$108.00
Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten: Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS (German Edition).
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Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten: Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS (German Edition).
Zur Bestimmung der chemischen Bindungen wurden Messungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS durchgeführt. Die TXRF-NEXAFS-Messungen wurden am PGM-Strahlrohr für ...
| Ausstattung / Beilage: Paperback | Sprache: Deutsch | Seiten: 128 | Maße: 220 x 150 x 9 mm | Erschienen: 24.10.2015 | Anbieter: Cellestria.
€69.90
| Ausstattung / Beilage: Paperback | Sprache: Deutsch | Seiten: 128 | Maße: 220 x 150 x 9 mm | Erschienen: 24.10.2015 | Anbieter: Faboplay.
Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten: Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS. Olaf Baake (Autor) ...
Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten : Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS （2010. 128 S. 220 ...
Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten: Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS O. Baake
Nov 12, 1997 · Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten. Dissertation, Darmstadt 2009. [6] D. X. Balaic, K. A. Nugent, Z ...
Baake; Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten:<br /> ... Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS; ...
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