DE03721803T1 - Verfahren zur verwendung von flash-speicher zur speicherung von zählerdaten - Google Patents
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Abstract
Verfahren
zum Speichern von Meßgerät-Daten,
umfassend die Schritte:
Vorsehen einer Vielzahl zugeordneter Speicherstrukturen, wobei die Vielzahl von Speicherstrukturen mindestens eine mehrsegmentige Festspeicherstruktur und mindestens eine zusätzliche zugeordnete Speicherstruktur umfaßt;
Messen einer Vielzahl von durch den Anwendungsanbieter definierten Meßdaten;
Erfassen der Anwesenheit neu gewonnener bzw. aktualisierter Meßdaten;
Bestimmen eines Segments der mindestens einen Festspeicherstruktur, in welchem die neu gewonnenen bzw. aktualisierten Meßdaten gespeichert werden sollen;
Einlesen der Daten aus dem Festspeicherstruktursegment aus dem Bestimmungsschritt in die zugeordnete Speicherstruktur;
Ändern ausgewählter Daten in der zugeordneten Speicherstruktur;
Löschen des Segments der Festspeicherstruktur, welches in dem Schritt des Einlesens der Daten verschoben wurde; und
Neueinschreiben der geänderten Daten aus der zugeordneten Speicherstruktur in das gelöschte Segment der Festspeicherstruktur.
Vorsehen einer Vielzahl zugeordneter Speicherstrukturen, wobei die Vielzahl von Speicherstrukturen mindestens eine mehrsegmentige Festspeicherstruktur und mindestens eine zusätzliche zugeordnete Speicherstruktur umfaßt;
Messen einer Vielzahl von durch den Anwendungsanbieter definierten Meßdaten;
Erfassen der Anwesenheit neu gewonnener bzw. aktualisierter Meßdaten;
Bestimmen eines Segments der mindestens einen Festspeicherstruktur, in welchem die neu gewonnenen bzw. aktualisierten Meßdaten gespeichert werden sollen;
Einlesen der Daten aus dem Festspeicherstruktursegment aus dem Bestimmungsschritt in die zugeordnete Speicherstruktur;
Ändern ausgewählter Daten in der zugeordneten Speicherstruktur;
Löschen des Segments der Festspeicherstruktur, welches in dem Schritt des Einlesens der Daten verschoben wurde; und
Neueinschreiben der geänderten Daten aus der zugeordneten Speicherstruktur in das gelöschte Segment der Festspeicherstruktur.
Claims (21)
- Verfahren zum Speichern von Meßgerät-Daten, umfassend die Schritte: Vorsehen einer Vielzahl zugeordneter Speicherstrukturen, wobei die Vielzahl von Speicherstrukturen mindestens eine mehrsegmentige Festspeicherstruktur und mindestens eine zusätzliche zugeordnete Speicherstruktur umfaßt; Messen einer Vielzahl von durch den Anwendungsanbieter definierten Meßdaten; Erfassen der Anwesenheit neu gewonnener bzw. aktualisierter Meßdaten; Bestimmen eines Segments der mindestens einen Festspeicherstruktur, in welchem die neu gewonnenen bzw. aktualisierten Meßdaten gespeichert werden sollen; Einlesen der Daten aus dem Festspeicherstruktursegment aus dem Bestimmungsschritt in die zugeordnete Speicherstruktur; Ändern ausgewählter Daten in der zugeordneten Speicherstruktur; Löschen des Segments der Festspeicherstruktur, welches in dem Schritt des Einlesens der Daten verschoben wurde; und Neueinschreiben der geänderten Daten aus der zugeordneten Speicherstruktur in das gelöschte Segment der Festspeicherstruktur.
- Verfahren nach Anspruch 1, wobei die mindestens eine mehrsegmentige Festspeicherstruktur einen Blitzspeicher umfaßt.
- Verfahren nach Anspruch 2, wobei die mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur aus der Gruppe ausgewählt ist, welche aus einem EPROM, einem EEPROM, einem Ferro-RAM, einem Shadow-RAM und einem batteriegestützten RAM besteht.
- Verfahren nach Anspruch 1, wobei die anmeldungsanbieterdefinierten Meßdaten Informationen umfassen, welche mindestens entweder Ladeprofilen, Energiedaten, Verwendungszeitdaten, Informationsdaten oder Fehler- bzw. Ereignisaufzeichnungen entsprechen.
- Verfahren nach Anspruch 2, ferner umfassend den Schritt: Vergleichen der Daten aus dem Festspeicherstruktursegment des Bestimmungsschritts mit den neu gewonnenen bzw. aktualisierten Meßdaten, wodurch die ausgewählten Daten in dem zugeordneten Speicher, welche in dem Änderungsschritt geändert werden sollen, bestimmt werden.
- Verfahren nach Anspruch 2, wobei der Festblitzspeicher ein Ringspeicher ist und wobei der Schritt des Bestimmens eines Segments des Blitzspeichers, in welchem die neu gewonnenen bzw. aktualisierten Daten gespeichert werden sollen, eine Funktion des Lesens des nächsten nachfolgenden Segments des Ringblitzspeichers ist.
- Verfahren zur Erhaltung von Meßdaten bei einem Energieausfall eines Anwendungsmeßgeräts, wobei die Meßdaten in mindestens einer Speicherstruktur gespeichert werden, welche in Verbindung mit dem Anwendungsmeßgerät vorgesehen ist, wobei das Verfahren die Schritte umfaßt: Vorsehen einer Vielzahl von Speicherstrukturen, wobei die Vielzahl von Speicherstrukturen mindestens eine mehrsegmentige Festspeicherstruktur und mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur umfaßt; Erfassen eines drohenden Energieausfalls eines Meßgeräts; Lesen sämtlicher zuvor gewonnenen Meßdaten, welche in der mindestens einen zugeordneten Speicherstruktur gespeichert werden; Neueinschreiben der zuvor gewonnenen Meßdaten in die mindestens eine mehrsegmentige Festspeicherstruktur; Prüfen einer Wiederherstellung der Energie; Neueinspeichern der zuvor gewonnenen Meßdaten aus der mindestens einen mehrsegmentigen Festspeicherstruktur in die mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur bei einer Wiederherstellung der Energie für das Anwendungsmeßgerät; und Löschen der zuvor gewonnenen Meßdaten aus der mindestens einen mehrsegmentigen Festspeicherstruktur.
- Verfahren nach Anspruch 7, wobei die mindestens eine mehrsegmentige Festspeicherstruktur einen Blitzspeicher umfaßt.
- Verfahren nach Anspruch 8, wobei die mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur aus der Gruppe ausgewählt ist, welche aus einem EPROM, einem EEPROM, einem Ferro-RAM, einem Shadow-RAM und einem batteriegestützten RAM besteht.
- Verfahren nach Anspruch 8, ferner umfassend den Schritt: Vorsehen einer Einrichtung zum Erfassen eines drohenden Energieverlusts und einer Wiederherstellung der Energie für die Speicherstrukturen.
- Verfahren zur Speicherung, Änderung und Erhaltung von Anwendungsmeßdaten, welches Schritte zum Schützen von Daten in Perioden, in welchen die Energie eines Meßgeräts ausfällt, umfaßt, wobei das Verfahren die Schritte umfaßt: (a) Vorsehen einer Vielzahl von Speicherstrukturen, wobei die Vielzahl von Speicherstrukturen mindestens eine Festspeicherstruktur und mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur umfaßt; (b) Messen von durch den Anwendungsanbieter definierten Meßdaten; (c) Prüfen eines drohenden Energieausfalls eines Meßgeräts und Springen zu Schritt (j) bei einem Scheitern des Erfassens eines drohenden Energieausfalls des Meßgeräts; (d) Einlesen sämtlicher zuvor gewonnener Meßdaten in die mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur; (e) Neueinschreiben der zuvor gewonnenen Meßdaten in die mindestens eine Festspeicherstruktur; (f) Prüfen einer Wiederherstellung der Energie und Wiederholen von Schritt (f), bis ein positiver Hinweis darauf erhalten wird; (g) Neueinspeichern der zuvor gewonnenen Meßdaten aus der mindestens einen Festspeicherstruktur in die mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur bei einer Wiederherstellung der Energie für die Vielzahl von Speicherstrukturen; (h) Löschen eines Teils des mindestens einen mehrsegmentigen Festspeichers, um zu ermöglichen, daß neue Daten darin eingeschrieben werden; (i) Zurückkehren zu Schritt (c); (j) Prüfen der Anwesenheit neu gewonnener bzw. aktualisierter Meßdaten und Springen zu Schritt (c) bei einem Scheitern, die neu gewonnenen bzw. Meßdaten zu erfassen; (k) Bestimmen des Segments der mindestens einen Festspeicherstruktur, welche die zuvor gewonnenen Meßdaten umfaßt, welche eine Ersetzung bzw. Aktualisierung benötigen; (l) Einlesen des Festspeicherstruktursegments in die zugeordnete Speicherstruktur; (m) Ändern der zuvor gewonnenen Meßdaten in der zugeordneten Speicherstruktur; (n) Löschen der zuvor gewonnenen Meßdaten aus dem Segment der Festspeicherstruktur; (o) Neueinschreiben der neu gewonnenen bzw. aktualisierten Meßdaten in das gelöschte Segment der Festspeicherstruktur; und (p) Wiederholen von Schritt (c).
- Verfahren nach Anspruch 11, wobei die mindestens eine Festspeicherstruktur einen Blitzspeicher umfaßt.
- Verfahren nach Anspruch 12, wobei die mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur aus der Gruppe ausgewählt ist, welche aus einem EPROM, einem EEPROM, einem Ferro-RAM, einem Shadow-RAM und einem batteriegestützten RAM besteht.
- Verfahren nach Anspruch 11, wobei die durch den Anwendungsanbieter definierten Meßdaten mindestens entweder Ladeprofile, Energiedaten, Verwendungszeitdaten, Informationsdaten oder Fehler- bzw. Ereignisaufzeichnungen umfassen.
- Verfahren nach Anspruch 12, wobei der Festblitzspeicher ein Ringspeicher ist und wobei die Bestimmung des Segments des Blitzspeichers, welches die zuvor gewonnenen Meßdaten enthält, welche eine Aktualisierung benötigen, eine Funktion des Lesens des nächsten nachfolgenden Segments des Ringblitzspeichers ist.
- Verfahren nach Anspruch 12, ferner umfassend den Schritt: Vorsehen einer Einrichtung zum Erfassen eines Energieausfalls und einer Wiederherstellung der Energie für die Speicherstrukturen.
- Verfahren nach Anspruch 12, ferner umfassend den Schritt: Kennzeichnen der neu gewonnenen bzw. aktualisierten Meßdaten im Hinblick darauf, ob diese eine Änderung der zuvor gewonnenen Meßdaten erforderlich machen oder nicht erforderlich machen.
- Verfahren nach Anspruch 17, wobei die Kennzeichnung auf einem Vergleich der zuvor gewonnenen Meßdaten und der neu gewonnenen bzw. aktualisierten Meßdaten basiert und in dem Fall, daß die zuvor gewonnenen und die neu gewonnenen Meßdaten identisch sind, keine Änderung der Daten erforderlich ist.
- Verfahren zur Speicherung, Änderung und Erhaltung von Anwendungsmeßdaten, welches Schritte zum Schützen von Daten in Perioden, in welchen die Energie eines Meßgeräts ausfällt, umfaßt, wobei das Verfahren die Schritte umfaßt: (a) Prüfen eines drohenden Energieausfalls eines Meßgeräts und Springen zu Schritt (f), wenn keine derartige Störung erfaßt wird; (b) Kopieren sämtlicher zuvor gewonnener Meßdaten aus einer zugeordneten Speicherstruktur in eine Festspeicherstruktur; (c) Prüfen einer Wiederherstellung der Energie für das Meßgerät, bis ein positiver Hinweis der Wiederherstellung der Energie erfaßt wird; (d) Neueinspeichern sämtlicher zuvor gewonnenen Meßdaten in die zugeordnete Speicherstruktur; (e) Zurückkehren zu Schritt (a); (f) Prüfen im Hinblick auf neu gewonnenen bzw. aktualisierte Daten und Springen zu Schritt (c), wenn kein derartiger Hinweis erfaßt wird; (g) Einlesen der zuvor gewonnenen Meßdaten in die zugeordnete Speicherstruktur; (h) Ändern der zuvor gewonnenen Meßdaten; (i) Neueinschreiben der neu gewonnenen bzw. aktualisierten Meßdaten in die Festspeicherstruktur; und (j) Wiederholen von Schritt (a).
- Verfahren nach Anspruch 19, wobei die mindestens eine mehrsegmentige Festspeicherstruktur einen Blitzspeicher umfaßt.
- Verfahren nach Anspruch 20, wobei die mindestens eine zugeordnete Speicherstruktur aus der Gruppe ausgewählt ist, welche aus einem EPROM, einem EEPROM, einem Ferro-RAM, einem Shadow-RAM und einem batteriegestützten RAM besteht.
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