung von der Adresse des vorherigen Test-ECC-Block durch mindestens einen vorgegebenen Abstand (ein vorgegebener Adreßwert) unterscheidet. Unterscheidet sich die Adresse des neuen ECC-Blocks von der Adresse des vorherigen Test-ECC-Block durch mindestens einen vorgegebenen Abstand, fährt das Programm bei Schritt 202 fort. Anderenfalls verzweigt das Programm zu Schritt SC (siehe 14).
Bei Schritt 202 wird die Adresse des neuen ECC-Blocks als die Adresse eines neuesten ECC-Blocks abgespeichert. Im Anschluß an Schritt 202 fährt das Programm bei Schritt SH fort (siehe 14).
Viertes erläuterndes Beispiel
Ein viertes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation des ersten erläuternden Beispiels. Das vierte erläuternde Beispiel verwendet einen Block SGC statt des Schritts SG in 14.
Wie in 19 gezeigt, verfügt der Block SGC über einen ersten Schritt 301, der Schritt SF folgt (siehe 14). Bei Schritt 302 wird abgefragt, ob sich der derzeitige Temperaturwert von dem Temperaturwert, die bei der vorherigen Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs aufgetreten ist, um mindestens einen vorgegebenen Wert unterscheidet. Unterscheidet sich die derzeitige Temperatur von der Temperatur, die bei der vorherigen Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs aufgetreten ist, um mindestens einen vorgegebenen Wert, wird das Programm bei Schritt 302 ausgeführt. Anderenfalls verzweigt das Programm zu Schritt SG (siehe 14).
Bei Schritt 302 wird die Information der derzeitigen Temperatur als die Temperatur, die bei der neuen Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs eintritt, abgespeichert. Im Anschluß an Schritt 302 fährt das Programm bei Schritt SH fort (siehe 14).
Fünftes erläuterndes Beispiel
Ein fünftes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation des ersten erläuternden Beispiels. Das fünfte erläuternde Beispiel verwendet einen Block SGD statt des Schritts SG in 14.
Wie in 20 gezeigt, verfügt der Block SGD über einen ersten Schritt 401, der Schritt SF folgt (siehe 14). Bei Schritt 401 wird der optische Kopf 24 auf den Eingangsteil des zuletzt zugegriffenen ECC-Blocks zurückgeführt.
Bei Schritt 402 wird ein Signal vom ECC-Block wiederhergestellt. Bei Schritt 402 wird der Jitterwert des wiederhergestellten Signals erfaßt.
Bei Schritt 403 wird abgefragt, ob der erfaßte Jitterwert einen vorgegebenen Wert überschreitet. Überschreitet der erfaßte Jitterwert den vorgegebenen Wert, fährt das Programm bei Schritt SH fort (siehe 14). Anderenfalls verzweigt das Programm zu Schritt SC (siehe 14).
Sechstes erläuterndes Beispiel
Ein sechstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation des ersten erläuternden Beispiels. Das sechste erläuternde Beispiel verwendet einen Block SGE statt des Schritts SG in 14.
Wie in 21 gezeigt, verfügt der Block SGE über einen ersten Schritt 401A, der Schritt SF folgt (siehe 14). Bei Schritt 401A wird der optische Kopf 24 auf den Eingangsteil des zuletzt zugegriffenen ECC-Blocks zurückgeführt.
Bei Schritt 402A werden Daten vom ECC-Block wiederhergestellt. Bei Schritt 402A wird die Fehlerhäufigkeit der wiederhergestellten Daten erfaßt.
Bei Schritt 403A wird abgefragt, ob die erfaßte Fehlerhäufigkeit einen vorgegebenen Wert überschreitet. Überschreitet die erfaßte Fehlerhäufigkeit den vorgegebenen Wert, fährt das Programm bei Schritt SH fort (siehe 14). Anderenfalls verzweigt das Programm zu Schritt SC (siehe 14).
Siebtes erläuterndes Beispiel
Ein siebtes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation des ersten erläuternden Beispiels. Das siebte erläuternde Beispiel verwendet einen Block SGF statt des Schritts SG in 14.
Wie in 22 gezeigt, verfügt der Block SGF über einen ersten Schritt 501, der Schritt SF folgt (siehe 14). Bei Schritt 501 wird abgefragt, ob sich der derzeitige Spannungswert des Rückführungssignals von der Überwachungsdiode von dem Wert der Rückführungssignalspannung, die bei der vorherigen Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs aufgetreten ist, von mindestens einem vorgegebenen Wert abweicht. Weicht der derzeitige Spannungswert des Rückführungssignals von dem Wert der Rückführungssignalspannung, die bei der vorherigen Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs aufgetreten ist, von mindestens einem vorgegebenen Wert ab, wird bei Schritt 502 fortgefahren. Anderenfalls verzweigt das Programm zu Schritt SC (siehe 14).
Bei Schritt 502 wird die Information des derzeitigen Spannungswerts des Rückführungssignals als der Wert der Rückführungssignalspannung, der bei der erneuten Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs auftritt, abgespeichert. Im Anschluß an Schritt 502 wird bei Schritt SH fortgefahren (siehe 14).
Achtes erläuterndes Beispiel
Ein achtes erläuterndes Beispiel ist eine Kombination des zweiten und des dritten erläuternden Beispiels. Beim achten erläuternden Beispiel wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt, wenn sich bei der Abfrage von Schritt 101 ergibt, daß der Zeitgeberwert größer oder gleich dem vorgegebenen Wert "k" ist oder wenn sich bei der Abfrage von Schritt 201 ergibt, daß sich die Adresse des neuen ECC-Blocks von der Adresse des vorherigen Test-ECC-Block durch mindestens einen vorgegebenen Abstand unterscheidet.
Neuntes erläuterndes Beispiel
Ein neuntes erläuterndes Beispiel ist eine Kombination des zweiten, des dritten, des vierten, des fünften, des sechsten und des siebten erläuternden Beispiels. Beim neunten erläuternden Beispiel wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang nur ausgeführt, wenn mindestens einer der folgenden Bedingungen 1), 2), 3),4), 5) oder 6) Genüge getan wird.

1) Bei Schritt 101 ist der Zeitgeberwert größer oder gleich dem vorgegebenen Wert "k".
2) Bei Schritt 201 wird die Adresse des neuen ECC-Blocks von der Adresse des letzen Test-ECC-Blocks durch mindestens einen vorgegebenen Abstand unterschieden.
3) Bei Schritt 301 wird bestimmt, ob sich der derzeitige Temperaturwert von dem Temperaturwert, der bei der vorherigen Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs auftritt, mindestens um einen vorgegebenen Wert unterscheidet.
4) Bei Schritt 403 wird bestimmt, ob der erfaßte Jitterwert den vorgegebenen Wert überschreitet.
5) Bei Schritt 403A wird bestimmt, ob die erfaßte Fehlerhäufigkeit den vorgegebenen Wert überschreitet.
6) Bei Schritt 501 wird bestimmt, ob sich der derzeitige Spannungswert des Rückführungssignals von dem Wert der Rückführungssignalspannung, der bei der vorherigen Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs auftritt, um mindestens den vorgegebenen Wert unterschieden.

Zehntes erläuterndes Beispiel
Ein zehntes erläuterndes Beispiel ist eine Kombination des zweiten, und des dritten erläuternden Beispiels. Beim zehnten erläuternden Beispiel wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang nur ausgeführt, wenn sowohl der folgenden Bedingung 1) als auch der Bedingung 2) Genüge getan wird.

1) Bei Schritt 101 wird bestimmt, ob der Wert des Zeitgebers größer oder gleich dem vorgegebenen Wert "k" ist.
2) Bei Schritt 201 wird bestimmt, ob sich die Adresse des neuen ECC-Blocks von der Adresse des vorherigen Test-ECC-Blocks durch mindestens einen vorgegebenen Abstand unterscheidet.

Elftes erläuterndes Beispiel
Ein elftes erläuterndes Beispiel ist eine Kombination des zweiten, des dritten und des vierten erläuternden Beispiels. Beim elften erläuternden Beispiel wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang nur ausgeführt, wenn mindestens eine der folgenden Bedingung 1) oder 2) Genüge getan wird.

1) Bei Schritt 101 wird bestimmt, ob der Zeitgeberwert größer oder gleich dem vorgegebenen Wert "k" ist. Bei Schritt 201 wird bestimmt, ob sich die Adresse des neuen ECC-Blocks von der Adresse des vorherigen Test-ECC-Blocks durch mindestens einen vorgegebenen Abstand unterscheidet.
2) Bei Schritt 101 wird bestimmt, ob der Wert des Taktgebers größer oder gleich dem vorgegebenen Wert "k" ist. Bei Schritt 301 unterscheidet sich der derzeitige Temperaturwert von dem Temperaturwert, der bei der vorherigen Ausführung des

Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs auftritt, mindestens um einen vorgegebenen Wert.
Zwölftes erläuterndes Beispiel
Ein zwölftes erläuterndes Beispiel ist eine Kombination von mindestens einem erläuternden Beispiel aus dem zweiten, aus dem dritten, aus dem vierten, aus dem fünften, aus dem sechsten oder aus dem siebten erläuternden Beispiel.
Dreizehntes erläuterndes Beispiel
Ein dreizehntes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus den ersten bis zwölften erläuternden Beispielen. Beim dreizehnten erläuternden Beispiel wird das obere Niveau des von einem Sektor beim Test-ECC-Block wiederhergestellten Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" an jedem der unterschiedlichen Taktpunkte abgetastet und gehalten. Die abgetasteten und gehaltenen oberen Niveaus werden zu einem mittleren oberen Niveau gemittelt. Das mittlere, obere Niveau wird der Systemsteuereinheit übermittelt. In gleicher Weise wird das untere Niveau des von einem Sektor beim Test-ECC-Block wiederhergestellten Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" an jedem der unterschiedlichen Taktpunkte abgetastet und gehalten. Die abgetasteten und gehaltenen unteren Niveaus werden in ein mittleres untere Niveau gemittelt. Das mittlere untere Grenzwertniveau wird der Systemsteuereinheit übermittelt.
Das dreizehnte erläuternde Beispiel kompensiert eine Änderung des Bedingungen des von Sektor 1 entsprechenden wiederhergestellten Signals, das durch Rauschen in der Vorrichtung, durch Ungleichmäßigkeit bei dem Ansprechvermögen der optischen Platte 22 und eine Änderung der Gleichlaufservobedingungen verursacht werden könnte. Daher wird beim dreizehnten erläuternden Beispiel die Asymmetrie genau gemessen oder erfasst.
Vierzehntes erläuterndes Beispiel
Ein vierzehntes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus den ersten dreizehn erläuternden Beispielen. Das vierzehnte erläuterndes Beispiel misst den Jitterwert statt des Asymmetriewerts. Das Testmustersignal kann ein Zufallssignal, oder es kann ein Teil des Inhaltsdaten sein.
Bei dem vierzehnten erläuternden Beispiel wird das Testmustersignal an einem Test-ECC-Block aufgezeichnet, wobei die Laserstrahlleistungs- oder die Laserstrahlintensitätsbedingung (mindestens einer der Wellenformkorrekturparameter bei der Wellenformkorrekturschaltung 60) von jedem zweiten zu jedem zweiten Sektor geändert werden. Das Testmustersignal wird vom Test-ECC-Block wiederhergestellt. Der Jitterwert des wiederhergestellten Signals wird bei einem Zeitablauf, der ähnlich dem oben angezeigten Zeitablauf für jedes der beiden Sektorpaare ist, gemessen. Der kleinste gemessene Jitterwert wird ausgewählt. Unter den acht unterschiedlichen Leistungsbedingungen (Zuständen) wird eine Leistungsbedingung, die dem kleinsten Jitterwert entspricht, ausgewählt. Der ausgewählte Wert aus einem der acht unterschiedlichen Leistungszuständen wird als ein optimaler Leistungszustand verwendet. Der Wellenformkorrekturparameter oder die Parameter bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 werden entsprechend dem optimalen Leistungsstatus geändert. Die Änderung des Wellenformkorrekturparameters oder der Wellenformkorrekturparameter kann durch Verwendung eines oder mehreren Korrekturkoeffizienten in einer Tabelle entsprechend den Eigenschaften der optischen Platte 22 vorgenommen werden.
Fünfzehntes erläuterndes Beispiel
Ein fünfzehntes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus den ersten vierzehn erläuternden Beispielen. Beim fünfzehnten erläuternden Beispiel wird während des Testbetriebs der Vorrichtung ein Laserstrahl, dessen Leistung sich zwischen mindestens zwei unterschiedlichen Pegeln (beispielsweise einer Aufzeichnung und einem Löschpegel) ändert, an einer vorgegebenen Adreßstelle auf der optischen Platte 22 angewendet.
Im Fall, bei dem die optischen Platte 22 vom wiederbeschreibbaren Phasenwechseltyp ist, kann sich die Laserstrahlleistung zwischen einem Wiederherstellungs-, einem Lösch- und eine Aufzeichnungspegel ändern. In dem Fall, bei dem die optischen Platte 22 organischen Farbaufzeichnungstyp ist, kann sich die Laserstrahlleistung zwischen einem Wiederherstellungs- und einem Aufzeichnungspegel ändern.
Das von der Überwachungsdiode ausgegebene Rückführungssignal zeigt die gemessene Laserstrahlleistung (die gemessene Laserstrahlintensität) an. Das Rückführungssignal wird in entsprechende Digitaldaten umgesetzt. Die Systemsteuereinheit 12 leitet von den Digitaldaten die gemessenen Werte entsprechend den unterschiedlichen Leistungspegeln ab. Die Systemsteuereinheit 12 berechnet die Fehler zwischen den gemessenen und den optimalen Werten. Die Systemsteuereinheit 12 steuert die aktuellen Laserstrahlleistungspegel damit die gemessenen Werte in Richtung optimaler Werte bewegt werden.
Das fünfzehnte erläuternde Beispiel kompensiert eine Veränderung der Laserleistung (der Laserintensität), die durch die Temperaturabhängigkeit und durch die Alterung des Halbleiterlasers verursacht werden kann.
Die Steuerung beim fünfzehnten erläuternden Beispiel kann mit der weiter oben erwähnten Steuerung auf der Grundlage der Asymmetriemessung- und Jittermessung kombiniert werden.
Das fünfzehnte erläuternde Beispiel verwendet einen Block SIZ statt des Blocks SI in den 14 und 15.
Wie in 23 gezeigt, verfügt der Block SIZ über einen ersten Schritt SIA, der dem Schritt SH folgt (siehe 14). Der Schritt SIA erfaßt die Adresse einer Stelle (eine ECC-Block) auf der optischen Platte 22, die unmittelbar der Adresse der vorherigen Adreßstelle folgt, an der Inhaltsdaten abgespeichert sind. Die ECC-Blockadresse A2 in 12 entspricht der vom Schritt SIA erfaßten Adresse, wobei die ECC-Blockadresse A1 in 12 der Adresse entspricht, auf deren Stelle zuletzt zugegriffen wurde, und in der Inhaltsdaten abgespeichert sind.
Bei Schritt SIB wird die Verstärkereinheit 26 gesteuert, um das Testmustersignal auf der Plattenstelle (dem ECC-Block) aufzuzeichnen, dessen Adresse im Schritt SIA erfaßt wurde. Während der Aufzeichnung des Testmustersignals ändert sich die Laserstrahlleistung oder die Laserstrahlintensität zwischen mindestens zwei Pegeln. Bei Schritt SIB werden von dem durch die Überwachungsdiode ausgegebenen Rückführungssignal die Meßwerte ausgegeben, die zu unterschiedlichen Leistungspegeln gehören. Bei Schritt SIB werden die Fehler zwischen den gemessenen und den optimalen Werten berechnet.
Bei Schritt SIC wird abgefragt, ob sich die Gruppe der berechneten Fehler in einem annehmbaren Bereich liegen. Liegt die Gruppe berechneten Fehler im annehmbaren Bereich, wird bei Schritt SJ fortgefahren (siehe 14). Liegt die Gruppe der berechneten Fehler nicht im annehmbaren Bereich, wird bei Schritt SID fortgefahren.
Bei Schritt SID wird ein Steuersignal an die Wellenformkorrekturschaltung ausgegeben, wobei der Wellenformkorrekturparameter oder die Wellenformkorrekturparameter der gemessenen Leistungswerte in Richtung optimaler Leistungswerte geändert werden. Anschließen fährt das Programm bei Schritt SJ fort (siehe 14).
Sechzehntes erläuterndes Beispiel
Ein sechzehntes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum fünfzehnten erläuternden Beispielen. Entsprechend einem sechzehnten erläuternden Beispiel wird während jeder ungenutzten Zeit des optische Kopfes 24 beim Aufzeichnungszeichnungsbetrieb der Vorrichtung der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt.
Siebzehntes erläuterndes Beispiel
Ein siebzehntes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum sechzehnten erläuternden Beispiel. Das siebzehnte erläuternde Beispiel führt den Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang aus, ohne zu bestimmen, ob der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt werden soll oder nicht.
Achtzehntes erläuterndes Beispiel
Ein achtzehntes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum siebzehnten erläuternden Beispiel. Das achtzehnte erläuternde Beispiel ändert die Wellenformkorrekturparameter zur Bestimmung der Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td entsprechend der Temperatur, die mit Hilfe des Temperatursensors 36 gemessen wird. Beträgt beispielsweise die gemessene Temperatur 10 °C, werden die Wellenformkorrekturparameter derart geändert, daß das Zeitintervall Tc relativ zum Zeitintervall Td vergrößert wird.
Neunzehntes erläuterndes Beispiel
Ein neunzehntes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum achtzehnten erläuternden Beispiel. Entsprechend dem neunzehnten erläuternden Beispiel wird während des Testbetriebs der Vorrichtung das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" aus dem wiederhergestellten Hochfrequenzsignal gewonnen. Die Wellenformkorrekturparameter bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 werden derart gesteuert, daß die Amplitude des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" optimiert wird.
Zwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein zwanzigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum neunzehnten erläuternden Beispiel. Beim zwanzigsten erläuternden Beispiel verwendet der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs den Jitterwert statt des Asymmetriewerts. Das zwanzigste erläuternde Beispiel enthält eine geeignete Schaltung, wie oft Aufzeichnungen in Verbindung mit der Aufzeichnungsspur vorgenommen werden. Die Anzahl der Aufzeichnungen wird bei jeder Aufzeichnung um den Wert "1" erhöht. Die acht unterschiedlichen Zustände P1, P2, ..., und P8 mit denen die Laserstrahlleistungsbedingungen geändert werden, werden in Richtung des Anwachsens des annehmbaren Jittergrerizwerts verändert, wenn die Anzahl der Aufzeichnungen zunimmt. Es ist sinnvoll die Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td schrittweise zu ändern. Das zwanzigste erläuternde Beispiel kompensiert einen ungünstige Änderung beim Jitterwert aufgrund eine Zunahme der Anzahl der Aufzeichnungen.
Einundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein einundzwanzigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum zwanzigsten erläuternden Beispiel. Beim einundzwanzigsten erläuternden Beispiel wird jeder Signalimpuls in eine Folge von kurzen Impulsen, auf der Grundlage der Aufzeichnungswellenform WA, unabhängig von der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit, gebracht. Die Amplitude der Impulsfolge (beispielsweise die Amplitude des Eingangsteils der Impulsfolge) wird entsprechend der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit geändert. Das einundzwanzigste erläuternde Beispiel kann eine relativ große Phasensicherheit bereitstellen.
Zweiundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein zweiundzwanzigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum einundzwanzigsten erläuternden Beispiel. Beim zweiundzwanzigsten erläuternden Beispiel wird jeder Signalimpuls in eine Folge von kurzen Impulsen, auf der Grundlage der Aufzeichnungswellenform WA, unabhängig von der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit, gebracht. Die Breite der kurzen Impulse bei der Folge wird entsprechend mit der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit geändert.
Das zweiundzwanzigste erläuternde Beispiel ändert den Laserstrahl zwischen eine Aufzeichnungswellenform WE in 24 und eine Aufzeichnungswellenform WF in 25 in Abhängigkeit der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit. Wie in 24 gezeigt, hat die Aufzeichnungswellenform WF eines ersten Impulses und der nachfolgenden Impulse eine relativ großer Breite. Die Aufzeichnungswellenform WE wird für einen große Lineargeschwindigkeitswert verwendet. Da der Wärmeanreicherungseffekt schwächer ist, wenn sich die plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit erhöht, werden die Impulse mit der größeren Breite bei der Aufzeichnungswellenform WF daran gehindert, eine unerwünschte Störung bei der Form des Aufzeichnungszeichen zu verursachen.
Die Aufzeichnungswellenformen WE und WF können modifiziert werden, wenn die Aufzeichnungswellenform WC in 7 gestaltet wird. Insbesondere bei den Modifikationen der Aufzeichnungswellenformen WE und WF ist während eines begrenzten Zeitintervalls, das unmittelbar jeder Impulsfolge vorangeht, und während eines begrenzten Zeitintervalls, das unmittelbar jeder Impulsfolge folgt, die Laserstrahlleistung niedriger als der Löschpegel Pb ist.
Die Aufzeichnungswellenformen WE und WF können modifiziert werden, wenn die Aufzeichnungswellenform WD in 8 gestaltet wird. Insbesondere, entsprechend der Modifikationen der Aufzeichnungswellenformen WE und WF, ändert sich bei jeder Impulsfolge eine Laserstrahlleistung zwischen einem Aufzeichnungspegel Pp und einem Wiederherstellungspegel (oder einem Nullpegel).
Dreiundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein dreiundzwanzigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum zweiundzwanzigsten erläuternden Beispiel. Das dreiundzwanzigste erläuternde Beispiel wird entwickelt, um geeignet auf einer Teil-ROM-Platte, auf einer hybriden optischen Platte mit einem inneren, einen ROM-Bereich bildenden Teil und mit einem äußeren, einen Phasenwechsel-RAM bildenden Teil, einer zweischichtigen optischen Platte mit einer phasenändernden Auszeichnungsschicht, einer zweischichtigen optischen Platte mit einer zweiphasenändernden Aufzeichnungsschicht, einer optischen Zweiphasenplatte mit einer Nur-Lese-Schicht oder einer optischen Platte mit zwei oder mehr Schichten zu arbeiten.
Das dreiundzwanzigste erläuternde Beispiel enthält eine Vorrichtung zum Erfassen einer optischen Mehrschichtplatte, eine Vorrichtung zum Erfassen, daß mindestens eine Schicht einer optischen Mehrfachplatte eine Aufzeichnungsschicht (oder eine wiederbeschreibbare Schicht) ist, und einer Fokussierungssprungvorrichtung zur Fokussierung des Laserstrahls auf der Signaloberfläche einer der ausgewählten Schichten bei einer optischen Mehrschichtplatte. Beim dreiundzwanzigsten erläuternde Beispiel wird über die Wellenformkorrekturwerte für die Schichten während des Testbetriebs der Vorrichtung bestimmt, und die Signale der herausgefundenen Wellenformkorrekturwerte werden abgespeichert.
Vierundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein vierundzwanzigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum dreiundzwanzigsten erläuternden Beispiel. Das vierundzwanzigste erläuternde Beispiel stellt eine optische Plattenlaufwerksvorrichtung zur Verfügung, die über keine Signal-Komprimierungs-/Dekomprimierungs-Schaltung verfügt. Beispiele der optische Plattenlaufwerksvorrichtung sind periphere Computervorrichtungen wie eine DVD-RAM-Vorrichtung und eine DVD-RW-Vorrichtung.
Komprimierte Daten werden von der optischen Plattenlaufwerksvorrichtung an einen externen Computer, ohne dekomprimiert zu werden, ausgegeben. Anschließend werden die komprimierten Daten im externen Computer, in Abhängigkeit der Software, dekomprimiert. Die optische Plattenlaufwerksvorrichtung und der externe Computer werden mit einem Bus (Datenkanal), beispielsweise vom ATAPI-Typ oder vom IEEE1394-Typ, verbunden.
Bei der optische Plattenlaufwerksvorrichtung steuert eine geeignete Vorrichtung den Zustand des optische Kopfs 24, und sie bestimmt, welcher Aufzeichnungszustand als ein Wiederherstellungszustand, als ein Suchzustand, als ein Besetzzustand und als ein nicht angewählter Zustand des optische Kopfs 24 angenommen werden kann. Trifft der optische Kopf 24 auf den nicht angewählten Zustand, wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt.
Wurde der Antrieb der optischen Platte 22 gestartet, wird der Typ der optischen Platte 22 auf der Grundlage des Einlegens der Platte und den Bedingungen die Spannungsversorgung einzuschalten, bestimmt. Insbesondere wird eine Entscheidung getroffen, ob die optischen Platte 22 über eine oder über mehrere Schichten verfügt. Darüber hinaus wird eine Entscheidung getroffen, ob die optischen Platte 22 über eine Aufzeichnungsschicht (eine wiederbeschreibbare Schicht) verfügt. Verfügt die optischen Platte 22 über eine Aufzeichnungsschicht (eine wiederbeschreibbare Schicht, wird eine Entscheidung darüber gefällt, ob der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt werden sollte.
Beispielsweise wird ein Kennzeichen als ein Hinweis verwendet, ob die Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt werden sollte oder nicht. Das Kennzeichen in einem logischen "0"-Zustand zeigt an, daß der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt werden sollte. Das Kennzeichen in einem logischen "1"-Zustand zeigt an, daß der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang nicht ausgeführt werden sollte. Wird die Spannungsversorgung eingeschaltet oder wird die optischen Platte in die Vorrichtung eingelegt, befindet sich das Kennzeichen im logischen "0"-Zustand. Das heißt zu diesem Zeitpunkt, unter Bezugnahme auf den logischen Zustand des Kennzeichens, daß bestimmt wird, daß der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt werden sollte. Daher wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs tatsächlich ausgeführt. Anschließend wird das Kennzeichen in den logischen "1"-Zustand überführt.
Ist eine vorgegebene Zeit seit dem Augenblick der letzten Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs abgelaufen, kehrt das Kennzeichen in den logischen "0"-Zustand zurück. Weicht die Temperatur von der Temperatur in dem Augenblick der letzten Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs von einem höheren als einem vorgegebenen Wert ab, wird das Kennzeichen in den logischen "0"-Zustand überführt.
In dem Fall, bei dem die optischen Platte 22 über eine Aufzeichnungsschicht (eine wiederbeschreibbare Schicht) verfügt, erfolgt ein Erfassen, ob der optische Kopf 24 in den nicht ausgewählten Zustand gerät oder nicht. Befindet sich das Kennzeichen im logischen "0"-Zustand und gerät der optische Kopf 24 in den nicht ausgewählten Zustand, wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt.
Die optische Plattenlaufwerksvorrichtung enthält eine Brennpunksprungvorrichtung zur Fokussierung des Laserstrahls auf der Signaloberfläche einer der ausgewählten Schichten des optischen Platte 22. Bei der optische Plattenlaufwerksvorrichtung werden die Wellenformkorrekturwerte für die Schichten während des Testbetriebs der Vorrichtung bestimmt, und die Signale der bestimmten Wellenformkorrekturwerte werden abgespeichert.
Erstes Ausführungsbeispiel
Ein erstes Ausführungsbeispiel dieser Erfindung ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum vierundzwanzigsten erläuternden Beispiel. Beim erstes Ausführungsbeispiel dieser Erfindung ist die optische Platte 22 vom DVD-Typ. Der innerste Teil der optischen Platte hat einen Lead-in-Bereich (erster Bereich der inneren Spuren der DVD). Der äußere Rand des innersten Teils der optischen Platte hat einen Radius von 24 mm. Der Hauptteil der optischen Platte 22, der sich radial außerhalb des innersten Teils ausdehnt, wird als Datenbereich verwendet.
Der Lead-in-Bereich der optischen Platte 22 speichert Informationen wie den Plattentyp, die Schichtbedingung, das Reflexionsvermögen, die Datenanfangs- und die Datenendadresse. Der Plattentyp bedeutet den Nur-Lesetyp, den Einmal-Schreibtyp oder den wiederbeschreibbaren Typ. Die Schichtbedingung bedeutet die Einschichtplatte, die Zweischichtplatte, "parallel" oder "entgegengesetzt". Das Reflexionsvermögen ist im Fall einer Einschichtplatte gleich 0,7. Das Reflexionsvermögen ist im Fall einer Zweischichtplatte gleich 0,3.
Zusätzlich speichert der Lead-in-Bereich der optischen Platte 22 die folgenden Informationsteile 1 bis 6. Das Informationsteil 1 zeigt den optimalen Aufzeichnungsleistungspegel Pp und den optimale Löschleitungspegel Pb des Laserstrahls an (siehe 3). Das Informationsteil 2 zeigt die optimalen Intervalle Ta, Tb, Tc und Td an (siehe 3). Das Informationsteil 2 kann die optimalen Werte der Wellenformkorrekturparameter bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 anzeigen, die die Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td bestimmen. Das Informationsteil 3 zeigt die plattenabtastende Lineargeschwindigkeit und die Temperatur an, bei der der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt wurde. Das Informationsteil 4 zeigt das Identifikationscodewort (ID) der Aufzeichnungsvorrichtung an. Das Informationsteil 5 zeigt den Plattenhersteller an. Das Informationsteil 5 kann darüber hinaus den Hersteller der Aufzeichnungsvorrichtung anzeigen. Das Informationsteil 6 kann darüber hinaus den Plattenhersteller und den Hersteller der Aufzeichnungsvorrichtung anzeigen.
Der Lead-in-Bereich der optischen Platte 22 kann eine verschlüsselte Version der Informationsteil 1 bis 6 abspeichern. In dem Fall, bei dem die optischen Platte 22 zwei oder mehr Schichten enthält, kann nur eine der beiden Schichten die Informationsteile 1 bis 6 abspeichern.
Der Lead-in-Bereich der optischen Platte 22 enthält einen Testaufzeichnungsbereich, auf dem das Testmustersignal während des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs aufgezeichnet wird. Der Testaufzeichnungsbereich kann außerhalb des Lead-in-Bereich angeordnet sein.
Wird die optischen Platte 22 in die Vorrichtung eingelegt, und wird das Laufwerk der optischen Platte 22 gestartet, wird ein Signal von dem auf der Platte befindlichen Lead-in-Bereich wiederhergestellt. Die Informationsteile 1 bis 6 werden aus dem wiederhergestellten Signal gebildet. Während der späteren Aufzeichnung verwendet die Vorrichtung die optimalen, durch die Informationsteile 1 und 2 angezeigten Wellenformkorrekturwerte. Die optimalen Wellenformkorrekturwerte bedeuten den optimalen Aufzeichnungsleistungspegel Pp und den optimalen Löschleistungspegel Pb des Laserstrahls und die optimalen Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td. Die optimalen Wellenformkorrekturwerte können die optimalen Werte der Wellenformkorrekturparameter bei der Wellenformkorrekturschaltung 60 bedeuten, die die Zeitintervalle Ta, Tb, Tc und Td bestimmen. Die Art der Verwendung der optimalen Wellenformkorrekturwerte wird geändert als Antwort auf die Plattenhersteller, die Wiederherstellungslosnummer der Platte und der Hersteller der Aufzeichnungsvorrichtung, angezeigt durch die Informationsteile 5 und 6. Andererseits wird bei Abwesenheit der Informationsteile 1 und 2 vom wiederhergestellten Signal der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt, um die optimalen Wellenformkorrekturwerte (die optimalen Werte der Wellenformkorrekturparameter) zu bestimmen. Signale der optimalen Wellenformkorrekturwerte werden in die Informationsteile 1 und 2 codiert. Danach werden die Informationsteile 1 und 2 auf dem Lead-in-Bereich der optischen Platte 22 aufgezeichnet.
Während der Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs wird die Temperatur über den Temperatursensor 36 gemessen. Ein Signal der gemessenen Temperatur und ein Signal der plattenabtastenden Lineargeschwindigkeit werden im Informationsteil 3 codiert. Der Informationsteil 3 wird auf dem Lead-in-Bereich der optischen Platte 22 aufgezeichnet, wobei die Informationsteile 1 und 2 hierauf aufgezeichnet werden.
Wenn, wie oben ausgeführt, die optischen Platte 22 in die Vorrichtung eingelegt wird, und das Laufwerk der optischen Platte 22 gestartet wird, wird ein Signal vom Lead-in-Bereich wiederhergestellt. Die Informationsteil 1 bis 6 werden aus dem wiederhergestellten Signal gewonnen. Unmittelbar vor dem Start der späteren Aufzeichnung wird die Temperatur mit Hilfe des Temperatursensors 36 gemessen. Eine Berechnung wird angestellt, um die Differenz zwischen der derzeitigen Temperatur und der durch das Informationsteil 3 angezeigten Temperatur durchzuführen. Auch wird eine Berechnung der Differenz zwischen der derzeit eingestellten Lineargeschwindigkeit und der Lineargeschwindigkeit, die durch das Informationsteil 3 angezeigt wurde, durchgeführt. Die optimalen Wellenformkorrekturwerte (die optimalen Werte der Wellenformkorrekturparameter) werden auf der Grundlage der berechneten Temperaturdifferenz und der berechneten Lineargeschwindigkeitsdifferenz entsprechend eines Berechnungsvorgangs oder eines Tabellensuchvorgangs überarbeitet. Die sich ergebenden überarbeiteten optimalen Wellenformkorrekturwerte werden bei späterer Aufzeichnung verwendet.
Zweites Ausführungsbeispiel
Ein zweites Ausführungsbeispiel dieser Erfindung ist eine Modifikation des ersten Ausführungsbeispiels. Beim zweiten Ausführungsbeispiel dieser Erfindung hat die optische Platte 22 eine erste und eine zweite Aufzeichnungsschicht. Die erste Aufzeichnungsschicht enthält einen bestimmten Bereich zum Abspeichern der tatsächlichen Information, der Informationsteile 1 bis 6 bezüglich der ersten Aufzeichnungsschicht und der Informationsteile 1 bis 6 bezüglich der zweiten Aufzeichnungsschicht.
Wird die optischen Platte 22 in die Vorrichtung eingelegt und wird das Laufwerk der optischen Platte 22 gestartet, wird von dem vorgegebenen Bereich der ersten Aufzeichnungsschicht ein Signal wiederhergestellt. Die Informationsteile 1 bis 6, die in Beziehung zur ersten Aufzeichnungsschicht stehen und die Informationsteile 1 bis 6, die in Beziehung zur zweiten Aufzeichnungsschicht stehen, werden von dem wiederhergestellten Signal gewonnen. Während späterer Aufzeichnung auf der ersten Aufzeichnungsschicht der optischen Platte 22 verwendet die Vorrichtung die optimalen Wellenformkorrekturwerte, angezeigt durch die Informationsteile 1 und 2, die in Beziehung zur ersten Aufzeichnungsschicht stehen. Während späterer Aufzeichnung auf der zweiten Aufzeichnungsschicht der optischen Platte 22 verwendet die Vorrichtung die optimalen Wellenformkorrekturwerte, angezeigt durch die Informationsteile 1 und 2, die in Beziehung zur zweiten Aufzeichnungsschicht stehen. Andererseits wird bei Abwesenheit der zweischichtbezogenen Informationsteile 1 und 2 vom wiederhergestellten Signal der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang auf der ersten Aufzeichnungsschicht ausgeführt, um die optimalen Wellenformkorrekturwerte (die optimalen Werte der Wellenformkorrekturparameter) zu bestimmen, die zum ersten Aufzeichnungsschicht in Beziehung stehen. Dann wird ein Brennpunktsprung zum zweiten Aufzeichnungsschicht ausgeführt, und der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang wird auf der zweiten Aufzeichnungsschicht ausgeführt, um die optimalen Wellenformkorrekturwerte bezüglich der zweiten Aufzeichnungsschicht zu bestimmen. Die Signale der optimalen Wellenformkorrekturwerte bezüglich der ersten und der zweiten Aufzeichnungsschicht werden in die zweischichtbezogenen Informationsteile 1 und 2 codiert. Danach werden die zweischichtbezogenen Informationsteile 1 und 2 auf dem vorgegebenen Bereich der ersten Aufzeichnungsschicht der optischen Platte 22 aufgezeichnet.
Fünfundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein fünfundzwanzigstes erläuterndes Beispiel basiert auf der Kombination von mindestens zwei erläuternden Beispielen aus dem ersten bis zum vierundzwanzigsten erläuternden Beispiel und dem ersten und zweiten Ausführungsbeispiel. Beim fünfundzwanzigsten erläuternden Beispiel wird wahlweise mindestens eins des Bewertungsverfahrens "A", des Bewertungsverfahrens "B" und des Bewertungsverfahrens "C" als ein Teil des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs verwendet.
Beim Bewertungsverfahren "A" wird das Testmustersignal mit dem Wechsel des Signals mit der niedrigsten Frequenz "11T" und des Signals mit der höchsten Frequenz "3T" auf der optischen Platte 22 aufgezeichnet, und das Testmustersignal wird hieraus wiederhergestellt. Die Asymmetriewerte der entsprechenden Zeitabschnitte des wiederhergestellten Testmustersignals werden gemessen.
Beim Bewertungsverfahren "B" wird das Zufallssignal au der optischen Platte 22 als das Testmustersignal aufgezeichnet und das Zufallssignal wird hieraus wiederhergestellt. Die Jitterwerte des wiederhergestellten Zufallssignals werden gemessen.
Beim Bewertungsverfahren "C" wird das von der Überwachungsdiode ausgegebene Rückwirkungssignal gemessen, wobei die Laserstrahlleistung zwischen dem Wiederherstellungspegel, zwischen dem Löschpegel und zwischen dem Aufzeichnungspegel Pp geändert wird.
26 zeigt ein Flußdiagramm eines Programmabschnitts für die Systemsteuereinheit 12. Der Programmabschnitt in 26 wird ausgeführt, wenn das Laufwerk der optischen Platte 22 gestartet wird. Unter Bezugnahme auf 26 erfaßt ein erster Schritt SKa des Programmabschnitts den Typ der optischen Platte 22. Beispielsweise wird bei Schritt SKa das Reflexionsvermögen der optischen Platte 22 gemessen, und der Typ der optischen Platte 22 wird aufgrund des gemessenen Reflexionsvermögens bestimmt.
Bei Schritt SKb wird mindestens eines der Bewertungsverfahren "A", "B" und "C" ausgewählt. Bei Schritt SKb wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang entsprechend dem ausgewählten Bewertungsverfahren (oder der ausgewählten Bewertungsverfahren) ausgeführt.
Im Fall, bei dem der Typ der optischen Platte 22 der DVD-RW-Typ (der wiederbeschreibbare Phasenwechsel) ist, werden die Bewertungsverfahren "B" und "C" aufgewählt. In diesem Fall kann nur das Bewertungsverfahren "B" ausgewählt werden. Im Fall, bei dem der Typ der optischen Platte 22 der DVD-R-Typ (der organische Farbstoff-Aufzeichnungstyp) ist, werden die Bewertungsverfahren "A" und "C" ausgewählt. In diesem Fall kann nur das Bewertungsverfahren "A" gewählt werden.
Sechsundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Das sechsundzwanzigste erläuternde Beispiel ist eine Modifikation des fünfundzwanzigsten erläuternden Beispiels. Beim sechsundzwanzigsten erläuternden Beispiel wird, wenn eine Plattenstelle, auf die jetzt zugegriffen wird, unterschiedlich von der Plattenstelle, auf die zur Datenaufzeichnung zuvor zugegriffen wurde, kürzer als ein vorgegebener Abstand ist, das Bewertungsverfahren "C" gewählt. Ist die Zeitspanne seit der vorherigen Aufzeichnung kürzer als ein vorgegebenes Zeitintervall, wird das Bewertungsverfahren "C" gewählt. Wenn die Plattenstelle, auf die jetzt zugegriffen wird, unterschiedlich von der Plattenstelle, auf die zur Datenaufzeichnung zuvor zugegriffen wurde, mindestens der vorgegebenen Abstand ist, wird entweder das Bewertungsverfahren "A" oder das Bewertungsverfahren "B" gewählt. Wenn die Zeitspanne seit der vorherigen Aufzeichnung größer oder gleich dem vorgegebenen Zeitintervall ist, wird das Bewertungsverfahren "A" oder das Bewertungsverfahren "B" gewählt.
Siebenundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein siebenundzwanzigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation des sechsundzwanzigsten erläuternden Beispiels. Beim siebenundzwanzigsten erläuternden Beispiel hat die optischen Platte 22 einen bestimmten Bereich zum Abspeichern einer spezifischen Platteninformation (Platten-ID-Information). Die spezifische Platteninformation betrifft den Plattenhersteller, den Plattentyp, die Plattenartikelnummer und die Herstellungslosnummer der Platte. Der Speicher in der Systemsteuereinheit 12 speichert ein Tabellensignal ab, das die Beziehung der spezifischen Platteninformation mit den Bewertungsverfahren "A", "B" und "C" anzeigt.
27 zeigt ein Flußdiagramm eines Programmabschnitts der Systemsteuereinheit 12. Der Programmabschnitt in 27 wird ausgeführt, wenn das Laufwerk der optischen Platte 22 gestartet wird. Bezugnehmend auf 27 wird bei Schritt SKA des Programmabschnitts ein Signal vom bestimmten Bereich der optischen Platte 22 wiederhergestellt.
Bei Schritt SKB wird die spezifische Platteninformation aus dem wiederhergestellten Signal gewonnen.
Bei Schritt SKC wird mindestens eins der Bewertungsverfahren "A", "B" und "C" unter Bezugnahme auf das Tabellensignal ausgewählt. Bei Schritt SKC wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang entsprechend mit dem ausgewählten Bewertungsverfahren (oder den ausgewählten Bewertungsverfahren) ausgeführt.
Achtundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein achtundzwanzigste erläuternde Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum siebenundzwanzigsten erläuternden Beispiel und des ersten und zweiten Ausführungsbeispiels. Beim achtundzwanzigsten erläuternden Beispiel wird die Testmustererzeugungsschaltung 64 entworfen, wodurch das Testmustersignal längs einer Zeitbasis relativ zum Test-ECC-Block durch eine variable Größe (ein variables Zeitintervall) verschoben werden kann. Die Verschiebegröße kann variabel innerhalb eines Bereichs von 6 Bytes sein, die in Einheiten des Aufzeichnungstaktsignals gemessen wird.
Die Verschiebegröße kann durch die Systemsteuereinheit 12 eingestellt werden. Im Fall, bei dem das Testmustersignal zum ersten Mal auf einem Bereich der optischen Platte 22 aufgezeichnet wird, stellt die Systemsteuereinheit 12 die Verschiebegröße auf den Wert "0" ein. Im Fall, bei dem das Testmustersignal erneut auf einem Bereich der optischen Platte 22 aufgezeichnet wird, erzeugt die Systemsteuereinheit 12 ein Zufallssignal. Die Systemsteuereinheit 12 stellt die Verschiebegröße auf einen Zufallswert, dargestellt durch das Zufallssignal, ein. Das Testmustersignal wird durch die von der Systemsteuereinheit 12 eingestellte Größe verschoben. Das Testmustersignal wird aufgezeichnet. Das Testmustersignal wird bei einem Zeitverhalten wiederhergestellt, das vom ursprünglichen Zeitverhalten durch eine Größe verschoben ist, die der von der Systemsteuereinheit 12 eingestellten Größe entspricht. Die Asymmetriewerte der entsprechenden Zeitabschnitte des wiederhergestellten Testmustersignals werden gemessen.
Neunundzwanzigstes erläuterndes Beispiel
Ein neunundzwanzigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum achtundzwanzigsten erläuternden Beispiel und des ersten und zweiten Ausführungsbeispiels. Beim neunundzwanzigsten erläuternden Beispiel wird die Testmustererzeugungsschaltung 64 entworfen, wodurch das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" und das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" in der Zeitstellung beim Testmustersignal ausgetauscht werden kann.
Im Fall, bei dem das Testmustersignal auf einem Bereich der optischen Platte 22 zum ersten Mal aufgezeichnet wird, wird das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" und das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" beim Testmustersignal in der in 12 gezeigten Folge angeordnet wird. Im Fall, bei dem das Testmustersignal erneut auf einem Bereich der optischen Platte 22 aufgezeichnet, auf dem das Testmustersignal abgespeichert war, wird das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" und das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" beim Testmustersignal in der entgegengesetzten Folge zu 12 angeordnet. In diesem Fall wird das Signal mit der höchsten Frequenz "3T" auf dem ersten Sektor aufgezeichnet, das heißt dem Sektor B0 beim ECC-Block. Das Signal mit der niedrigsten Frequenz "11T" wird auf dem zweiten Sektor aufgezeichnet, das heißt dem Sektor B1 beim ECC-Block. Ähnlich wird die Signalanordnung zwischen zwei unterschiedlichen Folgen bei der späteren Aufzeichnung des Testmustersignals geändert.
Dreißigstes erläuterndes Beispiel Ein dreißigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus den fünfundzwanzigsten, sechsundzwanzigsten und siebenundzwanzigsten erläuternden Beispielen. Beim dreißigsten erläuternden Beispiel wird während der Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs auf der Grundlage des Bewertungsverfahrens "C" das von der Überwachungsdiode ausgegebene Rückwirkungssignal gemessen, wobei die Laserstrahlleistung (Laserstrahlintensität) auf einen Löschpegel eingestellt wird, und anschließend wird die Leistung in den Aufzeichnungspegel geändert. Während der zweiten Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs auf der Grundlage des Bewertungsverfahrens "C" wird das von der Überwachungsdiode ausgegebene Rückwirkungssignal gemessen, wobei die Laserstrahlleistung (die Laserstrahlintensität) auf den Löschpegel eingestellt wird, und anschließend wird in den Aufzeichnungspegel übergegangen. Ähnlich wird die Anordnung der Leitungspegel zwischen zwei unterschiedlichen Folgen während der Ausführung des Wellenformkorrekturoptimierungsvorgangs geändert.
Einunddreißigstes erläuterndes Beispiel
Ein einunddreißigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus dem ersten bis zum dreißigsten erläuternden Beispiel und des ersten und zweiten Ausführungsbeispiels. Beim einunddreißigsten erläuternden Beispiel hat die optischen Platte 22 einen vorgegebenen Bereich, der ausschließlich zum Abspeichern des Testmustersignals dient.
Zweiunddreißigstes erläuterndes Beispiel
Ein zweiunddreißigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation des einunddreißigsten erläuternden Beispiels. Beim zweiunddreißigsten erläuternden Beispiel wird, wenn die optischen Platte 22 in die Vorrichtung eingelegt ist, und das Laufwerk der optischen Platte 22 gestartet ist, das Testmustersignal auf dem ausschließlich zum Abspeichern bestimmten Bereich der optischen Platte 22 aufgezeichnet, und der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang wird ausgeführt. Bei späterer Aufzeichnung wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt, wobei das Testmustersignal auf einem Bereich der optischen Platte 22 aufgezeichnet wird, das den Inhaltsdaten zugewiesen ist.
Dreiunddreißigstes erläuterndes Beispiel
Ein dreiunddreißigstes erläuterndes Beispiel ist eine Modifikation eines erläuternden Beispiels aus den fünfundzwanzigsten, sechsundzwanzigsten, siebenundzwanzigsten und dreißigsten erläuternden Beispielen. Beim dreiunddreißigsten erläuternden Beispiel wird der Wellenformkorrekturoptimierungsvorgang ausgeführt, wobei mindestens zwei der Bewertungsverfahren "A", "B" und "C" kombiniert werden, und die kombinierten Bewertungsverfahren ausgeführt werden.
Eine Vorrichtung zur Aufzeichnung und zum Wiederherstellen eines Informationssignals auf und von einer optischen Platte enthält einen Speicher. Das Informationssignal wird in den Speicher eingeschrieben. Das Informationssignal wird aus dem Speicher ausgelesen. Ein optische Kopf erzeugt einen Laserstrahl als Antwort auf das Ausleseinformationssignal, und er beaufschlagt die optische Platte mit dem Laserstrahl, um das Ausleseinformationssignal auf der optischen Platte aufzuzeichnen. Ein Testsignal wird an einer Stelle der optischen Platte in der Nähe der Aufzeichnungsstelle mit Hilfe des optischen Kopfs während des Einschreibens des Informationssignals in den Speicher aufgezeichnet. Das Testsignal wird von der optischen Platte wiederhergestellt. Das wiederhergestellte Testssignal wird bewertet, um ein Bewertungsergebnis zu erzeugen. Eine Laserstrahlintensität wird als Antwort auf das Bewertungsergebnis optimiert.

Claims

Vorrichtung zur Aufzeichnung und Wiedergabe eines Informationssignals auf und von einer optischen Platte (22) mit einer ersten Aufzeichnungsschicht und einer zweiten Aufzeichnungsschicht, wobei die Vorrichtung aufweist: einen Speicher (28, 32); ein erstes Mittel zum Schreiben (SB) des Informationssignals in den Speicher; ein zweites Mittel zum Auslesen (SD) des Informationssignals aus dem Speicher zum Erhalten eines ausgelesenen Informationssignals; einen optischen Kopf (24) zum Erzeugen eines Laserstrahls als Reaktion auf das ausgelesene Informationssignal und Beaufschlagen der optischen Platte mit dem erzeugten Laserstrahl, und dadurch, Aufzeichnen des ausgelesenen Informationssignals auf die optische Platte; ein drittes Mittel zum Aufzeichnen (SIb) von Testsignalen auf aufzeichnungsfähigen Positionen auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte mit dem optischen Kopf; ein viertes Mittel zum Wiedergeben (SId) der Testsignale aus den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte zum Erhalten wiedergegebener Testsignale; ein fünftes Mittel zum Bewerten (SIe) der wiedergegebenen Testsignale zum Erzeugen von Bewertungsergebnissen; ein sechstes Mittel zum Optimieren (SIg) einer Intensität des Laserstrahls als Reaktion auf die Bewertungsergebnisse; und ein siebtes Mittel zum Aufzeichnen von Informationen, die sich auf das Aufzeichnen eines Informationssignals auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen, auf nur die erste Aufzeichnungsschicht der optischen Platte.
Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Informationen, die sich auf das Aufzeichnen eines Informationssignals auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen, einen Namen eines Herstellers einer Vorrichtung zum Implementieren der Signalaufzeichnung auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte darstellen.
Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Informationen, die sich auf das Aufzeichnen eines Informationssignals auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen, einen Namen eines Herstellers und eine Herstellungslosnummer einer Vorrichtung zum Implementieren der Signalaufzeichnung auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte darstellen.
Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Informationen, die sich auf das Aufzeichnen eines Informationssignals auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen, Informationen umfassen, die sich auf ein Testaufzeichnen durch eine Vorrichtung zum Implementieren der Signalaufzeichnung auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen.
Verfahren des Aufzeichnens und Wiedergebens eines Informationssignals auf und von einer optischen Platte (22) mit einer ersten Aufzeichnungsschicht und einer zweiten Aufzeichnungsschicht, wobei das Verfahren die Schritte aufweist: Schreiben des Informationssignals in einen Speicher (28, 32); Auslesen des Informationssignals aus dem Speicher, zum Erhalten eines ausgelesenen Informationssignals; Erzeugen eines Laserstrahls als Reaktion auf das ausgelesene Informationssignal und Beaufschlagen der optischen Platte mit dem erzeugten Laserstrahl, und dadurch, Aufzeichnen des ausgelesenen Informationssignals auf die optische Platte; Aufzeichnen von Testsignalen auf aufzeichnungsfähigen Positionen auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte; Wiedergeben der Testsignale aus den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte zum Erhalten wiedergegebener Testsignale; Bewerten der wiedergegebenen Testsignale zum Erzeugen von Bewertungsergebnissen; Optimieren der Intensität des Laserstrahls als Reaktion auf die Bewertungsergebnisse; und Aufzeichnen von Informationen, die sich auf das Aufzeichnen eines Informationssignals auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen, auf nur die erste Aufzeichnungsschicht der optischen Platte.
Verfahren nach Anspruch 5, wobei die Informationen, die sich auf das Aufzeichnen eines Informationssignals auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen, einen Namen eines Herstellers einer Vorrichtung zum Implementieren der Signalaufzeichnung auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte darstellen.
Vorrichtung nach Anspruch 5, wobei die Informationen, die sich auf das Aufzeichnen eines Informationssignals auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen, einen Namen eines Herstellers und eine Herstellungslosnummer einer Vorrichtung zum Implementieren der Signalaufzeichnung auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte darstellen.
Vorrichtung nach Anspruch 5, wobei die Informationen, die sich auf das Aufzeichnen eines Informationssignals auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen, Informationen umfassen, die sich auf ein Testaufzeichnen durch eine Vorrichtung zum Implementieren der Signalaufzeichnung auf den ersten und zweiten Aufzeichnungsschichten der optischen Platte beziehen.